Главная >> Диссертации - все темы

Pages: |

| 2 |

«АНИЗОТРОПНЫЕ И ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЕ ЭФФЕКТЫ В РЕЗОНАНСНОЙ ДИФРАКЦИИ СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ...»

-- [ Страница 1 ] --

МОСКОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

имени М.В.ЛОМОНОСОВА

ФИЗИЧЕСКИЙ ФАКУЛЬТЕТ

На правах рукописи

ОРЕШКО АЛЕКСЕЙ ПАВЛОВИЧ

АНИЗОТРОПНЫЕ И ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЕ ЭФФЕКТЫ В

РЕЗОНАНСНОЙ ДИФРАКЦИИ СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

Специальность 01.04.07 – физика конденсированного состояния Диссертация на соискание ученой степени доктора физико-математических наук

Научный консультант:

доктор физико-математических наук, доцент Е.Н.Овчинникова Москва –

Введение Глава 1. Резонансное рассеяние рентгеновского синхротронного излучения …………………………………………………………………... §1.1. Тензорный атомный рассеивающий фактор ………………………. §1.2. Анизотропия тензорных атомных рассеивающих факторов ……... §1.3. Чисто резонансные “запрещенные” отражения …………………… §1.4. Схема эксперимента по резонансному рассеянию рентгеновского излучения ………………

§1.5. Методы расчета коэффициента поглощения и атомного рассеивающего фактора резонансного рассеяния рентгеновского излучения ………………………………………………………………….. §1.5.1. Вычисление тензорного атомного рассеивающего фактора в формализме функций Грина ………………………………….. §1.5.2. Построение кластерного потенциала ……………………......... §1.5.3. Алгоритм расчета спектров поглощения и дифракции ……... §1.5.4. Программы для расчета спектров поглощения и дифракции. §1.5.4.1. Программный комплекс FDMNES ……………………… Глава 2. Динамическая теория резонансной дифракции рентгеновского излучения …………………………………………………………… §2.1. Основная система динамических уравнений …………………........ §2.2. Динамическая теория резонансной дифракции рентгеновского излучения в геометрии Брэгга ……………………………………… §2.3. Динамическая теория резонансной дифракции рентгеновского излучения в геометрии Лауэ. Эффект Бормана …………………… §2.4. Основные результаты и выводы ……………………………………. Глава 3. “Запрещенные” отражения в кристалле германия …..…………… §3.1. Экспериментальное наблюдение “запрещенных” отражений в кристалле германия ………………………………………………….. -2Феноменологическое описание термоиндуцированных отражений в кристалле германия …………………………………………... §3.3. Численное моделирование температурной зависимости и спектров термоиндуцированных отражений в кристалле германия ….. §3.4. Численное моделирование температурной и энергетической зависимости “запрещенных” отражений в кристалле германия первопринципными методами ………………………………………….. §3.5. Интерференция резонансного и нерезонансного вкладов в рассеяние рентгеновского излучения в кристалле германия ………… §3.6. Основные результаты и выводы ……………………………………. Глава 4. “Запрещенные” отражения в кристаллах со структурой вюрцита §4.1. Экспериментальное наблюдение “запрещенных” отражений в оксиде цинка и нитриде галлия со структурами вюрцита ………... §4.2. Феноменологическое описание резонансного рассеяния рентгеновского излучения в кристаллах типа вюртцита...………………. §4.3. Полуфеноменологическое описание температурной зависимости “запрещенных” отражений в w-ZnO ……………………………….. §4.4. Вклад в чисто резонансные отражения рентгеновского излучения в вюртцитах, обусловленный точечными дефектами ………... §4.5. Вклад в чисто резонансные отражения рентгеновского излучения в вюрцитах, обусловленный деформациями кристалла ……… §4.6. Численное моделирование температурной и энергетической зависимости чисто резонансного отражения 115 в кристале w-ZnO. §4.6.1 Модель изотропных колебаний ……………………………….. §4.6.2 Учет температурно-независимого и температурно-зависимого вкладов в структурную амплитуду отражения 115 в кристалле w-ZnO ………………………………………………….... §4.7. Вычисление корреляционных функций смещений атомов в кристалле w-ZnO ………………………………………………………… -3Сравнение “запрещенных” отражений в кристаллах w-ZnO и wGaN ………

§4.9. Моделирование температурной и энергетической зависимости интенсивности “запрещенных” отражений в кристаллах w-ZnO и w-GaN из первых принципов ……………………………………….. §4.10. Основные результаты и выводы …………………………………... Глава 5. Резонансная дифракция рентгеновского излучения в кристаллах со структурой граната ……………………………………………... §5.1. Чисто резонансные отражения в кристаллах гранатов …………… §5.2. Экспериментальное наблюдение чисто резонансных отражений в кристаллах иттрий-алюминиевого и железо-иттриевого гранатов. §5.3. Моделирование спектров поглощения в кристаллах YAG и YIG.. §5.4. Моделирование “запрещенных” отражений в кристалле YIG …… §5.6. Определение положения атомов примеси в гранатах при помощи В настоящей работе представлены результаты исследований, выполненных автором на кафедре физики твердого тела физического факультета МГУ имени М.В.Ломоносова в период с 2003 по 2013 г.г.

Диссертация посвящена теоретическому исследованию явлений, возникающих при резонансной дифракции рентгеновского синхротронного излучения в кристаллах, обладающих локальной анизотропией, а так же в средах, в которых локальная анизотропия индуцирована деформацией кристалла, тепловыми колебаниями атомов или точечными дефектами.

Актуальность темы диссертации Исследования атомно-кристаллической структуры и ее искажений, магнитной структуры и электронных состояний являются важнейшими задачами физики конденсированного состояния, поскольку именно эти характеристики определяют основные физические свойства материалов. Дифракция рентгеновского излучения (РИ), нейтронов и электронов являются традиционными методами, которые дают информацию о кристаллической и магнитной структуре кристаллов (дальний порядок) [1-19].

Однако в последние три десятилетия появились новые, резонансные методы, основанные на изучении прохождения и дифракции рентгеновского излучения с энергией, близкой к краю поглощения какого-либо элемента, входящего в состав исследуемого материала [20-38]. Актуальность изучения рентгеновских резонансных методов обусловлена тем, что они являются еще более чувствительными по сравнению с известными традиционными методами и дают информацию не только о пространственном распределении электронной или спиновой плотности (дальний порядок), но и о локальном окружении резонансного рассеивающего атома (ближний порядок). Изучение локальной атомной структуры вещества в свою очередь важно как с фундаментальной точки зрения для понимания физических свойств и физико-химических процессов, так и для прикладных исследований как базис для создания новых материалов с требуемыми свойствами, например, материалов для наноэлектроники или катализаторов химических реакций.

Практическая реализация методов резонансной дифракции неразрывно связана с использованием синхротронного излучения (СИ) в рентгеновской области спектра [37, 39-47]. Во-первых, большая яркость современных источников синхротронного излучения (яркость синхротронов 3-го поколения примерно на 13 порядков превышает яркость рентгеновской трубки с вращающимся анодом [48]) дает возможность наблюдения достаточно слабых эффектов за разумное время эксперимента. Во-вторых, источники синхротронного излучения обладают непрерывным спектром от инфракрасной до рентгеновской области спектра электромагнитных волн, что позволяет в широких пределах варьировать длину волну используемого излучения, “настраиваясь” на резонансные исследования строго определенных химических элементов. В-третьих, высокая степень поляризации синхротронного излучения позволяет выполнять поляризационные измерения в рассеянном излучении, что очень важно для изучения анизотропных свойств среды [49]. Использование ондуляторов позволило также создавать кругополяризованное рентгеновское излучение, необходимое для изучения некоторых фундаментальных свойств конденсированных сред, например, магнетизма [18, 37] и киральности [50, 51].

В рентгеновской спектроскопии вблизи краев поглощения атомов вещества, когда резонансный переход осуществляется из начального состояния электрона на внутренней оболочке в незанятое состояние в валентной оболочке, это проявляется в наличии тонкой структуры зависимости коэффициента поглощения от энергии падающего излучения, которую разделяют на дальнюю (Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS) ~ 50-1000 эВ выше края поглощения) и ближнюю (X-ray Absorption Near Edge Structure (XANES) – до 30эВ выше края поглощения) [19-27]. Эта тонкая структура зависит от того, в каком веществе находится резонансный атом и определяется дискретным состоянием валентных электронов, однако содержит вклады сразу от многих процессов, в том числе и нерезонансных [23, 26]. Существенно то, что в рентгеновской спектроскопии начальное состояние не подвержено влиянию атомного окружения и определяется типом края поглощения. Именно в этом и состоит кардинальное отличие от оптической спектроскопии, где переходы осуществляются между состояниями в валентной зоне.

При симметрии окружения резонансного атома ниже кубической в зависимостях коэффициента поглощения от энергии падающего излучения (т.е.

спектрах поглощения) возникает явление линейного дихроизма (т.е. различие коэффициентов поглощения ортогональных линейно поляризованных волн), которое отражает анизотропию резонансного взаимодействия рентгеновского излучения с веществом [25, 52, 53]. Рентгеновская оптика, таким образом, оказывается является анизотропной и, подобно оптике видимого диапазона, в ней наблюдаются такие явления, как линейный и круговой дихроизм, двулучепреломление, гиротропия и др [35]. Эти свойства резко усиливаются при энергиях падающего излучения, близких к краям поглощения отдельных элементов в исследуемом веществе, т.е. в условиях резонанса. В связи с этим в геометрии пропускания широкое распространение получили такие методы исследования как рентгеновский магнитный круговой дихроизм (X-ray magnetic circular dichroism – XMCD), рентгеновский магнитный линейный дихроизм (X-ray magnetic linear dichroism – XMLD), рентгеновский естественный круговой дихроизм (X-ray natural circular dichroism – XNCD), рентгеновский магнитокиральный дихроизм (X-ray magnetochiral dichroism – XMD)[6,16,18,37,50,52-63].

Более информативными для исследования резонансных вкладов являются методы, основанные на дифракции рентгеновского излучения, так как существуют отражения, вклады в которые в отдельных частях спектра дают только определенные резонансные переходы. Это стимулировало развитие таких методов исследования, как метод резонансного рассеяния рентгеновского излучения (Resonant X-Ray Scattering – RXS или Resonant Elastic X-Ray Scattering – REXS или Diffraction Anomalous Near Edge Structure – DANES) [18, 31, 37, 38, 64, 65] и метод тонкой структуры аномальной дифракции (Diffraction Anomalous Fine Structure – DAFS) [28, 29, 31, 33, 66]. В настоящей работе рассматриваются анизотропные свойства рассеяния рентгеновского излучения связанными электронами, таким образом, под резонансной дифракцией рентгеновского синхротронного излучения будет подразумеваться дифракция в области энергий порядка 10-20 эВ вблизи края поглощения.

Особое место в экспериментах по резонансному рассеянию рентгеновского излучения занимает изучение так называемых чисто резонансных или “запрещенных” отражений, которые не содержат вклада от нерезонансных упругих процессов [32, 34, 35, 40, 67]. В действительности, эти отражения запрещены симметрией системы при дифракции излучения, энергия которого далека от энергии краев поглощения элементов, входящих в состав исследуемого вещества, но могут стать разрешенными при энергии падающего излучения вблизи краев поглощения из-за того, что в условиях резонансного взаимодействия рассеяние рентгеновского излучения становится анизотропным. Условием для возникновения анизотропии резонансного рассеяния рентгеновского излучения является расщепление валентных электронных состояний из-за взаимодействия с эффективным кристаллическим полем, спин-орбитального взаимодействия и других причин. Исследование разнообразных “запрещенных” отражений ведется на источниках синхротронного излучения с 80-х годов прошлого столетия.

Поскольку нерезонансный вклад в такие отражения подавлен, их энергетическая структура отражает искажение электронных уровней в среде.

К настоящему времени изучены “запрещенные” отражения в нескольких десятках кристаллов. Их физическая природа достаточно разнообразна, но во всех этих случаях “запрещенные” отражения были вызваны какой-либо одной причиной [40]. Однако в последнее время появляется все больше исследований [67], где для возникновения “запрещенных” отражений существует две и более причины, а свойства таких отражений обусловлены интерференцией излучения, рассеяного через разные каналы, соответствующие нескольким анизотропным факторам. Эти отражения пока еще недостаточно изучены, а развитие теории, адекватно описывающей такие случаи, и является целью настоящей работы.

Так как в методах RXS и DAFS атомный рассеивающий фактор оказывается существенно зависящим от окружения резонансного атома, это существенно усложняет его вычисления, можно говорить о том, что феноменологическое рассмотрение, используемое в работах по резонансной дифракции синхротронного излучения и основанное на симметрийных свойствах исследуемой системы [32, 34, 35, 40, 67], до настоящего времени является наиболее простым путем изучения явлений в области DANES.

Феноменологическое рассмотрение является достаточно эффективным, однако для количественной интерпретации экспериментальных данных требуется численное моделирование процесса резонансного рассеяния рентгеновского излучения. При построении микроскопической теории резонансного анизотропного рассеяния существует ряд трудностей, обусловленных в основном необходимостью введения в задачу электронных состояний и потенциалов, описывающих возбужденное состояние системы [26, 37, 38]. Определенные шаги в направлении численного моделирования “запрещенных” отражений сделаны в работах как зарубежных, так и российских ученых [67], тем не менее, в этой области существует достаточно много “белых пятен”. В связи с этим в диссертации была поставлена задача: разработка и апробация подходов, позволяющих проводить численное моделирование различных резонансных вкладов в чисто резонансные отражения.

