WWW.DISS.SELUK.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА
(Авторефераты, диссертации, методички, учебные программы, монографии)

 

И.Н. БАРИНОВ, В.С. ВОЛКОВ

ЧУВСТВИТЕЛЬНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ МИКРОМЕХАНИЧЕСКИХ

ДАТЧИКОВ ДАВЛЕНИЙ.

ОСНОВЫ ПРОЕКТИРОВАНИЯ И РАЗРАБОТКИ

Учебное пособие

Пенза 2013

1

Содержание

Введение

1 Общие вопросы измерения давления. Давление как физическая величина 2 Принципы построения полупроводниковых тензочувствительных элементов датчиков давлений 2.1 Общие сведения о кремнии. Индексы Миллера 2.2 Тензоэффект и его математическое описание 2.2.1 Тензорезистивные коэффициенты 2.2.2 Температурные и концентрационные зависимости сопротивления тензорезистивных слоев 2.3 Мост Уитстона 2.4 Топология полупроводниковых тензочувствительных элементов датчиков давлений 2.4.1 Тензорезисторы р-типа проводимости на плоскости (100) 2.4.2 Тензорезисторы n-типа проводимости на плоскости (100) 2.4.3 Выбор и расчет конструкций полупроводниковых тензорезисторов 2.5 Температурная зависимость характеристик полупроводниковых тензочувствительных элементов. Температурная компенсация измерительного моста 2.5.1 Температурная компенсация при питании током 2.5.2 Температурная компенсация при питании напряжением Введение Давление является одной из основных величин, связанных с описанием жидких и газообразных сред. Большое разнообразие систем, в том числе и датчиковой аппаратуры, для измерения давлений объясняется тем, что понятие давление охватывает протяженную область значений – от сверхвысокого вакуума до сверхвысоких избыточных давлений [1]. По данным различных источников, одним из самых многочисленных классов датчиков, используемых в авиационной, ракетнокосмической технике, на атомных станциях, в общепромышленной аппаратуре и т.д., являются датчики давлений, в том числе и полупроводниковые, занимающие лидирующие позиции на мировом рынке датчиков [2, 9, 10, 11]. Полупроводниковые технологии применяются для создания датчиков давлений, перемещения, частоты вращения, линейных и угловых ускорений, температуры и др. При этом используются различные принципы преобразования: тензорезистивный, емкостной, резонансный, индукционный, ионизационный и др. [3]. Однако одним из самых распространенных типов чувствительных элементов для датчиков давлений являются чувствительные элементы на полупроводниковых технологиях, построенные на основе тензорезистивного эффекта. Это объясняется тем, что в большинстве случаев требуется одновременно обеспечить выполнение требований по нескольким параметрам датчиков точности, стабильности выходных характеристик, надежности, долговечности, низкой цене. Наиболее полно таким требованиям, по сравнению с чувствительными элементами на других принципах преобразования, удовлетворяют полупроводниковые тензорезистивные датчики давлений.

Кроме того, полупроводниковые тензорезисторы, ведя себя подобно широко известным проволочным или фольговым тензорезисторам, превосходят их, однако, по своей тензочувствительности (коэффициенту K). Коэффициент К у полупроводниковых тензорезисторов почти на два порядка выше, поэтому в случае продольных деформаций в 0,1% сопротивление меняется примерно на 10%. Следовательно, при основном сопротивлении тензорезистора порядка 100 Ом достигаются абсолютные изменения сопротивления от нескольких до десятков Ом.

Столь большие изменения сопротивлений практически устраняют многие трудности, с которыми связано использование проволочных тензорезисторов, например искажения, вызываемые термо-э.д.с. или изменением переходных сопротивлений контактов в подводящих проводах [4].

В современных тензорезистивных полупроводниковых датчиках давлений измеряемая величина – давление газообразных, жидких или сыпучих сред преобразуется в электрический сигнал полупроводниковым тензочувствительным элементом (ПТЧЭ), принцип действия которого основан на функциональной зависимости между измеряемым давлением и упругими деформациями чувствительного элемента, преобразующимися в электрический сигнал полупроводниковыми тензорезисторами. Кроме того, все существующие в настоящее время полупроводниковые тензорезистивные датчики давлений имеют одно принципиальное общее решение – ПТЧЭ с расположенными на нем тензорезисторами воспринимает измеряемое давление непосредственно, без промежуточного преобразования его в силу. Такие принципы построения сочетают простоту с высокой надежностью, что позволяет разрабатывать датчики давления экономичные и надежные, способные работать в сложных эксплуатационных условиях с минимальной погрешностью. Поэтому в настоящее время существует большое разнообразие конструктивно-технологических решений ПТЧЭ для использования их в датчиках давлений различного назначения.