Принципиальным допущением существующей теории резонансного рассеяния рентгеновского излучения является использование кинематического приближения теории дифракции для интерпретации полученных экспериментальных данных. Использование кинематического приближения оправдано тем фактом, что при энергии падающего излучения, близкой к краю поглощения, величина коэффициента поглощения резко увеличивается и, тем самым, уменьшается глубина проникновения излучения в вещество [68-72].

Однако, в 2008 году [73-76] экспериментально была показана возможность возникновения при резонансной дифракции рентгеновского излучения в совершенных кристаллах динамического эффекта аномального прохождения, аналогичного эффекту Бормана в динамической дифракции рентгеновского из- прохождения -квантов, резонансно взаимодействующих с ядрами в кристалле.

Открытие чисто динамического эффекта в резонансной дифракции рентгеновского излучения в свою очередь вызвало необходимость как развития динамической теории, так и обоснования правомочности использования самого кинематического приближения для описания резонансной дифракции РИ.

Актуальность настоящего исследования определяется необходимостью развития теоретических представлений в области анизотропной резонансной дифракции рентгеновского излучения для дальнейшего успешного продвижения новых методов изучения электронных состояний кристаллов с учетом особенностей ближнего упорядочения.

Цель работы состояла в создании теоретических методов исследования резонансной дифракции рентгеновского синхротронного излучения. Решение этой задачи потребовало:

1. Обоснования условий применимости кинематического приближения для описания резонансной дифракции рентгеновского излучения в кристаллах.

2. Изучения влияния статической деформации, тепловых колебаний атомов и статистических дефектов, вызывающих дополнительную локальную анизотропию тензорного атомного рассеивающего фактора, на резонансную дифракцию рентгеновского излучения.

3. Развития метода определения абсолютной величины и фазы резонансной структурной амплитуды на основе рассмотрения интерференции резонансного и нерезонансного вкладов в рассеяние рентгеновского излучения.

4. Исследования интерференционной структуры “запрещенных” отражений в кристаллах, в которых резонансные атомы занимают кристаллографически неэквивалентные позиции, а также возможности разделения вкладов от различных позиций.

вкладов в “запрещенные” отражения.

6. Подтверждения развитой теории путем сравнения полученных на ее основе результатов и выводов с данными экспериментальных исследований.

Научная новизна. Основные существенно новые результаты состоят в следующем. В работе впервые:

1. Развита двухволновая компланарная динамическая теория резонансной дифракции рентгеновского излучения в анизотропных кристаллических 2. Обоснована применимость кинематического приближения теории дифракции в резонансной дифракции рентгеновского излучения.

3. Развита методика численного моделирования энергетических спектров “запрещенных” отражений, основанная на первопринципных квантовомеханических расчетах, и учитывающая влияние температуры и других анизотропных факторов.

4. Показано, что атомные смещения (статическая деформация и статистически распределенные дефекты) и неупорядоченность мгновенных атомных конфигураций (тепловые колебания) приводят к искажениям локальной симметрии окружения резонансных атомов и, как следствие, к появлению дополнительной анизотропии резонансного рассеяния рентгеновского излучения.

5. Предсказано появление различных типов чисто резонансных отражений, обусловленных рассеянием отдельно на разных кристаллографически неэквивалентных подрешетках резонансных атомов.

6. Развит метод определения абсолютной величины и фазы термоиндуцированного резонансного вклада в атомный рассеивающий фактор на основе анализа интерференционной структуры спектров “запрещенных” отражений при различных температурах. Метод апробирован на примере “запрещенного” отражения 222 в кристалле германия.

В диссертации сформулированы и обоснованы научные положения и выводы, совокупность которых представляет новое научное направление: рентгеновская резонансная дифракционная спектроскопия электронных и фононных состояний в локально анизотропных средах.

Достоверность представленных в диссертационной работе результатов подтверждается соответствием результатов теоретических исследований и численных расчетов с данными физических экспериментов, а так же с теоретическими расчетами и экспериментальными данными, полученными в работах других авторов.

Научная и практическая значимость работы Полученные в диссертационной работе результаты дают возможность дальнейшего развития теоретических и экспериментальных методов исследования структурных и электронных свойств кристаллов на основе резонансной дифракции рентгеновского синхротронного излучения.

Практически могут быть использованы:

1. Общие выражения для коэффициентов прохождения и дифракционного отражения рентгеновского излучения, полученные в рамках разработанной динамической теории резонансной дифракции рентгеновского излучения в анизотропных средах;

2. Метод численного моделирования спектров “запрещенных” отражений с учетом влияния температуры и других анизотропных факторов;

3. Метод изучения возмущенных электронных валентных состояний, возникающих в результате атомных смещений и других анизотропных факторов;

4. Метод исследования электронных состояний кристаллографически неэквивалентных атомных позиций на основе изучения различных “запрещенных” отражений;

5. Метод определения абсолютной величины и фазы резонансного вклада в атомный рассеивающий фактор из интерференционной структуры “запрещенных” отражений.

6. Метод определения кореляционных функций среднеквадратичных относительных смещений атомов из спектров “запрещенных” отражений.

Результаты исследований, вошедших в диссертацию, могут быть использованы и уже используются в работе станций на источниках синхротронного излучения (Курчатовский центр синхротронного излучения и нанотехнологий (КЦСИиНТ) и Сибирский центр синхротронного и терагерцового излучения (СЦСТИ) (Россия), Photon Factory и SPING-8 (Япония), ESRF (Франция), DESY (Германия), Diamond Light Source (Великобритания)) и рентгеновском лазере на свободных электронах (XFEL (Германия)), позволяющих вести работы по резонансной дифракции рентгеновского излучения в кристаллах; при подготовке курсов лекций по применению СИ для студентов и аспирантов.

На защиту выносятся следующие положения 1. Двухволновая динамическая теория резонансной дифракции рентгеновского излучения в компланарной геометрии в анизотропных средах.

2. Доказательство возможности использования кинематического приближения теории дифракции для описания “запрещенных” брэгговских отражений в резонансной дифракции рентгеновского излучения.

3. Методы количественного расчета резонансных вкладов в “запрещенные” отражения, обусловленных деформациями, тепловыми колебаниями и дефектами, том числе: 1) метод, основанный на квантовомеханическом расчете коэффициентов, входящих в феноменологические выражения; 2) метод, основанный на первопринципном моделировании мгновенных атомных конфигураций.

4. Метод определения абсолютной величины и фазы термоиндуцированного резонансного вклада в атомный рассеивающий фактор на основе анализа 5. Метод определения компонент тензорного рассеивающего фактора резонансных атомов в разных кристаллографически неэквивалентных позициях из спектров “запрещенных” отражений, соответствующих каждой из позиций.

6. Доказательство возможности определения корреляционной функции смещений атомов в элементарной ячейке из температурной зависимости спектров интенсивности “запрещенных” отражений.

Апробация работы Основные результаты исследований, представленных в диссертации, докладывались и обсуждались на следующих профильных научных конференциях:

Национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов “РСНЭ” (Москва, 2003; 2007), 12th International Conference on X-Ray Absorption Fine Structure “XAFS-12”. (Malmo, Sweden, 2003), рабочем совещании “Рентгеновская оптика” (Н.Новгород, 2003; 2004), International Workshop on Resonant X-ray Scattering in Electrically-Ordered Systems (Grenoble, France, 2004), 15th International Synchrotron Radiation Conference “SR-2004” (Novosibirsk, Russia, 2004), 11th International Conference on Phonon Scattering in Condensed Matter “Phonon-2004” (St.-Petersburg, Russia, 2004), IVth International School on Magnetism and Synchrotron Radiation (Mittelwihr, France, 2004), Congress of the International Union of Crystallography (IUCr2005 Florence, Italy, 2005; IUCr2008 Osaka, Japan, 2008), Vой Национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования наноматериалов и наносистем “РСНЭ НАНО-2005” (Москва, 2005), Международном научном семинаре “Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия)” (В.Новгород, 2006; 2008; 2011;

2013), International conference “Electron Microscopy and Multiscale Modeling” (Moscow, Russia, 2007), Национальной конференции “Рентгеновское, Синхротронное излучения, Нейтроны и Электроны для исследования наносистем и материалов. Нано-Био-Инфо-Когнитивные технологии” (РСНЭ-НБИК) (Москва, 2009; 2011), III-ей Международной молодежной научной школе-семинаре “Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия)” (В.Новгород, 2011), Сonference on Resonant Elastic X-ray Scattering in Condensed Matter (REXS2011) (Aussois, France, 2011), Школе Петербургского института ядерной физики РАН по физике конденсированного состояния вещества (Гатчина, 2011; 2012; 2013), XIX Национальной конференции по использованию Синхротронного Излучения “СИ-2012” (Новосибирск, 2012).

Материалы диссертации так же представлялись на семинарах кафедры физики твердого тела физического факультета МГУ и Института кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН; как приглашенные лекции на научных международных школах молодых специалистов “Синхротронное излучение. Дифракция и рассеяние” (Новосибирск, 2009; 2010), “Экспериментальные методы синхротронного излучения ” (Новосибирск, 2011).

Публикации Основные результаты диссертации отражены в 61 печатной работе, полностью соответствующих теме диссертации: из них 20 статьей в рецензируемых научных журналах, включенных в перечень ведущих периодических изданий ВАК РФ, 10 статей в сборниках и трудах конференций, тезисы к 28 докладам на конференциях и 3 учебных пособия.

Ряд результатов диссертации включен в курсы лекций “Дифракционный структурный анализ” и “Дифракционный структурный анализ наноматериалов и наносистем”, читаемых для студентов физического факультета МГУ имени М.В.Ломоносова, и вошел в материалы учебных пособий “Дифракционный структурный анализ (Допущено УМО по классическому университетскому образованию РФ в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки 011200 – Физика и по специальности 010701 – Физика)” (А.С.Илюшин, А.П.Орешко – Киров: Издательский Дом “Крепостновъ”, 2013 – 615 с.), “Введение в дифракционный структурный анализ” (А.С.Илюшин, А.П.Орешко – М.: МГУ, физический факультет, 2008. – 336 с.), “Интерференционные явления в резонансной дифракции рентгеновского излучения” (А.П.Орешко, Е.Н.Овчинникова, В.Е.Дмитриенко – МО, Щелково: Изд-ль Мархотин П.Ю., 2012. – 162 с.) и “Численные эксперименты в задачах рентгеновской оптики” (М.А.Андреева, В.А.Бушуев, Е.Н.Овчинникова, А.П.Орешко, И.Р.Прудников, А.Г.Смехова – М.: МГУ, физический факультет, 2005. – 149 с.; Издание 2-е – МО, Щелково:Из-ль Мархотин П.Ю.,2012 – 162 с.).

Личный вклад автора Все изложенные в диссертации оригинальные теоретические и численные результаты получены лично автором, либо при его непосредственном участии.

Постановка задачи, выбор подходов к ее решению и анализ полученных результатов осуществлялись автором. Вклад научного консультанта Е.Н.Овчинниковой (физический факультет МГУ) и В.Е.Дмитриенко (Институт кристаллографии РАН, Москва) состоял в обсуждении используемых подходов и полученных результатов. Экспериментальные данные были получены в результате совместной работы с научными группами на источниках синхротронного излучения ESRF (Гренобль, Франция) – С.П.Коллинз, Д.Лонди, Г.Бютье, Г.Нисбет; Photon Factory (Цукуба, Япония) – К.Ишида, Дж.Кокубун; КЦСИиНТ (Москва) – М.В.Ковальчук, Э.Х.Мухамеджанов, А.Н.Артемьев, Ф.В.Забелин, А.Г.Маевский, М.М.Борисов, А.Н.Морковин; HASYLAB@DESY (Гамбург, Германия) – А.Кирфель; СЦСТИ (Новосибирск) – Б.П.Толочко. Некоторые А.М.Колчинской, А.А.Антоненко, Г.Т.Мулявко, Д.И.Бажановым (физический факультет МГУ); Е.В.Кривицким (ЮФУ, Ростов на Дону); Д.Кабаре (Университет Пьера и Мари Кюри, Париж, Франция). Ряд вычислений был проведен автором с помощью программ FDMNES (автор И.Жоли – Institut Neel, CNRS, Гренобль, Франция) и XKDQ (авторы Р.В.Ведринский, В.Л.Крайзман, А.А.Новакович – ЮФУ, Ростов на Дону). Кристаллы железо-иттриевого граната для экспериментальных исследований были предоставлены В.А.Саркисяном (Институт кристаллографии РАН, Москва).

Структура и объем диссертации Диссертация состоит из введения, 5 глав, заключения и списка литературы.

Работа изложена на 247 страницах и содержит 97 рисунков и 9 таблиц. Список литературы включает 375 наименований.

РЕЗОНАНСНОЕ РАССЕЯНИЕ РЕНТГЕНОВСКОГО

СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

Резонансная дифракция рентгеновского излучения (РИ) является перспективным и интенсивно развивающимся методом исследования свойств кристаллов. Она позволяет исследовать атомно-кристаллическую структуру и ее искажения, электронные состояния, особенности магнитного и орбитального упорядочения вещества [3, 33-35, 80]. Принципиально метод известен достаточно давно [81], однако настоящий интерес к иследованиям в этом направлении возник после работ Платцмана и Тцоара [82], а затем де Бержевина и Брюнеля [83, 84], где была обоснована чувствительность атомной амплитуды рассеяния (АР) (или атомного рассеивающего фактора (АРФ)) РИ к магнитной структуре вещества. Поляризационная зависимость рентгеновских спектров поглощения, исследованная в работах [85, 86], также возникает и в спектрах рассеяния вблизи краев поглощения, что является проявлением анизотропии такого рассеяния. Результатом этой анизотропии, в частности, является возникновение “запрещенных” отражений, которые в случае магнитных кристаллов аналогичны магнитным отражениям, наблюдаемым в магнитной нейтронографии [11]. Первые работы по обнаружению “запрещенных” магнитных отражений были выполнены на лабораторных источниках РИ (рентгеновская трубка) [87], но по-настоящему доступным метод стал благодаря использованию синхротронов в качестве источников излучения, так как они сочетают в себе большую яркость и высокую степень поляризации излучения с возможностью настраиваться на нужную длину волны.

В настоящее время резонансная дифракция РИ реализуется на специально оборудованных станциях СИ, что позволяет проводить поляризационные измерения.

Наибольший интерес представляет измерение зависимости интенсивности рассеянного излучения от энергии падающего излучения (энергетических - 18 спектров или просто спектров отражений) при энергиях, близких к краям поглощения атомов в веществе. При энергии падающего излучения, близкой к энергии, соответствующей краям поглощения атомов исследуемого вещества, наблюдается резкий скачок коэффициента поглощения. При этом зависимость коэффициента поглощения от энергии падающего излучения не является гладкой, а обладает тонкой структурой, которую часто разделяют на дальнюю и ближнюю. Эта тонкая структура зависит от того, в каком веществе и каком окружении находится рассеивающий резонансный атом. В энергетических спектрах дифракционных отражений при энергии падающего излучения, близкой к энергии краев поглощения атомов в исследуемом веществе, также наблюдается тонкая структура, которая является предметом исследований в методах DAFS [28, 29, 31, 33, 66, 88, 89] и DANES [18, 31, 37, 38, 64, 65, 89].

Особое место среди рентгеновских дифракционных резонансных методов занимает изучение “запрещенных” отражений, то есть отражений, которые отсутствуют при энергии падающего излучения, далекой от краев поглощения атомов в исследуемом веществе, но появляются в ближней к краю области (XANES) вследствие расщепления электронных состояний в кристалле. Именно это делает “запрещенные” отражения эффективным способом исследования электронных состояний. Особая чувствительность зависимостей интенсивности “запрещенных” отражений от энергии падающего излучения (спектров “запрещенных” отражений) к искажениям локального окружения резонансных атомов делает этот метод полезным для исследования ближнего порядка в веществе.

В настоящей главе пойдет речь о чисто резонансных “запрещенных”отражениях в немагнитных кристаллах. Эти отражения, впервые предсказанные в [49, 90, 91] и экспериментально обнаруженные в работах [92-97], в настоящее время исследованы в десятках кристаллов и дают очень важную информацию об электронных состояниях, а также их искажениях вследствие тепловых колебаний, дефектов и других факторов.

В традиционных исследованиях по рентгеновской дифракции атомный рассеивающий фактор f0 является скалярной величиной, пропорциональной заряду ядра Z, и зависит от отношения sin/, – длина волны падающего излучения [1-4, 7]. Иногда в литературе для описания взаимодействия РИ с веществом используется понятие тензора восприимчивости, который является изоe тропным тензором 2 ранга (H )ij = F (H )ij, где V – объем элеменV тарной ячейки кристалла, F(H) – структурная амплитуда (СА) (безразмерная величина). В настоящей работе в качестве основных величин, описывающих резонансное рассеяние РИ, будут использоваться АРФ и СА.

Проводимые в два последних десятилетия исследования поглощения и дифракции рентгеновского синхротронного излучения с энергией, близкой к энергии краев поглощения атомов вещества, показали, что восприимчивость и АРФ (СА) содержат дополнительные анизотропные вклады [18, 31, 37, 38], чувствительные к магнитным свойствам кристалла и локальной симметрии положения резонансного атома. Такая ситуация возникает вблизи краев поглощения, т.е. когда энергия падающего излучения близка к величине, необходимой для перехода электрона с внутренней электронной оболочки в незанятые состояния внешних оболочек или в непрерывный спектр.

В результате того, что электронные состояния внешних оболочек подвержены влиянию окружения, спектры поглощения одного и того же атома, помещенного в разные среды, могут быть различны. Ближняя структура спектров поглощения не только зависит от химического состава вещества, но также от его симметрии и от поляризации падающего излучения. Различие коэффициентов поглощения РИ для ортогональных поляризаций является отражением линейного [35, 98] или кругового рентгеновского дихроизма [35, 57, 99].

Резонансная дифракция РИ часто называется аномальной, так как при энергии падающего излучения вблизи края поглощения какого-либо атома исследуемого вещества, проявляется эффект аномальной дисперсии. АРФ вблизи где f0 – нерезонансный томсоновский вклад, пропорциональный электронной плотности, f и f – соответственно действительная и мнимая части дисперсионной поправки [100]. Дисперсионные поправки к АРФ зависят от энергии излучения Е. Мнимая часть f пропорциональна коэффициенту поглощения µ(Е):

f ~ µ(Е) и может быть определена непосредственно из спектров резонансного поглощения. Действительная часть f связана с мнимой f дисперсионными соотношениями Крамерса-Кронига [101] и описывает рассеяние излучения. Дисперсионные поправки активно используются в определении фаз СА, что особенно важно при исследовании биологических молекул.

Тонкая структура наблюдается не только в спектрах поглощения, но и в спектрах дифракционных отражений. Изучение тонкой структуры спектров дифракционных брэгговских отражений составляет основу дифракционных методов DANES и DAFS [28, 33]. В отличие от традиционной рентгеновской дифракции, они дают информацию как о пространственном расположении рассеивателей (дальний порядок), так и о локальном окружении резонансно рассеивающего атома (ближний порядок).

В 80-х годах прошлого столетия было показано, что АРФ РИ содержит еще некоторые анизотропные вклады и может быть представлен в виде [33]:

где f0 – нерезонансный томсоновский вклад, f0 и f0 – добавки, включающие в себя изотропную часть эффектов дисперсии и поглощения (~ 10 –1f0) (см. (1.1)), fijan(E) описывает анизотропное рассеяние РИ (~ 10 – тике именно добавка, связанная с анизотропным членом fijan = fij + ifij отвечает за явления, аналогичные наблюдаемым в оптике видимого диапазона, а именно за двулучепреломление и дихроизм.

Получение выражения для АРФ РИ с учетом всех поправок основано на - 21 рассмотрении гамильтониана взаимодействия излучения с веществом (кристаллом) в виде уравнения Паули [101, 102]:

где Pj – импульс j-го электрона, A(rj) – векторный потенциал электромагнитного поля в точке нахождения заряда, Vij – потенциал взаимодействия частиц в среде, sj – спин j-го заряда, c+(k) и C(k) – операторы рождения и уничтожения фотонов с волновым вектором k и поляризацией. Этот гамильтониан учитывает взаимодействие электромагнитного поля со спином частицы. Однако, в отличие от уравнения Дирака, спин представлен не спинором, а вектором sj. Первые два члена уравнения рассматриваются в обычной теории взаимодействия РИ с веществом. Члены, учитывающие спин, впервые были включены в рассмотрение Платцманом и Тцоаром [82] и более подробно де Бержевином и Брюнелем [83, 84], а также Блюмом [103]. Эти работы положили начало изучению магнитного рассеяния РИ. До них полагалось, что РИ не чувствительно к магнитным свойствам среды. В настоящее время магнитное рассеяние РИ является широко использется для изучения магнитных свойств кристаллов и многослойных структур [104].

Используя (1.3), с помощью теории возмущений для АР фотона с волновым вектором k и длиной волны в [31] было получено выражение:

e j и e – векторы поляризации рассеянного и падающего фотонов, где и ' означают две ортогональные поляризации базисных векторов; Ajkl и Bjkl – тензоры 3 ранга, описывающие орбитальный и спиновый вклады в нерезонансное магнитное рассеяние РИ; j, k и l варьируются по декартовым индексам x, y и z;

pa – вероятность того, что состояние |a не занято, т.е. есть “дырка” выше уровня Ферми; H = k – k' – вектор рассеяния (|H| = 4sin/, где 2 – угол рассеяния); оператор Oj(k):

Первый член выражения (1.4) описывает нерезонансное рассеяние РИ.

Второй член (плюс часть третьего и четвертого), пропорциональный iћ/mc2, отвечает за нерезонансное магнитное рассеяние РИ. Третье слагаемое в скобках отвечает за резонансное рассеяние РИ. Этот член существенно возрастает, когда энергия падающего РИ становится близкой к энергии перехода между уровнями а и с, то есть носит резонансный характер.

Рассмотрим более детально резонансное слагаемое в (1.4). Обычно зависимостью от спина оператора Оj(k) пренебрегают. Пусть произведение krs > a0, где a0 = 2/(me2Z) – радиус первой боровской орбиты атома; б) обычно имеет место соотношение ~ l (Z 25), где l – одна из собственных частот самых глубоких атомных K- или L-уровней, но часто выполняется и другое соотношение >> l; в) все вышележащие электронные уровни атома заняты (исключая, быть может, состояния вблизи границы непрерывного спектра), так что переходы на эти уровни запрещены в силу принципа Паули.

Важно отметить, что так как длины волн РИ соизмеримы с размерами атомов a и с расстояниями между ними в твердом теле, то применяемое обычно в оптике видимого диапазона длин волн усреднение по “физически бесконечно малому объему” (a3 > выражение для интенсивности зарегистрированного (после интегрирования по где µres(E) – поглощение, обусловленное резонансными атомами, µM(E) – поглощение, обусловленное всеми атомами, за исключением резонансного, – угол выхода излучения, – угол падения, f – коэффициент выхода флюоресцентного излучения в телесный угол, а d – толщина исследуемого образца.

Откуда сразу может быть получено выражение для резонансного вклада в коэффициент поглощения [20, 333, 373] При практическом использовании полученных выражений следует отметить, что вдали от краев поглощения коэффициенты поглощения можно считать равными коэффициентам поглощения свободных атомов.

поглощения было проведено при помощи FDMNES с использованием теории многократного рассеяния в приближении muffin-tin потенциала.

Коэффициент поглощения, отн. ед.

Так как в YIG атомы железа занимают две кристаллографически неэквивалентные позиции, то соответствующие им коэффициенты поглощения различны и их волновые функции возбужденного состояния отличаются друг от друга, так как атомы находятся в различных кристаллических полях. Следствием этого является различие в спектрах резонансного поглощения, соответствующих разным позициям. На рис. 5.7 представлены рассчитанные спектры Kкрая поглощения атомов железа в положениях 16(а) и 24(d). Видно, что энергетические зависимости качественно отличаются. Проведенная работа позволяет также утверждать, что вид моделируемых зависимостей сильно зависит от выбора размера области, ограничивающей количество атомов, вовлеченных в резонансное рассеяние. При малом количестве атомов, вовлеченных в процесс резонансного рассеяния, осцилляции в спектре поглощения являются незначительными (для свободного атома они вообще отсутствуют), при увеличении размера рассеивающей области осцилляции становятся четко выраженными, что подтверждает их интерференционную природу. Было установлено, что форма спектров существенно меняется вплоть до достижения радиуса области, равного 8.9 (область включает 255 атомов), а затем меняется незначительно, т.е. данный размер области является оптимальным и именно он в дальнейшем был принят для вычислений.

РИ одновременно всеми атомами железа, моделировались энергетические зависимости коэффициента поглощения от энергии падающего излучения атомами отдельных позиций, а для сравнения с экспериментальными данными вычислялась их сумма. При этом варьировались параметры зависимости ширины электронно-дырочной пары (Е) от энергии, выбирая оптимальную.

Коэффициент поглощения, отн.ед.

экспериментом, т.к. описывает все присутствующие в зависимостях особенности, т.е. ближнюю тонкую структуру.

В отличие от железа, иттрий занимает в структуре YIG только одну позицию. Поэтому моделирование его спектра поглощения состояло в непосредственном подборе оптимальной модели потенциала и функции, описывающей зависимость ширины электронно-дырочной пары. Результаты численного моделирования представлены на рис. 5.9, где оптимальная зависимость (Е) представлена на вставке к рисунку.

Коэффициент поглощения, отн.ед.

структуры коэффициента поглощения вблизи K-краев поглощения железа и иттрия в YIG дало качественное согласие с экспериментальными результатами [203] и позволило подобрать параметры потенциала и зависимость ширины электронно-дырочной пары от энергии, которые в дальнейшем будут использованы при расчете энергетических спектров чисто резонансных отражений.

иттрия в YAG вблизи K-края поглощения иттрия. Результаты моделирования представлены на рис. 5.10 в сравнении с полученными экспериментальными результатами [212]. При этих расчетах использовалась функцию (Е), определяемая выражением (1.20), со следующими параметрами: hole = 4.0 эВ, Ecent = 28 эВ, E = 8 эВ, m = 20 эВ.