В данной работе рассматриваются конструктивно-технологические решения полупроводниковых тензочувствительных элементов датчиков давлений, в частности общие вопросы измерения давления, принципы построения ПТЧЭ датчиков давлений, а также технологические методы создания таких ПТЧЭ.

1 Общие вопросы измерения давления. Давление как физическая величина Кинетическая теория газов утверждают, что давление является мерой полной кинетической энергии молекул [76]:

2 KE C 2 NRT, p 3V где KE – кинетическая энергия; V – объем; C2 – среднее значение квадрата скоростей молекул; – плотность; N – число молекул в единице объема; R – универсальная газовая постоянная; T – абсолютная температура.

Здесь предполагается, что давление и плотность газов связаны линейной зависимостью, то есть увеличение давление приводит к пропорциональному росту плотности. Например, при температуре 0С и давлении 1 атм. плотность воздуха составляет 1,3 кг/м3, в то время как при той же температуре, но давлении 50 атм. – его плотность уже будет 65 кг/м3, то есть в 50 раз больше. В отличие от газов плотность жидкостей мало меняется в широком диапазоне давлений и температур. Например, для воды при температуре 0С и давлении 1 атм плотность составляет 1000 кг/м3, в то время как при той же температуре и давлении 50 атм. – плотность равна 1002 кг/м3, а при температуре 100С и давлении 1 атм. – плотность равна 958 кг/м3.

Оценивать значение давления можно как в абсолютных, по отношению к вакууму, так и в относительных, по отношению к атмосферному давлению, единицах; кроме того, результат измерения может быть разностью двух произвольных величин двух разных давлений. Наконец, измерение давления может проводиться в различных средах, физические и химические характеристики которых весьма разнообразны.

Давление – это физическая величина, характеризующая воздействие усилия на единицу площади поверхности тела или условно выделенную внутри тела элементарную площадку [1].

Величина давления р жидкости или газа на стенку сосуда, который они полностью заполняют, определяется силой dF, действующей по нормали к элементу поверхности ds стенки сосуда:

р = dF / ds.

На жидкость действует также сила тяжести. Поэтому, например, в случае столба жидкости, находящейся в открытой вертикальной емкости, давление в точке на расстоянии h от поверхности равно сумме атмосферного давления р0 и массы столба жидкости, действующей на единицу площади:

p = p0 +gh, где плотность жидкости; g ускорение силы тяжести.

Если на жидкость действует еще какое-либо ускорение, необходимо учитывать также влияние силы инерции на величину давления.

Атмосферное давление р0, называемое барометрическим или гравитационным, является следствием земного притяжения, удерживающего частицы воздуха у поверхности Земли. На практике измерения осуществляются чаще всего относительно исходного атмосферного давления. Разность давлений внутри сосуда и атмосферного давления снаружи сосуда называется избыточным давлением, причем избыточное давление может быть как положительной, так и отрицательной величиной. Сумма барометрического и избыточного давлений называется абсолютным давлением.

Барометрическое давление в разных слоях атмосферы зависит от высоты их расположения над уровнем моря и изменяется по экспоненциальному закону:

где p0 и рН давления на уровне моря и на высоте Н соответственно; плотность воздуха на уровне моря.

Измерение давления в неподвижных жидкости или газе в замкнутых сосудах, полостях и трубопроводах сводится к измерению силы F, действующей на поверхность S стенки, ограничивающей среду объект измерения. В движущихся жидкости или газе различают три вида давления: статическое давление неподвижной среды ps, динамическое давление pd, обусловленное скоростью v движущихся жидкости или газа, и полное давление p, представляющее сумму этих двух давлений:

Динамическое давление, действующее на поверхность, нормальную направлению течения, увеличивает статическое давление на величину:

где v – скорость движения жидкости или газа; – плотность среды.

Отдельной областью является измерение акустических давлений – знакопеременных давлений в жидкостях и газах в звуковом и ультразвуковом диапазонах частот. Датчики акустических давлений должны реагировать только на переменную составляющую измеряемого давления, то есть на выходной сигнал не должно влиять атмосферное давление.

Единицей измерения давления и напряжения в системе СИ является Паскаль давление, вызываемое силой 1 Н, равномерно распределенной на поверхности м2 и нормальной к ней. Однако продолжают использоваться внесистемные единицы измерения давления, применение которых обусловлено практическими нуждами.