флюоресценция, отн. ед.

§ 5.4. Моделирование “запрещенных” отражений в кристалле YIG Для проведения численного моделирования энергетических зависимостей интенсивности “запрещенных” отражений в кристалле железо-итттриевого граната были выбраны два отражения, порожденные резонансным рассеянием РИ на атомах, принадлежащих разным кристаллографическим позициям: отражение 110, обусловленное рассеянием на атомах железа в позиции 16(а) вблизи Kкрая поглощения железа и отражение 600, обусловленное рассеянием на атомах железа в позиции 24(d) и атомах иттрия в позиции 24(c) вблизи K-краев поглощения железа и иттрия соответственно. ТСА этих отражений определяются выражениями (5.4) и (5.3) соответственно. Для удобства при дальнейшем использовании введем обозначения: a1 = 4f216(a) и a2 = f224(d), 24(c) – f124(d), 24(c).

В геометрии рассеяния, соответствующей отражению 110, вектора поляризации падающего (, ) и рассеянного (' =, ') излучения имеют вид:

Тогда Таким образом, для интенсивности отражения 110 получим:

В геометрии рассеяния, отвечающей отражению 600, вектора поляризации падающего (, ) и рассеянного (' =, ') излучения имеют вид:

Соответственно, Таким образом, для интенсивности отражения 600 получим:

В случае неполяризованного излучения интенсивности отражений 110 и 600 для кристалла YIG определяются суммой вкладов I и I, задаваемых соотношениями (5.11) и (5.13) соответственно:

проводить численное вычисление только компоненты I.

Феноменологический подход, позволяет предсказать азимутальную зависимость интенсивности отражений, но не энергетическую. В настоящей работе было проведено численное моделирование энергетической зависимости интегральной (по отстройке от угла Брэгга) интенсивности чисто резонансных “запрещенных” отражений 110 в YIG вблизи K-края поглощения железа и 600 в YIG вблизи K-краев поглощения железа и иттрия для различных значений азимутального угла. Моделирование было проведено на основе теории многократного рассеяния с учетом диполь-дипольного (dd), диполь-квадрупольного (dq) и квадруполь-квадрупольного (qq) вкладов. При вычислениях были использованы параметры кристаллического потенциала и ширины электрон-дырочной пары, подобранные ранее при моделировании поглощения.

Интенсивность отражения 110, отн. ед.

Рис. 5.11. Вклады высших порядков для различных позиций атомов железа в зависимость интегральной интенсивности чисто резонансных отражений (слева) и 600 (справа) в YIG от энергии падающего излучения вблизи K-края поглощения железа.

На рис. 5.11 приведены результаты численного моделирования интегральной (по отстройке от угла Брэгга) интенсивности “запрещенных” отражений 110 и 600 в YIG вблизи K-края поглощения железа.

поглощения также небольшой добавочный вклад сообщает ДК-компонента ТАРФ атомов железа в позиции 24(d). Для “запрещенного” отражения 600 в YIG наибольший вклад в ТСА обусловлен ДД-компонентой ТАРФ атомов железа в позиции 24(d), но перед краем поглощения присутствует также вклад, обусловленный ДК-компонентой ТАРФ атомов железа.

Рис. 5.12. Зависимости интегральной интенсивности “запрещенного” отражения 110 в YIG, вызванные ДД- (слева) и КК-вкладами (справа) в ТСА от атомов железа в позиции 16(a), от энергии падающего излучения вблизи K-края поглощения железа при различных азимутальных углах.

Интенсивность отражения 600, отн. ед.

Рис. 5.13. Зависимость интегральной интенсивности “запрещенного” отражения 600 в YIG, вызванные ДД- (I) (слева), ДК- (I) (в центре) и КК-вкладами (I) (справа) в ТСА от атомов железа в позиции 24(d), от энергии падающего излучения вблизи K-края поглощения железа при различных азимутальных углах.

кристаллографических положениях, для различных азимутальных углов вблизи K-краев поглощения железа и иттрия при различных поляризациях падающего излучения. Из вида этих зависимостей следует, что основной вклад в них обусловлен ДД механизмом рассеянием, а ДК и КК механизмы малы и проявляются только в предкраевой области спектра.

Интенсивность отражения 110, отн. ед.

Интенсивность отражения 600, отн. ед.

Рис. 5.14. Зависимость интегральной интенсивности “запрещенного” отражения 110 (сверху) и 600 (снизу) в YIG, вызванные ДД- (слева) и КК-вкладами (справа) в ТСА от атомов иттрия в позиции 24(c), от энергии падающего излучения вблизи K-края поглощения иттрия при различных азимутальных углах.

энергетической структуры интегральной интенсивности “запрещенных” отражений 110 в YIG вблизи K-края поглощения железа и 600 в YIG вблизи K-краев поглощения железа и иттрия для различных значений азимутального угла. Моделирование проводилось с использованием ДД приближения, а на вставках к рисункам изображены азимутальные зависимости интенсивности отражений.

Для всех отражений интенсивности максимальны при (/2)n и минимальны при соответствии с феноменологическими выражениями (5.14), (5.15).

(сверху) и 600 (снизу) в YIG от энергии падающего излучения вблизи K-края поглощения железа. На вставке показана азимутальная зависимость интенсивности.

Поскольку расчет проводился в ДД приближении, то энергетическая структура спектров “запрещенных” отражений указывает на существование pсостояний в интервале энергий примерно 35 эВ вблизи K-краев поглощения железа и иттрия. Как видно из рис. 5.15 и 5.16, энергетические зависимости интенсивности отражений 110 и 600 в YIG, которые порождаются атомами двух кристаллографически неэквивалентных позиций 16(a) и 24(d) существенно различны. Это подтверждает тот факт, что состояния валентных электронов в кристалле не только отличаются от состояний свободного атома, но и зависят от измерения обсуждаемых отражений пока что не были выполнены.

Следует отметить, что ранее существование “запрещенных” отражений было описано теоретически [371] и установлено экспериментально [366-368] при дифракции мёссбауэровского излучения в кристалле YIG. Сходство методов резонансной дифракции рентгеновского и мессбаэуровского излучений состоит в том, что в обоих случаях проявляются анизотропные свойства рассеяния, и возникают одинаковые наборы “запрещенных” отражений. Однако спектры отражений в обоих методах существенно различаются. Преимуществом резонансной дифракции СИ можно считать то, что “запрещенные” отражения могут наблюдаться на краях поглощения химически различных атомов кристалла, тогда как мессбауэровская дифракция позволяет исследовать только отражения, обусловленные атомами резонансного изотопа.

Наибольший интерес с точки зрения практического применения может представлять исследование “запрещенных” отражений в гранатах, в которых часть атомов железа замещается атомами примесей. В ряде таких структур атомы примесей занимают только одно кристаллографическое положение, в некоторых – распределены по двум положениям. Настроившись на край поглощения примеси, с помощью исследования “запрещенных” отражений можно установить, в какой позиции находятся рассеивающие резонансные атомы. Так, наличие отражений типа hh0 свидетельствует о наличии примеси в позиции 16(а), а h00 – о примеси в позиции 24(d).

§ 5.5. Моделирование “запрещенных” отражений в кристалле YAG Численное моделирование энергетических зависимостей интегральной (по отстройке от угла Брэгга) интенсивности “запрещенных” отражений 13,13, и 14,0,0 в YAG, было проведено при помощи FDMNES как с использованием теории многократного рассеяния в приближении MT-потенциала, так и с помощью метода конечных разностей (FDM). Результаты вычислений квадрата модуля структурной амплитуды отражений 13,13,0 и 14,0,0 приведены на рис.

- 199 При этом параметр элементарной ячейки полагался а = 11.985, а кислород находится в позиции x = –0.3333, y = 0.0515, z = 0.1494 параметра элементарной ячейки. Предварительно для обоих экспериментально измеренных отражений была вычислена величина F (H ) I (H )µ(E ) и в дальнейшем сравнивалась с результатами квантовомеханических расчетов.

|F|213,13,0, отн. ед.

Рис. 5.17. Экспериментальная (точки) и рассчитанные по теории многократного рассеяния (сплошная линия) и методу конечных разностей (пунктирная линия) зависимости квадрата модуля СА отражения 13,13,0 (слева) и 14,0,0 (справа) в YAG от энергии падающего излучения вблизи K-края поглощения иттрия.

Как расчеты с использованием формализма многократного рассеяния, так и более точные расчеты по методу конечных разностей демонстрируют неплохое соответствие модельных и экспериментальных результатов. Неполное совпадение может быть вызвано как неточностями расчетов (например, параметров кристаллического потенциала), так и тем, что, согласно предварительным данным, образец содержал небольшую (~4%) примесь тербия. Расчеты показали, что ДД и КК вклады в ТАРФ малы при энергиях, близких к K-краю поглощения иттрия. Поскольку наблюдаемые отражения можно отнести к ДД, то спектры “запрещенных” отражений описывают плотность р-состояний в области энергий вблизи K-края поглощения иттрия.

атома f3 и f1 – f2. б) действительная и мнимая части компонент ТАРФ резонансного атома f1, f2, а также разности компонент f1 – f2.

На рис. 5.18 показаны рассчитанные с помощью программы FDMNES действительные и мнимые части компонент ТАРФ иттрия, квадрат модуля которых представлен на рис. 5.17. На рис. 5.18б изображена энергетическая зависимость компонент тензора f1 и f2, а также их разность, приведенная на рис.

5.18а. Линейная комбинация (2f1 + f2)/2 – это мнимая часть изотропной части резонансного АРФ (2f1 + f2)/2, которая хорошо описывает коэффициент поглощения, показанный на рис. 5.10.

Таким образом, измеряя два типа дифракционных отражений и коэффициент поглощения, в кристалле YAG удается определить отдельные компоненты резонансной части ТАРФ. В действительности, измеренный образец содержал ~4% примеси тербия. По имеющимся в литературе данным [375] атомы примеси замещают атомы иттрия. Таким образом, на одну элементарную ячейку приходится примерно один атом тербия. Такая степень замещения очень слабо сказывается на ТСА при энергиях вблизи K-края поглощения иттрия, т.е.

для отражений, измеренных на K-крае поглощения иттрия, наличием примеси можно пренебречь. Хотя количество атомов примеси мало, но анизотропия АРФ вблизи L-краев поглощения значительно сильнее, чем вблизи K-краев. Поэтому интерес для будущих исследований представляет измерение тех же запрещенных отражений при энергиях вблизи L-краев поглощения тербия.

“запрещенных” отражений С точки зрения практического применения наибольший интерес может представлять исследование “запрещенных” отражений в гранатах, в которых часть атомов металла (Me) замещается атомами примесей. В принципе, примесь может замещать атомы металла в двух неэквивалентных позициях или иттрий.

В работе [375] с помощью метода стоячих рентгеновских волн было показано, что в иттрий-алюминиевом гранате примесь тербия замещает иттрий.

Рассмотрим возможность определения положений атомов примеси из анализа интегральной интенсивности “запрещенных” отражений в YAG, измеренных при энергиях вблизи края поглощения иттрия или вблизи края поглощения примеси.

Поскольку измерения отражений 13,13,0 и 14,0,0 в YAG были выполнены при энергии падающего излучения вблизи K-края поглощения иттрия, рассмотрим вопрос о влиянии положения атомов примеси на энергетические зависимости интенсивности указанных отражений. В ближайшем окружении атомов иттрия находятся 4 атома кислорода на расстоянии 2.33 и 4 атома кислорода на расстоянии 2.43. В следующих координационных сферах находятся атомы алюминия (на расстоянии 2.49 (атомы позиции 24(d)) и 3.49 (атомы позиции 16(a))), а также атомы иттрия (на расстоянии 3.67 ). Поскольку при замене атома в ближайших координационных сферах на атом примеси ТАРФ иттрия меняется, то, в принципе, энергетический спектр “запрещенных” отражений вблизи K-края поглощения иттрия должен быть чувствителен к замещению. Был проведен расчет тензорных компонент АРФ иттрия при замене одного из ближайших атомов алюминия и иттрия на атомы тербия. Результаты представлены на рис. 5.19. Для наглядности изображены не действительная и мнимая части тензорных компонент АРФ, а квадрат модуля, который сравнивается с квадратом модуля тензорной компоненты АРФ в отсутствии атомов примеси.

|f3|2, отн. ед.

|f1-f2|2, отн. ед.

компонент АРФ резонансного атома f3 и f1 – f2 меняются. Однако в случае малого процента атомов примеси основной вклад в резонансное рассеяние будут давать те атомы иттрия, которые лежат вдали от атомов примеси. Их АРФ такие же, как в чистом YAG и, поскольку точность расчетов не очень велика, то вряд ли можно уверенно определить, какое именно место в элементарной ячейке занимает атом примеси при малых значениях ее концентрации.

Также был проведен расчет тензорных компонент АРФ резонансного атома f3 и f1 – f2 при энергиях падающего излучения, близких к L1-, L2- и L3-краям поглощения тербия. Из табл. 5.1 следует, что в случае замещения атомами примеси атомов алюминия в позиции 16(a), отражение 14,0,0 отсутствует вблизи краев поглощения атомов примеси. Если же такое отражение присутствует, то остается определить, в какой позиции: 24(d) алюминия или же 24(с) иттрия находится примесь. Как следует из табл. 5.1, если примесь атомов тербия находится в позиции 24(d), то отражение 13,13,0 разрешается только благодаря вкладам высших порядков в АРФ, а именно: ДК и КК, так как наибольший, ДД, вклад в ТСА отражения 13,13,0 запрещен. Расчеты показали, что интегральная излучения вблизи L3-края поглощения тербия (наибольшая величина резонансной анизотропии) для случаев, когда атомы тербия замещают атомы иттрия или атомы алюминия. Путем сравнения энергетических зависимостей спектров отражения можно определить, какое именно положение занимает примесь.

|f3|2, отн. ед.

Рис. 5.20. Зависимость квадрата модуля тензорной компоненты атомного рассеивающего фактора резонансного атома |f3|2 (слева) и |f1 – f2|2 (справа) в YAG от энергии падающего излучения в случае отсутствия атомов примеси (сплошная линия) (вблизи K-края поглощения иттрия), а так же если один атом Tb замещает атом Y в позиции 24(c) (штрих-пунктирная линия), атом Al в позиции 16(a) (пунктирная линия) или атом Al в позиции 24(d) (точки) (вблизи L3-края поглощения тербия).

Таким образом, если атомы тербия замещают атомы алюминия в позиции 24(d), то при энергии падающего излучения вблизи L3-края поглощения тербия должно отсутствовать отражение 13,13,0; а если атомы тербия замещают атомы алюминия в позиции 16(a), то при энергии падающего излучения вблизи L3края поглощения тербия должно отсутствовать отражение 14,0,0. Наличие обоих отражений будет свидетельствовать о том, что атомы примеси замещают атомы иттрия в позиции 24(с). Поскольку амплитуда рассеяния тербия вблизи L3-края поглощения довольно велика (см. рис. 5.20), то интенсивность отражения 14,0,0 должна быть достаточна для наблюдения, даже если процент замещения невелик.

На рис. 5.21 приведено сравнение квадратов модулей тензорных компонент, порождающих отражение 13,13,0 в YAG при энергии падающего излучения вблизи K-края поглощения иттрия и отражение 14,0,0 вблизи L3-края поглощения тербия в случае, если только 5% атомов иттрия замещают атомы тербия. Поскольку отражение 13,13,0 в YAG наблюдалось экспериментально, то и интенсивность отражения 14,0,0 при 5% замещении тербием должна быть достаточной для проведения измерений.

§ 5.7. Основные результаты и выводы рентгеновского синхротронного излучения с энергией, близкой к энергии края поглощения какого-либо атома в кристалле, наглядно показывает, что волновые электронные функции рассеивающего резонансного атома весьма чувствительны к его кристаллографическому окружению. В частности, в кристаллах гранатов это приводит к появлению различных дифракционных отражений, отвечающих атомам в неэквивалентных позициях и обладающих различной энергетической и азимутальной зависимостью интегральной интенсивности.

Компоненты ТАРФ иттрия непосредственно определяются из совместного анализа спектров интегральной интенсивности “запрещенных” отражений (2n + 1, 2n + 1, 0) и (4n + 2, 0, 0), а так же спектра поглощения при энергии на примере экспериментального и теоретического исследования спектра поглощения и энергетических зависимостей интегральной интенсивности “запрещенных” отражений 13,13,0 и 14,0,0 в YAG при энергии падающего излучения вблизи K-края поглощения иттрия. Энергетические зависимости интегральной интенсивности обоих отражений являются существенно различными, несмотря на то, что они обусловлены резонансным рассеянием СИ атомами иттрия. Показано, что вклад в интенсивность указанных отражений дают разные компоненты ТАРФ, различным образом зависящие от энергии.

Исследование “запрещенных” отражений в гранатах, в которых часть атомов металла замещается атомами примесей, представляет значительный практический интерес, так как положение атомов примеси может быть определено из анализа интегральной интенсивности “запрещенных” отражений, измеренных при энергиях вблизи края поглощения иттрия, металла или атома примеси.

При наличии атомов примеси как в положении металла, так и в положении иттрия, ТАРФ ближайших к примеси атомов иттрия меняются, что показано на примере теоретического анализа спектров интенсивности “запрещенных” отражений в кристалле YAG с примесью атомов тербия. Однако, это изменение не так велико, поэтому, достаточно трудно однозначно определить положение примеси, если ее концентрация мала. Для определения положения атомов примеси в элементарной ячейке YAG необходимо провести измерения при энергиях падающего излучения вблизи L-краев поглощения тербия. В этом случае отсутствие отражения (4n + 2, 0, 0) однозначно свидетельствует о замещении атомами тербия атомов алюминия в позиции 16(а), отсутствие отражения (2n + 1, 2n + 1, 0) – о замещении атомами тербия атомов алюминия в позиции 24(d), а наличие обоих отражений свидетельствует о замещении атомами тербия атомов иттрия. Более того, поскольку резонансная анизотропия АРФ вблизи Lкраев поглощения значительно больше, чем вблизи K-края поглощения, измерения могут быть проведены с достаточно небольшими концентрациями атомов примеси.

Основные результаты и выводы работы сформулированы в конце каждой главы. Наиболее существенными результатами являются:

1. Впервые развита теория динамической дифракции в компланарных геометриях Брэгга и Лауэ в случае двухволновой резонансной дифракции рентгеновского излучения в анизотропной кристаллической среде.

2. Впервые теоретически определены границы применимости кинематического приближения в резонансной дифракции рентгеновского излучения в анизотропной кристаллической среде.

3. Проведена интерпретация первых экспериментов по наблюдению эффекта аномального прохождения в резонансной дифракции рентгеновского излучения. Использование эффекта аномального прохождения в условиях дифракции при исследовании природы предкраевых пиков в ближней тонкой структуре края поглощения рентгеновского излучения значительно расширяет возможности данного метода, так как квадрупольный вклад в общий коэффициент поглощения увеличивается в условиях аномального прохождения.

4. Впервые разработана и апробирована методика количественного описания энергетических зависимостей чисто резонансных “запрещенных” отражений, основанная на первопринципных квантовомеханических расчетах с учетом влияния температуры.

5. Развитая методика, примененная для анализа энергетических зависимостей “запрещенных” отражений, позволяет разделить температурнозависимый диполь-дипольный вклад в тензорный атомный рассеивающий фактор резонансного атома, обусловленный тепловым движением атомов, и температурно-независимый вклад. Методика использована для объяснения экспериментально наблюдавшихся энергетических зависимостей интенсивности “запрещенных” отражений 006 в кристалле германия и 115 в кристаллах оксида цинка и нитрида галлия со структурой вюрцита. Доказано, что температурно-независимый вклад в тензорный атомный рассеивающий фактор в указанных кристаллах является диполь-квадрупольным. Также показана возможность разделения вкладов в анизотропию рассеяния, вызванных различными фононными модами, что позволяет исследовать температурную зависимость интенсивности и поляризации фононных мод.

6. Исследование температурных и энергетических зависимостей интенсивности термоиндуцированных “запрещенных” отражений является новым методом определения температурных зависимостей корреляционных функций среднеквадратичных относительных смещений атомов. На основе развитого метода определены автокорреляционные функции смещений атомов цинка и корреляционные функции относительных смещений атомов цинка и кислорода в оксиде цинка со структурой вюрцита.

7. Интерференция резонансного и нерезонансного каналов рассеяния позволяет определить абсолютную величину и фазу резонансной структурной амплитуды. На основании этого определена абсолютная величина и фаза резонансной структурной амплитуды отражения 222 в кристалле германия.

8. Впервые продемонстрировано влияние статической деформации на интенсивность, энергетическую и азимутальную зависимости “запрещенных” отражений, существующих при энергиях падающего излучения, близких к краям поглощения атомов в кристаллах. Особенно сильно эффект проявляется в тех кристаллах, симметрия которых запрещает существование диполь-дипольного вклада в тензорный атомный рассеивающий фактор резонансного атома.

9. Предсказано появление “запрещенных” отражений в монокристаллах, обусловленных резонансным рассеянием рентгеновского излучения от двух кристаллографически неэквивалентных подрешеток резонансных атомов, что свидетельствует о различии расщепления электронных уровней, соответствующих разным кристаллографическим позициям. Проведено численное моделирование энергетической и азимутальной зависимости отражений 110 и 600 в кристалле железо-иттриевого граната при энергии падающего излучения вблизи K-края поглощения железа и 13,13,0 и 14,0,0 в кристалле иттрий-алюминиевого граната при энергии падающего излучения вблизи K-края поглощения иттрия. Показано, что селективность метода относительно позиции атома позволяет определить распределение примесей по неэквивалентным позициям. На основе анализа интенсивности указанных отражений определены компоненты тензорного атомного рассеивающего фактора резонансного атома иттрия.

Современный уровень исследований по резонансной дифракции рентгеновского излучения позволяет утверждать, что этот метод в состоянии решить многие задачи кристаллографии: определить фазу структурной амплитуды, координаты атомов, валентность, орбитальные характеристики, магнитные свойства и др. Однако он требует хорошей экспериментальной базы, в том числе использования синхротрона в качестве источника излучения. Кроме того, существуют некоторые проблемы в теории, затрудняющие количественное описание экспериментальных результатов.

Рентгеновская резонансная дифракционная спектроскопия чисто резонансных “запрещенных” отражений обладает рядом уникальных возможностей при исследовании структуры и свойств конденсированных сред и получает в последние годы все большее распространение. В отличии от большинства других резонансных методов, изучение свойств “запрещенных” отражений дает информацию о локальных атомных конфигурациях, не усредненную по элементарной ячейке. Возможность выделить отражения, вклад в которые дают определенные резонансные члены в атомном рассеивающем факторе, позволяет изучать изменение параметров, связанных только с резонансными атомами, тогда как остальные элементы не дают никакого вклада. Высокая чувствительность резонансной восприимчивости к атомным смещениям дает возможность исследования вызванных этими смещениями искаженных электронных состояний.

Помимо практических результатов, которые можно получить благодаря изучению “запрещенных” отражений при энергии падающего излучения вблизи краев поглощения кого-либо из атомов исследуемого вещества, этот метод позволил получить некоторые результаты, важные для фундаментальных исследований. В частности, наблюдение “запрещенных” отражений, вызванных тепловыми колебаниями атомов, является аргументом в пользу справедливости адиабатического приближения, поскольку амплитуда резонансного рассеяния, в - 210 которой участвуют атомные электроны, отслеживает тепловые колебания атомов. Вызванные хиральностью “запрещенные” отражения, помимо того, что дают информацию о четно-нечетных смешанных электронных состояниях, выявляют гиротропные свойства центросимметричных кристаллов, неизвестные в оптике видимого диапазона.

С точки зрения эксперимента, основным недостатком метода резонансной дифракции является необходимость использовать монокристаллы с не очень большими элементарными ячейками. Кроме того, размеры монокристаллов должны быть не слишком малы (нескольких кубических миллиметров) изза того, что “запрещенные” отражения являются слабыми (их интенсивность составляет ~10–2 от интенсивности разрешенных отражений).

С точки зрения теории основной проблемой является создание точных квантово-механических расчетов амплитуды резонансного рассеяния. Поскольку резонансное рассеяние включает переход атома из основного состояния в возбужденное, широко используемые методы не всегда дают хорошие результаты. В настоящее время несколько групп работают над созданием пакетов программ, которые в будущем будут служить основой для обработки экспериментальных данных.

В настоящей работе была рассмотрена лишь малая часть видов “запрещенных” отражений, далеко не исчерпывающих всех возможностей в данной области. Существуют и другие причины, помимо обсуждавшихся выше, которые могут порождать “запрещенные” отражения. Главное требование состоит в том, чтобы нарушалась локальная анизотропия окружения резонансного рассеивающего атома. Поэтому диффузия, протяженные дефекты, поверхность и др. причины также могут вызывать возникновение “запрещенных” отражений.

В настоящее время происходит процесс становления метода изучения “запрещенных” отражений в резонансной дифракции рентгеновского излучения как инструмента исследования структуры и локальных свойств кристаллов.

благодарность и признательность д.ф.-м.н. Е.Н.Овчинниковой и д.ф.-м.н.

В.Е.Дмитриенко за постоянный неослабевающий интерес к работе, плодотворные обсуждения и помощь в интерпретации результатов; проф. В.А.Бушуеву за постоянный интерес к работе и плодотворные обсуждения результатов; д.ф.м.н. М.А.Андреевой за плодотворные обсуждения ковариантной динамической теории дифракции; члену-корреспонденту РАН проф. М.В.Ковальчуку, д.ф.м.н. Э.Х.Мухамеджанову, к.ф.-м.н. М.М.Борисову, к.ф.-м.н. А.Н.Морковину за проведение экспериментальных исследований по резонансной дифракции рентгеновского синхротронного излучения в кристаллах германия и иттрийалюминиевого граната; к.ф.-м.н. А.Н.Артемьев, к.ф.-м.н. Ф.В.Забелину, к.ф.м.н. А.Г.Маевскому за проведение экспериментальных исследований по резонансной дифракции рентгеновского синхротронного излучения в кристаллах железо-иттриевого граната; к.ф.-м.н. В.А.Саркисяна за предоставление кристаллов железо-иттриевого граната для проведения экспериментальных исследований; д.х.н. Б.П.Толочко за проведение экспериментальных исследований по резонансной дифракции рентгеновского синхротронного излучения в кристаллах германия; проф. К.Ишиде, проф. А.Кирфелю, Дж.Кокубуну за любезно предоставленные данные по экспериментальному наблюдению термоиндуцированных “запрещенных” отражений в кристаллах германия; проф.