Иногда в качестве технической единицы измерения давления применяется единица, называемая атмосфера, обозначаемая 1 атм. Одна атмосфера это давление, которое оказывает столб воды высотой 1 метр на площадку 1 квадратный сантиметр при температуре +4С и нормальном гравитационном ускорении. Для грубых оценок можно запомнить соотношение: 0,1 мм H2O создает давление, приблизительно равное 1 Па. В промышленности применяется другая единица давления, называемая торр (это название дано в честь физика Торричелли), которая определяется как давление, создаваемое столбиком ртути высотой 1 мм при 0С, нормальном атмосферном давлении и нормальной гравитации. Идеальное давление атмосферы Земли, равное 760 торр, называется технической атмосферой. В системе единиц США давление измеряется в фунтах-силы на квадратный дюйм. Эта единица там обозначается как psi.

В таблице 1.1 (см. приложение) приведен перевод наиболее распространенных единиц измерения давления.

В акустических измерениях уровень звукового давления газовой среды (дБ) обычно оценивается в относительных единицах согласно формуле:

где р эффективное значение акустического давления, Па; p0 = 2·10-5 Па давление, соответствующее величине интенсивности звукового порога.

Перевод единиц из одной системы в другую в соответствии с приведенной выше формулой дан в таблице 1.2.

Таблица 1. В зависимости от скорости изменения давления, то есть характера зависимости р() все разнообразие задач измерения давлений можно свести к трем вариантам: измерение статических и медленноменяющихся давлений, измерение быстроменяющихся давлений и измерение импульсных давлений.

В промышленности принято к группе статических относить давления, значения которых остаются неизменными за время эксперимента или за время проведения измерений. Медленноменяющееся давление – это процесс, содержащий постоянную составляющую и гармонические составляющие с частотами до 20… Гц. К быстроменяющимся и импульсным давлениям относят процессы со случайным и гармоническим составляющими в частотном диапазоне от десятков до сотен тысяч раз.

Характер изменения медленноменяющихся давлений во времени различен:

р() может представлять собой сложную функцию, постоянная составляющая которой аппроксимируется, например, трапецеидальным импульсом с различными временами нарастания и спада при наличии вытянутого участка установившегося давления, сопровождаемого пульсацией давлений (рисунок 1.1, а).

а – медленноменяющееся давление; б – медленноменяющееся давление, сопровождаемое пульсацией; в – быстроменяющееся давление с постоянной составляющей; г – быстроменяющееся давление без постоянной составляющей; д – импульсное давление; е, ж – ударное или взрывное давление в рабочем диапазоне частот измерения давлений и дестабилизирующих факторов Рисунок 1.1 – Характер изменения давления во времени Быстроменяющиеся давления (см. рисунок 1.1, б) включают в себя периодически меняющиеся переходные процессы. Пульсация давления жидкости и газа и акустические шумы часто представляют собой случайный колебательный процесс (см. рисунок 1.1, в,г).

Импульсные давления имеют вид одиночных или периодически повторяющихся импульсов и характеризуются значительной амплитудой импульсов и короткими временами нарастания и спада процесса. Чаще всего эти процессы не имеют постоянной составляющей (см. рисунок 1.1, д-ж).

Наиболее жесткие метрологические требования предъявляются к датчикам и системам, измеряющим статические и медленноменяющиеся процессы. Это объясняется тем, что датчики должны с допускаемыми погрешностями одновременно измерять переходные процессы и установившиеся давления, сопровождаемые пульсацией. Эти требования противоречивы и во многих случаях трудно совместимы в одном датчике, так как для измерения переходных процессов с малой погрешностью необходима высокая частота собственных колебаний и малая степень успокоения, а для малой погрешности измерения установившегося давления, сопровождаемого высокой частотной пульсацией – необходима низкая частота собственных колебаний и большая степень успокоения. Датчики, предназначенные для измерения быстроменяющихся и пульсирующих давлений, должны обладать малыми динамическими погрешностями, то есть высокой частотой собственных колебаний и отсутствием механических и электрических резонансов в рабочем диапазоне частот измерения давлений и дестабилизирующих факторов. При этом для обеспечения допускаемых динамических погрешностей системы в целом каждый элемент системы (датчик-усилитель-преобразователь-регистратор) должны быть согласованы по частотным диапазонам измерений.

Таким образом, все задачи измерения давления можно разделить на следующие основные группы: измерение абсолютного или избыточного давления и измерение разности давлений. Отдельно следует выделить задачи измерения давления газов в пределах не выше атмосферного вакууметрию и измерение параметров звуковых волн в газовой и жидкостной среде акустические измерения. А в зависимости от скорости изменения давления, задачи измерения давлений можно свести к трем вариантам: измерение статических и медленноменяющихся давлений, измерение быстроменяющихся давлений и измерение импульсных давлений.

КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ

1 Какие давления называются избыточным и абсолютным?

2 Принципы построения полупроводниковых тензочувствительных элементов датчиков давлений Во второй части данной работы будут представлены и проанализированы наиболее типичные ПТЧЭ с точки зрения конструкции и топологии в зависимости от типа и диапазона измеряемого давления, а также требований по техническим параметрам и характеристикам датчиков давлений, имеющих в своем составе данные ПТЧЭ.

Перед представлением основ построения ПТЧЭ датчиков давлений в целом, рассмотрим в общем виде конструкцию и принцип работы одного, отдельно взятого ПТЧЭ с целью дальнейшего детального описания компонентов и принципов построения типичных ПТЧЭ датчиков давлений. В качестве примера возьмем ПТЧЭ датчика абсолютного давления, представленного на рисунке 2.1.

1 – Стеклянное основание; 2 – вакуумируемая полость; 3 – кремниевая подложка; 4 – слой двуокиси кремния; 5 – тензорезисторы; 6 мембрана; 7 – коммутационные шины; 8 терморезистор; 9 контактные площадки; 10 знаки совмещения Рисунок 2. ПТЧЭ состоит из двух частей – стеклянного основания (1) и кремниевой подложки (кристалла) (3), соединенных электростатическим методом (см. п. 3.8).

Между ними сформирована вакуумированная полость (2), обеспечивающая наличие в конструкции ПТЧЭ так называемого опорного давления. Это необходимо для обеспечения измерения абсолютного давления (см. п. 1), когда избыточное давление, воздействуя на ПТЧЭ с одной стороны в данном случае со стороны тензорезисторов (Ре на рисунке 2.1), суммируется с атмосферным давлением (Р на рисунке 2.1), которое также воздействует на ПТЧЭ лишь с одной, той же самой стороны, что обусловлено существованием с противоположной стороны вакуума, не оказывающего влияния на ПТЧЭ ни по причине воздействия избыточного или атмосферного давлений. Таким образом, избыточное давление, суммируясь с атмосферным, образует абсолютное. Причем не важно, с какой стороны кристалла располагается вакуумированная полость; необходимо лишь, чтобы Р0 и Ре воздействовали на него одновременно с одной стороны. Соответственно, конструкция любого ПТЧЭ для измерения избыточных давлений должна предусматривать возможность воздействия атмосферного давления на обе стороны кристалла, а измеряемого (то есть избыточного) – только на одну. Принцип работы ПТЧЭ заключается в следующем. Измеряемая величина-давление, воздействуя на мембрану (6), деформирует тензорезисторы (5), расположенные на мембране в местах наибольших поверхностных механических напряжений и увеличивает разбаланс мостовой схемы, в которую замкнуты тензорезисторы с помощью коммутационных шин (7), и, таким образом, получается выходной электрический сигнал, пропорциональный сопротивлению, изменяющемуся под воздействием давления.

Далее подробно остановимся на компонентах как представленного ПТЧЭ, указанных на рисунке 2.1, так и компонентах, не вошедших в его состав, но играющих немаловажную роль в конструкциях других ПТЧЭ для измерения разных типов давлений, их функциональном назначении и принципов построения.

2.1 Общие сведения о кремнии. Индексы Миллера В настоящее время и в обозримом будущем кремний останется основным материалом для производства ПТЧЭ датчиков давлений. Это объясняется рядом его уникальных физических и химических свойств.

Кремний как исходный материал доступен и дешев, а технология получения, очистки, обработки и легирования и т.п. хорошо разработана, что обеспечивает высокую степень кристаллографического совершенства изготавливаемых структур. По этому показателю кремний намного превосходит сталь.

Кремний обладает хорошими механическими свойствами. По значению модуля Юнга кремний приближается к нержавеющей стали и намного превосходит кварц и различные стекла. По твердости кремний близок к кварцу и почти вдвое превосходит железо. Монокристаллы кремния имеют предел текучести, который в три раза больше, чем у нержавеющей стали. Однако при деформации он разрушается без видимых изменений размеров, тогда как металлы обычно претерпевают пластическую деформацию. Причины разрушения кремния связаны со структурными дефектами кристаллической решетки, в основном расположенными на поверхности монокристаллов кремния. Полупроводниковая промышленность успешно решает проблему высококачественной обработки поверхности кремния, так что зачастую кремниевые механические компоненты (например, упругие элементы в сенсорах давления) превосходят по прочности сталь (таблица 2.1).