С.П.Коллинзу, Д.Лонди, Г.Нисбету и Г.Бютье за проведение экспериментальных исследований термоиндуцированных “запрещенных” отражений в кристаллах w-ZnO и w-GaN; проф. И.Жоли за консультации по использованию программного комплекса FDMNES; проф. Р.В.Ведринскому, д.ф.-м.н.

В.Л.Крайзману, к.ф.-м.н. А.А.Новаковичу, к.ф.-м.н. Е.Е.Кривицкому за консультации по использованию программного комплекса XKDQ.

Особую признательность мне хочется выразить всему коллективу кафедры физики твердого тела физического факультета МГУ и ее заведующему профессору, д.ф.-м.н. А.С.Илюшину за создание неповторимой атмосферы доброжелательности, которая окружала меня во время выполнения данной работы.

1. Вайнштейн Б.К. Современная кристаллография. В 4 т. Т. 1. Симметрия кристаллов. Методы структурной кристаллографии. / Б.К.Вайнштейн. – М.: Наука, 1979. – 384 с.

А.И.Китайгородский. – М.: Гостехиздат, 1950. – 650 с.

3. Бокий Г.Б. Кристаллохимия. / Г.Б.Бокий. – М.: Наука, 1971. – 400 с.

4. Жданов Г.С. Дифракционный и резонансный структурный анализ. / Г.С.Жданов, А.С.Илюшин, С.В.Никитина. – М.: Наука, 1980. – 254 с.

5. Порай-Кошиц М.А. Основы структурного анализа химических соединений. / М.А.Порай-Кошиц. – М.: Высшая школа, 1989. – 192 с.

6. Lovesey S.W. X-ray scattering and absorption by magnetic materials. / S.W.Lovesey, S.P.Collins. – Oxford: Clarendon Press, 1996. – 390 p.

7. Илюшин А.С. Дифракционный структурный анализ. / А.С.Илюшин, А.П.Орешко. – Киров: Издательский Дом “Крепостновъ”, 2013. – 615 с.

8. Бэкон Дж. Дифракция нейтронов. / Дж.Бэкон. – М.: ИЛ, 1957. – 256 c.

9. Изюмов Ю.А. Магнитная нейтронография. / Ю.А.Изюмов, Р.П.Озеров. – М.: Наука, 1966. – 532 c.

10. Нозик Ю.З. Нейтроны и твердое тело. В 3 т. Т. 1. Структурная нейтронография. / Ю.З.Нозик, Р.П.Озеров, К.Хенниг, под. общ. ред. Р.П.Озерова. – М.: Атомиздат, 1979. – 344 с.

11. Изюмов Ю.А. Нейтроны и твердое тело. В 3 т. Т. 2. Нейтронография магнетиков. / Ю.А.Изюмов, В.Е.Найш, Р.П.Озеров, под. общ. ред.

Р.П.Озерова. – М.: Атомиздат, 1981. – 312 с.

12. Lovesey S.W. Theory of neutron scattering from condensed matter. / S.W.Lovesey. – Oxford: Clarendon Press, 2003. – 390 p.

13. Пинскер З.Г. Диффракция электронов. / З.Г.Пинскер. – М.: Изд-во АН 14. Вайнштейн Б.К. Структурная электронография. / Б.К.Вайнштейн. – М.:

Изд-во АН СССР, 1956. – 315 с.

Учеб. пособие для вузов. / С.С.Горелик, Ю.А.Скаков, Л.Н.Расторгуев. – М.: МИСИС, 1994. – 328 с.

16. Овчинников С.Г. Использование синхротронного излучения для исследования магнитных материалов. / С.Г.Овчинников // УФН. – 1999. – Т. 169.

17. Зубавичус Я.В. Рентгеновское синхротронное излучение в физикохимических исследованиях. / Я.В.Зубавичус, Ю.Л.Словохотов // Успехи химии. – 2001. – Т. 70. – Вып. 5. – С. 429–463.

18. Magnetism: A synchrotron radiation approach. / eds. E.Beaurepaire, H.Bulou, F.Scheurer, J.-P.Kappler. – Berlin: Springer-Verlag, 2006. – 471 p.

19. Фетисов Г.В. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ. / Г.В.Фетисов. – М.: Физматлит, 2007. – 671 с.

20. Extended X-ray absorption fine structure - its strengths and limitations as a structural tool. / P.A.Lee, P.H.Citrin, P.Eisenberger, B.M.Kincaid // Rev. Mod.

Phys. – 1981. – V. 53. – N. 4. – P. 769–806.

21. EXAFS-спектроскопия - новый метод структурных исследований. / И.Б.Боровский, Р.В.Ведринский, В.Л.Крайзман, В.П.Саченко // УФН. – 1986. – Т. 149. – Вып. 2. – С. 275–324.

22. X-ray Absorption: Principles, Applications, Techniques of EXAFS, SEXAFS and XANES. / eds. D.C.Koningsberger, R.Prins. – New York: Wiley, 1988. – 23. Ведринский Р.В. Рентгеновские спектры поглощения твердых тел. / Р.В.Ведринский, И.М.Гегузин. – М.: Энергоатомиздат, 1991. – 183 с.

24. Кочубей Д.И. EXAFS-спектроскопия катализаторов. / Д.И.Кочубей. – Новосибирск: Наука, 1992. – 145 с.

25. Stohr J. NEXAFS spectroscopy. / J.Stohr. – Berlin: Springer-Verlag, 1996. – 26. Rehr J.J. Theoretical approaches to X-ray absorption fine structure. / J.J.Rehr, R.C.Albers // Rev. Mod. Phys. – 2000. – V. 72. – N. 3. – P. 621–654.

структуры вещества. / Г.Ю.Смоленцев, А.В.Солдатов. – Ростов-на-Дону:

МиниТайп, 2006. – 88 с.

28. Diffraction anomalous fine structure: a new structural technique. / H.Stragier, J.O.Cross, J.J.Rehr, L.B.Sorensen, C.E.Bouldin, J.C.Woicik // Phys.Rev.Lett. – 1992. – V. 69. – P. 3064–3067.

29. Diffraction anomalous fine structure: A new technique for probing local atomic environment. / I.J.Pickering, M.Sansone, J.Mars, G.N.George // J. Am. Chem.

SOC. – 1993. – V. 115. – P. 6302–6311.

30. Carra P. Anisotropic X-ray anomalous diffraction and forbidden reflections. / P.Carra, T.Thole // Rev. Mod. Phys. – 1994. – V. 66. – P. 1509–1515.

31. Resonant Anomalous X-Ray Scattering: Theory and Applications. / eds.

G.Materlik, C.J.Sparks, K.Fischer.– Amsterdam: North-Holland, 1994.– 675 p.

32. Овчинникова Е.Н. Резонансная дифракция рентгеновского и мессбауэровского излучения в регулярных, модулированных и дефектных кристаллах: дис. … д-ра. физ.-мат.наук: 01.04.07 / Овчинникова Елена Николаевна. – М.: МГУ, 2001. – 296 с.

33. Resonant diffraction. / J.-L.Hodeau, V.Favre-Nicolin, S.Bos, H.Renevier, E.Lorenzo, J.-F.Berar // Chem. Rev. – 2001. – V. 101. – P. 1843–1867.

34. Дмитриенко В.Е. Резонансная дифракция рентгеновского излучения в кристаллах: новый метод исследования структуры и свойств материалов. / В.Е.Дмитриенко, Е.Н.Овчинникова // Кристаллография. – 2003. – Т. 48. – 35. Polarization anisotropy of X-ray atomic factors and “forbidden” resonant reflections. / V.E.Dmitrienko, K.Ishida, A.Kirfel, E.N.Ovchinnikova // Acta.

Cryst. A. – 2005. – V. 61. – P. 481–493.

36. Multipolar interactions in f-electron systems: The paradigm of actinide dioxides. / P.Santini, S.Carretta, G.Amoretti, R.Caciuffo, N.Magnani, G.H.Lander // Rev. Mod. Phys. – 2009. – V. 81. – P. 807–863.

37. Magnetism and Synchrotron Radiation. New Trends. / eds. E.Beaurepaire, 38. Joly Y. Resonant X-ray diffraction: Basic theoretical principles. / Y.Joly, S.D.Matteo, O.Bunau // Eur. Phys. J. Special Topics. – 2012. – V. 208. – P.

39. Овчинникова Е.Н. Синхротронные исследования в физике твердого тела.

Часть 1. / Е.Н.Овчинникова, М.А.Андреева. – М.: физический факультет 40. Овчинникова Е.Н. Синхротронные исследования в физике твердого тела.

Часть 2. Изучение “запрещенных” отражений – новый метод исследования структуры и свойств кристаллов. / Е.Н.Овчинникова, М.А.Андреева, В.Е.Дмитриенко. – М.: физический факультет МГУ, 2009. – 114 с.

41. Андреева М.А. Синхротронные исследования в физике твердого тела.

Часть 3. Ядерно-резонансные (“мессбауэровские”) эксперименты на синхротронах. / М.А.Андреева, Е.Н.Овчинникова. – М.: физический факультет МГУ, 2009. – 160 с.

42. Тернов И.М. Синхротронное излучение и его применения. / И.М.Тернов, В.В.Михайлин, В.Р.Халилов. – М.: Изд-во Моск. ун-та, 1980. – 276 с.

43. Синхротронное излучение. Свойства и применение. / под. ред. К.Кунца. – 44. Handbook on synchrotron radiation. / ed. E.-E.Koch. – Amsterdam: NorthHolland, 1983. – 1170 p.

45. Applications of synchrotron radiation to materials analysis. / eds. H.Saisho, Y.Gohshi. – Amsterdam: Elsevier, 1996. – 501 p.

46. Chemical Applications of Synchrotron Radiation. / ed. T.-K.Sham. – Singapore: World Scientific, 2002. – 1304 p.

47. Willmott P. An Introduction to synchrotron radiation: techniques and applications. / P.Willmott. – New York: Wiley, 2011. – 368 p.

48. Third-Generation hard X-ray synchrotron radiation sources: source properties, optics, and experimental techniques. / ed. D.M.Mills. – New York, Wiley, В.Е.Дмитриенко // УФН. – 1989. – Т. 158. – Вып. 4. – С. 679–721.

50. X-ray optical activity: applications of sum rules. / J.Goulon, A.Rogalev, F.Wilhelm, C.Goulon-Ginet, P.Carra, I.Marri, Ch.Brouder // JETP, 2003. – V.

51. Козловская К.А. Эффекты гиротропии и киральности в резонансном поглощении и дифракции рентгеновского излучения: дис. … канд. физ.мат.наук: 01.04.07 / Козловская Ксения Александровна. – М.: МГУ, 2009.

52. Brouder C. Angular dependence of x-ray absorption spectra. / C.J.Brouder // J.

Phys.: Condens. Matter, 1990. – V. 2. – P. 701-738.

53. Magnetism and Synchrotron Radiation. / eds. E.Beaurepaire, F.Scheurer, G.Krill, J.-P.Kappler. – Berlin: Springer, 2001. – 396 p.

54. Lovesey S.W. A theoretical framework for absorption (dichroism) and the resonance-enhanced scattering of x-rays by magnetic materials: I. / S.W.Lovesey, E.Balcar // J. Phys.: Condens. Matter. – 1996. – V. 8. – P.

10983–11007.

55. Lovesey S.W. A theoretical framework for dichroism and the resonanceenhanced scattering of x-rays by magnetic materials: II. Quadrupolar absorption events. / S.W.Lovesey // J. Phys.: Condens. Matter. – 1996. – V. 8. – P.

11009–11022.

56. Calculation of X-ray natural circular dichroism. / C.R.Natoli, Ch.Brouder, Ph.Sainctavit, J.Goulon, Ch.Goulon-Ginet, A.Rogalev // Eur. Phys. J. B. – 57. X-Ray natural circular dichroism. / L.Alagna, T.Prosperi, S.Turchini, J.Goulon, A.Rogalev, Ch.Goulon-Ginet, C.R.Natoli, R.D.Peacock, B.Stewart // Phys.

Rev. Lett. – 1998. – V. 80. – N. 21. – P. 4799–4802.

58. X-ray dichroism in biaxial gyrotropic media: Differential absorption and fluorescence excitation spectra. / J.Goulon, C.Goulon-Ginet, A.Rogalev, V.Gotte, C.Brouder, C.Malgrange // Eur. Phys. J. B. – 1999. – V. 12. – P. 373-385.

– 2000. – V. 62. – N. 12. – P. R7703–R7706.

60. X-ray natural circular dichroism and chiral-EXAFS in gyrotropic crystals. / J.Goulon, Ch.Goulon-Ginet, A.Rogalev, G.Benayoun, Ch.Brouder, C.R.Natoli // J. Synchrotron Rad. – 2000. – V. 7. – P. 182–188.

61. Di Matteo S. A multiple-scattering theory of circular and linear dichroism for photoemission and photoabsorption. / S.Di Matteo, C.R.Natoli // J.

Synchrotron Rad. – 2002. – V. 9. – P. 9–16.

62. Optical activity probed with X-rays. / J.Goulon, A.Rogalev, F.Wilhelm, N.Jaouen, Ch.Goulon-Ginet, Ch.Brouder // J. Phys.: Condens. Matter. – 2003.

V. 15. P. S633–S645.

63. Carra P. X-ray dichroism in noncentrosymmetric crystals. / P.Carra, A.Jerez, I.Marri // Phys. Rev. B. – 2003. – V. 67. – P. 045111 (1–8).

64. Resonant elastic X-ray scattering in chemistry and materials science. / J.R.Helliwell, M.Helliwell, V.Kaucic, N.Z.Logar // Eur. Phys. J. Special Topics. – 2012. – V. 208. – P. 245–257.

65. Vettier C. Resonant elastic X-ray scattering: Where from? where to? / C.Vettier // Eur. Phys. J. Special Topics. – 2012. – V. 208. – P. 3–14.

66. Waseda Y. Anomalous X-ray scattering for materials characterization: atomic scale structure determination. / Y.Waseda. – Berlin: Springer, 2002. – 223 p.

67. Kokubun J. Anisotropic resonant X-ray scattering: Beauty of forbidden reflections. / J.Kokubun, V.E.Dmitrienko // Eur. Phys. J. Special Topics. – 2012. – 68. Джеймс Р. Оптические принципы диффракции рентгеновских лучей. / Р.

Джеймс. – М.: ИЛ, 1950. – 572 с.

69. Пинскер З.Г. Рентгеновская кристаллооптика. / З.Г.Пинскер. – М.: Наука, 70. Афанасьев А.М. Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев. / А.М.Афанасьев, П.А.Александров, Р.М.Имамов. – М.: Наука, Р.Н.Кузьмин. – М.: Изд-во Моск. Ун-та, 1990. – 112 с.

72. Authier A. Dynamical theory of X-ray diffraction. / A.Authier. – New York:

Oxford University Press, 2001. – 661 p.

73. Pettifer R.F. Quadrupole transitions revealed by Borrmann spectroscopy. / R.F.Pettifer, S.P.Collins, D.Laundy // Nature. – 2008. – V. 454. – P. 196–199.

74. Collins S.P. Borrmann spectroscopy. / S.P.Collins, M.Tolkiehn, R.F.Pettifer, D.Laundy // J. of Phys.: Conf. Ser. – 2009. – V. 190. – P. 012045 (1–10).

75. Tolkiehn M. Effects of temperature and anisotropy on quadrupole absorption in Borrmann spectroscopy. / M.Tolkiehn, T.Laurus, S.P.Collins // Phys. Rev. B. – 2011. – V. 184. – P. R241101 (1–4).

76. Collins S.P. Anisotropy in Borrmann spectroscopy. / S.P.Collins, M.Tolkiehn, T.Laurus, V.E.Dmitrienko // Eur. Phys. J. Special Topics. – 2012. V. 208. – P.

77. Афанасьев А.М. О подавлении неупругих каналов при резонансном ядерном рассеянии в кристаллах. / А.М.Афанасьев, Ю.Каган // ЖЭТФ. – 1965.

78. Каган Ю. Подавление неупругих каналов при резонансном рассеянии нейтронов в регулярных кристаллах. / Ю.Каган, А.М.Афанасьев // ЖЭТФ.

– 1965. – Т. 49. – Вып. 5. – С. 1504–1517.

79. Беляков В.А. Дифракция мёссбауэровского излучения в кристаллах. / В.А.Беляков // УФН. – 1975. – T. 115. – C. 552–601.

80. Tonnerre J.-M. X-ray magnetic scattering. / J.-M.Tonnerre // Proceedings of the International School “Magnetism and Synchrotron Radiation”. France, Mittelwihr, 1996. – P. 245–273.

81. Mark H. Ein einfacher versuch zur auffinclung eines selektiven effecktes bei der zerstrenung von Rontgenstrahlen. / H.Mark, L.Szillard // Z. Phys. A. – 1925. – B. 33. – P. 688–691.

82. Platzman P.M. Magnetic scattering of X rays from electrons in molecules and solids. / P.M.Platzman, N.Tzoar // Phys. Rev. B. – 1970. – V. 2. – P.3556– - 219 de Bergevin F. Diffraction of X-rays by magnetic materials. 1. General formulae and measurements on ferro- and ferrimagnetic compounds. / F.de Bergevin, M.Brunel // Acta Cryst. A. – 1981. – V. 37. – P. 314–324.

84. de Bergevin F. Diffraction of X-rays by magnetic materials. 2. Measurements on antiferromagnetic Fe2O3. / F.de Bergevin, M.Brunel // Acta Cryst. A. – 1981. – V. 37. – P. 324–331.

85. Hart M. X-ray polarization phenomena. / M.Hart // Phil.Mag. B. – 1978. – V.

86. Cohen G.G. Polarization phenomena in X-ray scattering. / G.G.Cohen, M.Kuriyama // Phys.Rev.Lett. – 1978. – V. 40. – N. 14. – P. 957–960.

87. Gibbs D. Magnetic x-ray scattering studies of the rare-earth metal holmium. / D.Gibbs, D.E.Moncton, K.L.D'Amico // J. Appl. Phys. – 1985. – V. 57. – P.3619–3622.

88. The validity of form-factor, modified-form-factor and anomalous-scatteringfactor approximation in elastic scattering salculations. / L.Kissel, B.Zhou, S.C.Roy, S.K.Sen Gupta, R.H.Pratt // Acta Cryst. A. – 1995. – V. 51. – P. 271– 89. Use of anomalous diffraction, DAFS and DANES techniques for site-selective spectroscopy of complex oxides. / J.Vacinova, J.L.Hodeau, P.Wolfers, J.P.Lauriat, E.ElKaim // J. Synchrotron Rad. – 1995. – V. 2. – P. 236–244.

90. Dmitrienko V.E. Forbidden reflections due to anisotropic X-ray susceptibility of crystals. // Acta Cryst. A. 1983. V. 9. P. 29–35.

91. Dmitrienko V.E. Anisotropy of X-ray susceptibility and Bragg reflections in cubic crystals. / V.E.Dmitrienko // Acta Cryst. A. – 1984. – V. 40. – P. 89–95.

92. Templeton D.H. Polarized X-ray absorption and double refraction in vanadil biacetylacetonate. / D.H.Templeton, L.K.Templeton // Acta Cryst. A. – 1980. – 93. Templeton D.H. X-ray dichroism and polarized anomalous scattering of the uranyl ion. / D.H.Templeton, L.K.Templeton // Acta Cryst. A. – 1982. – V. 38.

94. Templeton D.H. L3-Edge anomalous scattering by gadolinium and samarium measured at high resolution with synchrotron radiation. / D.H.Templeton, L.K.Templeton // Acta Cryst. A. – 1982. – V. 38. – P. 74–78.

95. Templeton D.H. X-ray dichroism and anomalous scattering of potassium tetrachoroplatinate. / D.H.Templeton, L.K.Templeton // Acta Cryst. A. – 1985. – V.

96. Templeton D.H. X-ray birefingence and forbidden reflections in sodium bromate. / D.H.Templeton, L.K.Templeton // Acta Cryst. A. – 1986. – V. 42. – P.

97. Templeton D.H. X-ray birefringence, forbidden reflections and direct observation of structure factor phase. / D.H.Templeton, L.K.Templeton // Acta Cryst.

A. – 1987. – V. 47. – P. 573–578.

98. Polarized XAS studies of ternary nikel oxides. / A.Sahiner, M.Croft, S.Guha, J.Perez, Z.Zhang, M.Greenblatt, P.A.Metcalf, H.Jahns, G.Liang // Phys. Rev.

B. 1995. V. 51. P. 5879 – 5886.

99. X-ray natural dichroism in a uniaxial gyrotropic single crystal of LiIO3. / J.Goulon, C.Goulon-Ginet, A.Rogalev, V.Gotte // J. of Chem. Phys. – 1998. – V. 108. – P. 6394–6403.

100. Миркин Л.И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов. / Л.И.Миркин. – М.: ФМ, 1961. – 862 с.

Е.М.Лифшиц. – М.: Наука, 1992. – 661 c.

102. Берестецкий В.Б. Квантовая электродинамика. / В.Б.Берестецкий, Е.М.Лифшиц, Л.П.Питаевский. – М.:Наука, 1989. – 728 c.

103. Blume M. Magnetic scattering of X rays. / M.Blume // J. Appl. Phys. – 1985. – V. 57. – P. 3615–3618.

104. Profile of the induced 5d magnetic moments in Ce/Fe and La/Fe multiplayers probed by X-ray magnetic-resonant scattering. / L.Seve, N.Jaouven, J.M.Tonnerre, D.Raoux, F.Bartolome, M.Aend, W.Felsh, A.Rogalev, J.Goulon, 105. Иверонова В.И. Теория рассеяния рентгеновских лучей. / В.И.Иверонова, Г.П.Ревкевич. – М.:Изд. Моск. Ун-та, 1978. – 276 с.

106. International tables for crystallography. Vol. A. / ed. T.Hahn. – Dordreht:

Kluwer, 1996. – 784 p.

107. Колпаков А.В. Диэлектрическая проницаемость в рентгеновском диапазоне частот. / А.В.Колпаков, В.А.Бушуев, Р.Н.Кузьмин // УФН. – 1978. – Т.126. – С. 479–513.

108. Борн М. Основы оптики. / М.Борн, Э.Вольф. – М.: Наука, 1970. – 719 с.

109. Агранович В.М. Кристаллооптика с учетом пространственной дисперсии и теория экситонов. / В.М.Агранович, В.Л.Гинзбург. – М.: Наука, 1979. – 110. Орешко А.П. Основы резонансного рассеяния синхротронного излучения.

/ А.П.Орешко // Синхротронное излучение. Дифракция и рассеяние:

сборник материалов школы молодых специалистов. – Новосибирск: ИЯФ СО РАН, 2009. – С. 44–48.

111. Орешко А.П. Основы резонансного рассеяния синхротронного излучения.

/ А.П.Орешко, В.Е.Дмитриенко, Е.Н.Овчинникова // Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия): сборник докладов V-ого Международного научного семинара. – Великий Новгород: Новгородский технопарк, 2011. – С.

112. Орешко А.П. Интерференционные явления в резонансной дифракции рентгеновского излучения. / А.П.Орешко, Е.Н.Овчинникова, В.Е.Дмитриенко. – Московская обл., Щелково: Изд-ль Мархотин П.Ю., 113. Корн Г. Справочник по математике. / Г.Корн, Т.Корн. – М.: Наука, 1978. – 114. Шубников А.В. Симметрия в науке и искусстве. / А.В.Шубников, В.А.Копцик. – М.: Наука, 1972. – 349 с.

D.H.Templeton, L.K.Templeton // Acta Cryst. A. – 1985. – V. 41. – P. 133– 116. Eichhorn K. Anisotropic anomalous dispersion in cuprite Cu2O. / K.Eichhorn, A.Kirfel, K.Fischer // Z. Naturforsch. A. – 1988. – V. 43. – P. 391–392.

117. Kirfel A. Anisotropy of anomalous dispersion in X-ray diffraction. / A.Kirfel, A.Petcov, K.Eichhorn // Acta Cryst. A. – 1991. – V. 47. – P. 180–195.

118. Kirfel A. Anisotropy of anomalous dispersion. II. Combining polarization dependent transmission and diffraction. An application to partial structure analysis in lithium hydrogen selenite, LiHSeO3. / A.Kirfel, A.Petcov // Acta Cryst.

A. – 1992. – V. 48. – P. 247–259.

119. Templeton D.H. Polarized dispersion, glide-rule-forbidden reflections and phase determination in barium bromate monohydrate. / D.H.Templeton, L.K.Templeton // Acta Cryst. A. – 1992. – V. 48. – P. 746–751.

120. Polarization analysis of X-ray diffraction peaks from hexagonal ferriteanomaly of forbidden reflections. / E.Tsuji, T.Kurasawa, I.Yazawa, H.Katoh, N.Momozawa, K.Ishida, S.Kishimoto // J. Phys. Soc.Jpn. – 1996. – V. 65. – P.

121. Kirfel A. Anisotropy of anomalous scattering: quadrupole type forbidden reections in magnetite, Fe3O4. / A.Kirfel, T.Lippmann, W.Morgenroth // HASYLAB Jahresbercht. – 1995. – P. 371–372.

122. Measurements of ATS scattering from magnetite near the Fe K-absorption edge in the temperature range 290 K–80 K. / K.Hagiwara, M.Kanazawa, K.Horie, J.Kokubun, K.Ishida // J. Phys. Soc. Jpn. – 1999. – V. 68. – P. 1592– 123. Resonant “forbidden” reflections in magnetite. / J.Garca, G.Subas, M.G.Proietti, H.Renevier, Y.Joly, J.L.Hodeau, J.Blasco, M.C.Snchez, J.F.Brar // Phys. Rev. Lett. – 2000. – V. 85. – P. 578–581.

124. X-ray polarization anomaly of forbidden reflections of iron pyrite, FeS2, near the Fe K-absorption edge. / T.Nagano, J.Kokubun, I.Yazawa, T.Kurasawa, // J. Phys. Soc. Jpn. – 1996. – V. 65. – P. 3060–3067.