Таблица 2.1 Характеристики основных материалов микроэлектроники Кремний Высококачественная легированная сталь Обычная сталь Карбид Нитрид (Si3N4) Алюминий (Al) Монокристаллический кремний представляет собой твердый и хрупкий материал, упруго деформирующийся до достижения своего предела текучести – в этой точке происходит разрушение. Предел текучести кремния равен 7 ГПа, что эквивалентно массе 700 кг, подвешенной на площади 1 мм2. И предел прочности на разрыв, и твердость являются показателями сопротивления материала пластической деформации. Следовательно, они приближенно пропорциональны. Деформация материала, возникающая при повышенных температурах и статических напряжениях, называется ползучестью. Она определяется как зависящая от времени необратимая деформация материала под действием постоянной нагрузки.

Кремний не демонстрирует ни пластической деформации, ни ползучести при температурах ниже 500°С; поэтому кремниевые датчики по сути не подвержены усталостному разрушению при высоких циклических нагрузках. (Кремневые чувствительные элементы подвергались циклированию при более 100 миллионов циклов без наблюдаемых разрушений). Эта их способность выдерживать огромное число рабочих циклов объясняется тем, что в кремнии при комнатной температуре отсутствует механизм поглощения энергии или выработки тепла из-за межкристаллитного сдвига или смещения дислокаций. Однако при приложении нагрузки свыше предела текучести из-за хрупкости происходит катастрофическое разрушение монокристаллического кремния, а не пластическая деформация, как у металлов. При комнатной температуре материалы с высоким модулем упругости, например, Si, SiO2 и Si3N4, часто проявляют линейно-упругие свойства при более низких нагрузках и резко переходят к хрупкому разрушению при более высоких нагрузках. Пластическая деформация в металлах имеет в своей основе генерацию вызванных напряжением дислокаций на границах зерен и последующую миграцию этих дислокаций, которая приводит к макроскопической деформации из-за межкристаллитных сдвигов в материале. В монокристаллическом кремнии границы зерен отсутствуют, и пластическая деформация может возникнуть только из-за миграции дефектов, изначально имеющихся в решетке, или дефектов, появившихся у поверхности. Поскольку в монокристаллическом кремнии количество этих дефектов очень мало, этот материал можно считать совершенно упругим при нормальных температурах. Совершенная упругость подразумевает пропорциональность между напряжением и деформацией (т.е. нагрузкой и прогибом) и отсутствие необратимости или механического гистерезиса. Отсутствие неупругого поведения объясняет также крайне низкие механические потери в монокристаллическом кремнии. При повышенных температурах, а в металлах и полимерах и при обычных температурах, в диаграммах напряжений-деформаций могут возникать сложные изменения. Существенная пластичность может быть вызвана в монокристаллическом кремнии при высоких (более 800°C) температурах, когда кремний заметно размягчается, а подвижность дефектов в решетке значительно возрастает. Для исключения пластической деформации кремневых пластин важно на высокотемпературных этапах избегать пленок, обычно оксидных или нитридных, которые могут асимметрично напрягать или даже деформировать пластину.

Кремний является элементом четвертой группы периодической системы Д.И.

Менделеева и имеет порядковый номер 14. Электроны в атоме распределены по состояниям следующим образом:

Первая цифра номер энергетического уровня, латинские буквы характеризуют квадрат момента количества движения электрона вокруг ядра:

где постоянная Планка; l орбитальное число, l = 0,1,2,... Для Sсостояния l = 0, для P-состояния l = 1.

Цифра в показателе латинской буквы показывает, сколько электронов имеет данное значение М2 на указанном энергетическом уровне. Третий энергетический уровень является валентным, и валентность кремния равна 4. Более высокие энергетические уровни в обычных условиях являются пустыми. При объединении атомов кремния в кристалл образуется упорядоченная кристаллическая решетка, имеющая структуру алмаза (рисунок 2.2).

Рисунок 2.2 – Элементарная ячейка кремния В решетке такого типа каждый атом помещен в центре правильного тетраэдра и окружен четырьмя ближайшими атомами, находящимися в его вершинах (см.

рисунок 2.2, где тетраэдр выделен штриховыми линиями). Решетку алмаза можно рассматривать как наложение двух гранецентрированных решеток, сдвинутых друг относительно друга на пространственной диагонали. Из рассмотрения расположения выделенного атома кремния и его ближайших соседей неясно, какой симметрией в целом обладает кристаллическая решетка. Принято выделять кубическую ячейку с размером стороны h=5,42, которая принимается за элементарную ячейку кремния. Таким образом, число атомов кремния в кубическом сантиметре составляет значение примерно 51022. Из 18 атомов, показанных на рисунке 2.2, одной элементарной ячейке принадлежат только восемь, учитывая, что у атома, расположенного в вершине куба, элементарной ячейке принадлежат лишь 1/8 его часть, а у атома, расположенного на грани половина. Кристалл, построенный из элементарных ячеек, изображенных на рисунке, обладает кубической симметрией. Согласно принципу Неймана, такую же симметрию должны иметь и физические свойства кристалла, например электропроводность или упругость кремния.

Связь атома в кристаллической решетке кремния обусловлена специфическими обменными силами, возникающими в результате попарного объединения валентных электронов у смежных атомов. Такая связь (при которой каждый из атомов остается нейтральным) называется ковалентной.

Регулярность структуры кристалла приводит к зависимости его свойств от направления в кристаллической решетке – к анизотропии. Расположение кристаллических плоскостей, в которых находятся атомы, удобно характеризовать не в абсолютных единицах в ангстремах, микронах или сантиметрах, а в относительных. Для этой цели широко используются индексы Миллера (h,k,l). Будем измерять отрезки, отсекаемые кристаллографической плоскостью на осях системы координат x1x2x3, связанной со сторонами элементарной ячейки, в единицах постоянной решетки h1,h2,h3 вдоль указанных осей (для обозначения осей (направлений) индексы Миллера заключают в квадратные скобки: [hkl], а для соответствующих плоскостей – в круглые скобки: (hkl)). Пусть S1,S2,S3 соответствующие числа. Составим соотношения 1/S1:1/S2:1/S3 и выразим их через отношение трех наименьших целых чисел, которые и называются индексами Миллера для плоскости:

На рисунке 2.3 показана ориентация важнейших кристаллических плоскостей и приведены их индексы Миллера [24, 73].

Заданные индексы определяют не одну, а целое семейство параллельных плоскостей. Совокупность физически эквивалентных плоскостей обозначается символом {hkl}, а физически эквивалентных направлений. Примером могут служить шесть граней куба {100}:[100], [100], [001], [010], [010], [001]. Цифра 0 в индексах Миллера означает параллельность плоскости какой-либо из осей. Если точка пересечения грани с одной из осей находится на отрицательном направлении последней, то соответствующий индекс обозначается чертой над индексом.

а – Происхождение индексов Миллера; б – расположение атомов в кристаллографических плоскостях Рисунок 2. Так, индексы задней грани (100), левой (010) и нижней ) (001). Происхождение индексов Миллера показано на рисунках применительно к простейшей кубической решетке. Отрезки, отсекаемые данной плоскостью на осях координат, измеряют в единицах постоянной решетки: x=S1h, y=S2h, z=S3h, где S1, S2, S3 – целые числа. Затем обратные величины S11, S21, S31 приводят к общему наименьшему знаменателю и знаменатель отбрасывают; тогда числители образуют индексы Миллера для данной плоскости.

Каждой кристаллографической плоскости свойственна своя плотность атомов на единицу площади. Например, если «посмотреть» на кристалл с кубической решеткой перпендикулярно плоскостям (100), (110) и (111), то расположение атомов в поле зрения будет таким, как показано на рисунке 2.3, б (для ясности узловые атомы пронумерованы). Наибольшая плотность атомов соответствует плоскости (111), наименьшая плоскости (100). Если принять за единицу плотность упаковки атомами плоскости (100), то отношение между плотностями упаковки трех главных кристаллографических плоскостей в решетке кремния будет:

(100):(110):(111) = 1:1,4:2,3. У кремния плоскость (111) является плоскостью спайности: по ней, как правило, распространяются трещины и происходит раскалывание кристалла.

Для разных кристаллографических плоскостей оказываются разными многие свойства и параметры кристалла: оптические свойства, скорость травления и др.

Поэтому пластины для изготовления ПТЧЭ датчиков давлений шлифуют точно по заранее заданной кристаллографической плоскости, используя для контроля дифракцию рентгеновских лучей [19].

Для ПТЧЭ датчиков давлений большое практическое значение имеют пластины с ориентацией (100) и (110). Пластины ориентации (111) не могут быть обработаны с использованием анизотропного травления (за исключением анизотропного травления с использованием технологии создания дефектов лазерным излучением [30, 31]). Для большей наглядности на рисунках 2.4 и 2.5 показаны формы кристаллов, если бы они были собраны из граней различных ориентаций.

а {100}; б {111}; в {100} и {111} Рисунок 2.4 Преобладание в кристаллах различных граней Рисунок 2.5 грани {100} и {110} на кубе В таблице 2.2 представлены аналитические выражения, характеризующие анизотропию модуля Юнга, коэффициента Пуассона и модуля сдвига для кремния в плоскостях (100), (110), (111) [10].