125. Templeton D.H. Polarized dispersion of X-rays in pyrite. / D.H.Templeton, L.K.Templeton // Acta Cryst. A. – 1997. – V. 53. – P. 352–355.

126. Collins S.P. Anisotropic resonant diffraction from HoFe2. / S.P.Collins, D.Laundy, A.Stunault // J. Phys.: Condens. Matter. – 2001. – V. 13. – P. 1891– 127. Direct observation of charge and orbital ordering in La0.5Sr1.5MnO4. / Y.Murakami, H.Kawada, H.Kawata, M.Tanaka, T.Arima, Y.Moritomo, Y.Tokura // Phys. Rev. Lett. – 1998. – V. 80. – P. 1932–1935.

128. Structural characterization of various chiral smectic-c phases by resonant X-ray scattering. / P.Mach, R.Pindak, A.-M.Levelut, P.Barois, H.T.Nguyen, C.C.Huang, L.Furenlid // Phys. Rev. Lett. – 1998. – V. 81. – P. 1015–1018.

129. Resonant x-ray scattering at the Se edge in liquid crystal free-standing films and devices. / L.S.Matkin, H.F.Gleeson, P.Mach, C.C.Huang, R.Pindak, G.Srajer, J.Pollmann, J.W.Goodby, M.Hird, A.Seed // Appl. Phys. Lett. – 2000.

– V. 76. – P. 1863–1865.

130. Anisotropy of NH4Ap crystal X-ray susceptibility for Bragg reflection near Ck absorption edge. / A.V.Okotrub, G.S.Belikova, T.N.Turskaya, L.N.Mazalov // Mat. Res. Soc. Symp. Proc. – 1998. – V. 524. – P. 161–168.

131. Dmitrienko V.E. X-ray spectroscopy of thermally distorted electronic states in crystals. / V.E.Dmitrienko, E.N.Ovchinnikova, K.Ishida // Письма в ЖЭТФ. – 1999. – Т. 69. – С. 885–889.

132. Dmitrienko V.E. Resonant X-ray diffraction: ‘forbidden’ Bragg reflections induced by thermal vibrations and point defects. / V.E.Dmitrienko, E.N.Ovchinnikova // Acta Cryst. A. – 2000. – V. 56. – P. 340–347.

Pages: |

| 2 |

Главная >> Диссертации - все темы

[ СКАЧАТЬ ОРИГИНАЛ ДОКУМЕНТА .pdf ]

Похожие работы:

«Черкасский Андрей Владимирович ГЕНЕТИЧЕСКИЕ АСПЕКТЫ ФОРМИРОВАНИЯ ПОСЛЕОПЕРАЦИОННОГО СПАЕЧНОГО ПРОЦЕССА ПРИДАТКОВ МАТКИ И ЕГО ПРОГНОЗИРОВАНИЕ. 14.01.01.- акушерство и гинекология Диссертация на соискание ученой степени кандидата медицинских наук Научный руководитель : доктор медицинских наук, профессор...»

«ЛЕПЕШКИН Олег Михайлович СИНТЕЗ МОДЕЛИ ПРОЦЕССА УПРАВЛЕНИЯ СОЦИАЛЬНЫМИ И ЭКОНОМИЧЕСКИМИ СИСТЕМАМИ НА ОСНОВЕ ТЕОРИИ РАДИКАЛОВ 05.13.10 -Управление в социальных и экономических системах Диссертация на соискание ученой степени доктора технических наук Научный консультант : доктор технических наук, профессор Бурлов Вячеслав Георгиевич. Санкт-Петербург – 2014 ОГЛАВЛЕНИЕ СПИСОК ИСПОЛЬЗУЕМЫХ СОКРАЩЕНИЙ ВВЕДЕНИЕ...»

«МИХЕЕВ ВЯЧЕСЛАВ АРКАДЬЕВИЧ ЭКОЛОГИЯ СЕРЕБРЯНОГО КАРАСЯ CARASSIUS AURATUS GIBELIO Bloch ЦЕНТРАЛЬНОЙ ЧАСТИ КУЙБЫШЕВСКОГО ВОДОХРАНИЛИЩА 03.00.16. – Экология ДИССЕРТАЦИЯ на соискание ученой степени кандидата биологических наук Научный руководитель : к.б.н., профессор В.А. НАЗАРЕНКО Ульяновск, ОГЛАВЛЕНИЕ ВВЕДЕНИЕ... Глава I. ИСТОРИЯ ИЗУЧЕНИЯ ЭКОЛОГИИ СЕРЕБРЯНОГО КАРАСЯ. Глава II. МАТЕРИАЛ И МЕТОДИКА.. Глава...»

«Дрегля Алена Ивановна КРАЕВЫЕ ЗАДАЧИ В МОДЕЛИРОВАНИИ ФОРМОВАНИЯ ВОЛОКНА: аналитические и численные методы 05.13.18 Математическое моделирование, численные методы и комплексы программ Диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук Научный руководитель : доктор физико-математических наук, профессор Н.А....»

«Борискина Ольга Андреевна ОБНАРУЖЕНИЕ ПРОГНОСТИЧЕСКИ ЗНАЧИМЫХ МОЛЕКУЛЯРНО-ГЕНЕТИЧЕСКИХ МАРКЕРОВ ДЛЯ РАННЕЙ ВЫСОКОТОЧНОЙ ДИАГНОСТИКИ РАЗВИТИЯ АГРЕССИВНОГО ПАРОДОНТИТА 14.01.14 – стоматология Диссертация на соискание ученой степени кандидата медицинских наук...»

«из ФОНДОВ РОССИЙСКОЙ ГОСУДАРСТВЕННОЙ БИБЛИОТЕКИ Максимов, Павел Леонидович 1. Универсальные текнические средства для уБорки корнеклдБнеплодов 1.1. Российская государственная Библиотека diss.rsl.ru 2003 Максимов, Павел Леонидович Универсальные текнические средства для уБорки корнеклуБнеплодов [Электронный ресурс]: Дис.. д-ра теки. наук : 05.20.01.-М.: РГБ, 2003 (Из фондов Российской Государственной Библиотеки) Сельское козяйство — Меканизация и электрификация сельского козяйства — Тракторы,...»

« Клочко Ирина Владимировна ПЕДАГОГИЧЕСКИЕ УСЛОВИЯ ВОСПИТАНИЯ ПРАВОВОГО СОЗНАНИЯ СТАРШЕКЛАССНИКОВ: ДЕЯТЕЛЬНОСТНЫ Й ПОДХОД 13.00.01 – общая педагогика, история педагогики и образования Диссертация на соискание учёной степени ...»

«Цыганков Сергей Сергеевич ИССЛЕДОВАНИЕ АККРЕЦИРУЮЩИХ НЕЙТРОННЫХ ЗВЕЗД С СИЛЬНЫМ МАГНИТНЫМ ПОЛЕМ ПО ДАННЫМ КОСМИЧЕСКИХ ОБСЕРВАТОРИЙ 01.03.02 Астрофизика и радиоастрономия ДИССЕРТАЦИЯ на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук Научный руководитель кандидат физ.-мат. наук Лутовинов А.А. Москва Огромное спасибо моему научному руководителю Александру Анатольевичу Лутовинову. Диссертация является...»

«Бабин Константин Александрович ОСОБЕННОСТИ ОБМЕНА БИОГЕННЫХ АМИНОВ И СВОБОДНОРАДИКАЛЬНОГО ОКИСЛЕНИЯ ПРИ АЛКОГОЛЬНОМ ДЕЛИРИИ С СОПУТСТВУЮЩИМ ВИРУСНЫМ ГЕПАТИТОМ С 03.01.04 – биохимия Диссертация на соискание ученой степени кандидата медицинских наук Научный руководитель : доктор...»

«ЧЕРНЕЦКАЯ Юлия Владимировна КАДАСТРОВАЯ ОЦЕНКА ЗЕМЕЛЬНЫХ УЧАСТКОВ ИНДИВИДУАЛЬНОЙ ЖИЛОЙ ЗАСТРОЙКИ ГОРОДСКИХ НАСЕЛЕННЫХ ПУНКТОВ С УЧЕТОМ ОБРЕМЕНЕНИЙ И ОГРАНИЧЕНИЙ Специальность 25.00.26 – Землеустройство, кадастр и мониторинг земель ДИССЕРТАЦИЯ на соискание ученой степени...»

«Башкин Владимир Анатольевич Некоторые методы ресурсного анализа сетей Петри 05.13.17 – Теоретические основы информатики ДИССЕРТАЦИЯ на соискание ученой степени доктора физико-математических наук Научный консультант д. ф.-м. н., проф. И. А. Ломазова Ярославль – 2014 Содержание Введение...................................... 4 Предварительные сведения...................»

«ДЖАБОРОВ МЕХРУБОН МАХМАДКУЛОВИЧ ПОВЫШЕНИЕ ЭНЕРГЕТИЧЕСКОЙ ЭФФЕКТИВНОСТИ ЗОННЫХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ ДЛЯ ЭЛЕКТРОВОЗОВ НА ПЕРЕМЕННОМ ТОКЕ Специальность: 05.09.03 – Электротехнические комплексы и системы Диссертация на соискание ученой степени Кандидат технических наук Научный руководитель : доктор технических наук, профессор Н....»

«Каракулько Наталья Алексеевна ВЫБОР МЕТОДА ХИРУРГИЧЕСКОГО ЛЕЧЕНИЯ ПЕРЕЛОМОВ ДИСТАЛЬНОГО МЕТАЭПИФИЗА ЛУЧЕВОЙ КОСТИ 14.01.15 - травматология и ортопедия Диссертация на соискание ученой степени кандидата медицинских наук Научный руководитель Заслуженный врач РФ доктор медицинских наук профессор...»

«Шиховцов Алексей Александрович Закономерности влияния микроструктурных факторов на процесс локального замедленного разрушения стали 01.04.07 Физика конденсированного состояния Диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук Научный руководитель д-р.техн.наук, ст.научн.сотр. Мишин В. М. Ставрополь – 2014...»

«Баранова Светлана Измайловна Московский изразец в пространстве городской культуры конца XV – XVII века 24.00.03. Музееведение, консервация и реставрация историко-культурных объектов Диссертация на соискание ученой степени доктора исторических наук Консультант С.О. Шмидт Москва – ОГЛАВЛЕНИЕ Введение...»

«КАЛИНИН Владимир Анатольевич КЛИНИКО-ЭЛЕКТРОФИЗИОЛОГИЧЕСКИЕ ОСОБЕННОСТИ И ТЕЧЕНИЕ ЭПИЛЕПСИИ В РАЗЛИЧНЫХ ВОЗРАСТНЫХ ГРУППАХ 14.01.11 - нервные болезни Диссертация на соискание ученой степени доктора медицинских наук Научный консультант : доктор медицинских наук, профессор И.Е. Повереннова...»

«ЕРЁМЕНКО Александр Сергеевич АВТОМАТИЧЕСКИЙ МОНИТОРИНГ ТРОПИЧЕСКИХ ЦИКЛОНОВ ПО ДАННЫМ МЕТЕОРОЛОГИЧЕСКИХ СПУТНИКОВ ЗЕМЛИ Специальность 05.13.18 — Математическое моделирование, численные методы и комплексы программ ДИССЕРТАЦИЯ на соискание учёной степени кандидата технических наук Научный руководитель : д.т.н. Алексанин А.И....»

«ЕФРЕМОВА ВАЛЕНТИНА ЕВГЕНЬЕВНА НАУЧНОЕ ОБОСНОВАНИЕ ОПТИМИЗАЦИИ СИСТЕМЫ УПРАВЛЕНИЯ КАДРОВЫМИ РЕСУРСАМИ СРЕДНЕГО МЕДИЦИНСКОГО ПЕРСОНАЛА ФЕДЕРАЛЬНЫХ МЕДИЦИНСКИХ ОРГАНИЗАЦИЙ 14. 02. 03 - Общественное здоровье и здравоохранение ДИССЕРТАЦИЯ на соискание ученой степени кандидата медицинских наук Научный руководитель :...»

«Наркевич Артём Николаевич ОРГАНИЗАЦИЯ АКТИВНОГО ВЫЯВЛЕНИЯ ТУБЕРКУЛЕЗА ЛЕГКИХ ФЛЮОРОГРАФИЧЕСКИМ МЕТОДОМ НА ОСНОВЕ ИНДИВИДУАЛЬНОЙ ОЦЕНКИ ФАКТОРОВ РИСКА 14.02.03 – общественное здоровье и здравоохранение 14.01.16 – фтизиатрия Диссертация на соискание...»

«УДК 616-91; 614 (075.8) Мальков Павел Георгиевич ПРИЖИЗНЕННАЯ МОРФОЛОГИЧЕСКАЯ ДИАГНОСТИКА И ЭФФЕКТИВНОСТЬ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ РЕСУРСНОЙ БАЗЫ ПРАКТИЧЕСКОЙ ПАТОЛОГИЧЕСКОЙ АНАТОМИИ диссертация на соискание ученой степени доктора медицинских наук 14.03.02 – Патологическая анатомия 14.02.03 – Общественное здоровье и здравоохранение Научные консультанты: Франк Г.А., доктор медицинских наук,...»

наверх

<< ГЛАВНАЯ | КОНТАКТЫ

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА (Авторефераты, диссертации, методички, учебные программы, монографии)