Таблица 2. Параметр 11011 Па Коэффициент Все вышесказанное относится к монокристаллическому кремнию, являющимся основным материалом при построении ПТЧЭ датчиков давлений [24, 73].

Кроме монокристаллического, некоторое использование находит поликристаллический кремний, представляющий собой предельный случай беспорядочных дислокаций (смещение плоскостей кристаллической решетки) и дефектов в монокристаллическом кремнии и состоящий из множества монокристаллических зерен (микрокристаллов) с разной ориентацией, тесно примыкающих друг к другу. В поликристаллах отсутствует регулярность структуры и свойственная ей анизотропия свойств. Поликристаллы могут иметь мелко- и крупнозернистую структуру. От размеров зерен зависят многие электрофизические свойства, например, электропроводность. Чем крупнее зерна, тем меньше роль границ между зернами и тем, в частности, меньше удельное сопротивление поликристалла. Однако, поскольку микроструктура поликристаллов практически неконтролируема, воспроизводимость (повторяемость) их электрофизических свойств несравненно хуже, чем у монокристаллов. С другой стороны, поскольку поликристалл сам по себе содержит множество дефектов, то он оказывается сравнительно индифферентным к появлению новых дефектов, например, при нуклонном облучении. Отсюда повышенная радиационная стойкость поликристаллов и элементов на их основе. Но в общем, поликристаллы не стали основой при построении активных элементов большинства ПТЧЭ датчиков давлений и в основном играют вспомогательную роль, а ПТЧЭ на основе поликристаллического кремния используются, в основном, при разработке средств измерений специального назначения, когда выигрыш в приоритетных показателях, например, радиационной стойкости, компенсирует их недостатки [20].

2.2 Тензоэффект и его математическое описание Из предыдущего краткого описания принципа работы ПТЧЭ (см. п. 2) становится понятно, что в основе построения любого ПТЧЭ лежит использование тензорезисторов в качестве компонентов, преобразующих механическое напряжение в электрический сигнал. Поэтому детальное рассмотрение составляющих любого, в том числе и упомянутого ПТЧЭ, целесообразно начать именно с тензорезистора как основного компонента всей конструкции в целом. В общем виде тензорезистор это резистор, изменяющий свое сопротивление при деформации, вызванной механическими напряжениями. Данное явление получило название тензоэффекта.

Под воздействием продольного механического напряжения тензорезистор изменяет свое поперечное сечение, длину и удельное электрическое сопротивление. Следовательно, изменение общего сопротивления обусловлено двумя факторами: изменением геометрических размеров и изменением удельного электрического сопротивления. Зависимость между этими величинами можно представить следующим образом [4]:

где – деформация (относительное изменение длины); – удельное электрическое сопротивление; l – длина; А – площадь поперечного сечения.

При ()=0(1+), l()=l0(1+) и А()=А0(1-)2 получаем:

где – коэффициент Пуассона.

Для малых относительных деформаций, то есть пренебрегая членами с 2 и учитывая, что начальное электрическое сопротивление проводника равно R0=l00/A0, получаем:

Коэффициент (1+2+), называемый коэффициентом тензочувствительности, является мерой чувствительности тензорезистора и обозначается через К.

Иначе формула (2.1) запишется:

Так как коэффициент Пуассона у металлов равняется примерно 0,3, а вклад изменения удельного электрического сопротивления (определяемого значением коэффициента ) в общее изменение сопротивления тензорезистора составляет 20%, то коэффициент К для проволочных тензорезисторов приблизительно равен 2. Аналогичный эффект был обнаружен у полупроводниковых материалов при исследовании воздействия на них механических напряжений [5]. Существенное отличие от металлов заключается, однако, в том, что значение коэффициента велико и общее изменение сопротивления почти на 98% обусловлено изменением удельного электрического сопротивления и только на 2% связано с изменением геометрических размеров. В результате чувствительность К полупроводниковых тензорезисторов достигает значений порядка 50-150. Такая большая чувствительность является существенным преимуществом подобных тензорезисторов. Их основной недостаток заключается в зависимости сопротивления и чувствительности от температуры.

Следует подчеркнуть, что здесь рассматривается чисто объемный эффект, то есть в преобразовании принимает участие весь объем полупроводника. Тот известный факт, что изменение механического напряжения, приложенного к р-n переходу, приводит к изменению электрических характеристик этого перехода, здесь не рассматривается.

Исходным пунктом наших рассмотрений является уравнение электропроводности в общем виде с учетом анизотропии, устанавливающее связь между компонентами вектора напряженности поля Е, компонентами вектора плотности тока jk и компонентами механического тензора напряжения. Разлагая правую часть этого уравнения в ряд Тейлора в точке jk=0, Tlm=0 вплоть до членов второго порядка, получаем следующее выражение:

где Частные производные имеют следующий наглядный смысл:

В кристаллах кубической симметрии из девяти компонент тензора удельного сопротивления (см.уравнение (2.3)) шесть равны нулю, а остальные три равны между собой. Это означает изотропию удельного сопротивления для такого полупроводникового материала, как кремний.

Согласно работе [6], коэффициенты уравнения (2.4) для кристаллографического класса 32 тождественно равны нулю, а тем самым равны нулю и их частные производные в уравнении (2.6). То же можно сказать о компонентах уравнения (2.5).

Помимо удельного сопротивления, остаются лишь коэффициенты iklm которые представляют особый интерес. Таким образом, уравнение электропроводности для описываемого здесь случая принимает следующий вид:

Поскольку величина [(jk, Tlm)]0,0 до механического воздействия имеет каждый раз определенное начальное значение, вводим для нее обозначение (0,0) ((0,0) – удельное сопротивление при j=T=0). Аналогично и для [iklm(jk, Tlm)]0,0= ilkm и ikjk=ji. Тогда имеем:

Развернутая запись уравнения (2.8), отнесенная к кристаллографическим осям кубической системы, с учетом некоторых вычислительных операций, подробно описанных в работе [6] (прежде всего замена индексов: 11 на 1; 22 на 2; на 3; 23 на 4; 13 на 5 и 12 на 6) и приводящих к упрощению записи для значений iklm и Tlm, принимает следующий вид:

Эти уравнения можно теперь применить к конкретным случаям, как показано ниже.

Продольный эффект.

В направлении одной кристаллографической оси действует нормальное напряжение, например T1, ток также течет в направлении 1 (плотность тока j1). Тогда при T1 0; T2… T6 = 0; j1 0; j2 = j3 = 0 получаем:

Поперечный эффект.

В направлении одной кристаллографической оси действует нормальное напряжение, например T1, ток течет в перпендикулярном к нему направлении, например 2. Тогда при T1 0; T2… T6 = 0; j2 0; j1 = j3 = 0, так как Ei имеет то же направлении, что и j, получаем:

Сдвиговый эффект.

Действует сдвиговое напряжение, например Т4; ток течет в направлении одной кристаллографической оси, например 1. Тогда при T4 0; T1… T3 и T5, T6 = 0;

j1 0; j2 = j3 = 0 получаем:

то есть на ток в направлении 1, очевидно, не оказывает влияния сдвиговое напряжение Т4.

Для T4 0; T1… T3 и T5, T6 = 0; j2 0; j1 = j3 = 0, однако, имеем:

Последний член свидетельствует о том, что сдвиговые напряжения вызывают появление напряженности поля, направленной перпендикулярно направлению протекания тока; при этом не все направления равнозначны; это можно показать, проведя расчет всех возможных вариантов.

Эффект сжатия.

Действует гидростатическое давление р; ток течет, например, в направлении 1. Тогда при T1 = T2 = T3 = -р; и T4 = T5 = T6 = 0; j1 0; j2 = j3 = 0 имеем:

В приведенных случаях коэффициенты тензосопротивления np называют соответственно продольными, поперечными, сдвиговыми коэффициентами и коэффициентами сжатия. Приведенные примеры показывают, как можно измерить соответствующие коэффициенты. Прикладывая определенное механическое напряжение и зная удельное сопротивление, измеряют силу тока и электрическое напряжение.

Для кубических кристаллов того класса симметрии, к которому принадлежит кремний, в системе кристаллографических осей для описания тензорезистивного эффекта достаточно знать три коэффициента 11, 12, 44, которые иногда называют главными тензорезистивными коэффициентами [4].

Эти коэффициенты приведены в таблице 2.2 для температуры 300 К и указанных удельных сопротивлений [17, 7].

Рассмотренные выше случаи ограничиваются декартовой системой координат, ориентированной в направлении кристаллографических осей. Разумеется, применяемые ПТЧЭ можно также вырезать из монокристалла под любым углом.

В этом случае также возникают тензорезистивные эффекты. Математически их расчет проводится преобразованием системы координат, причем новая система координат получается из первоначальной путем вращения и, как и та, снова является ортогональной. Таким образом, получается расчет для общего случая.

Математическое рассмотрение самого общего случая представлено в [8].

Приведем лишь некоторые выводы из такого рассмотрения, имеющие большое практическое значение:

топологию ПТЧЭ можно спроектировать так, чтобы эффект в определенном направлении принял максимально возможное значение;

можно изготовить ПТЧЭ, которые независимо от ориентации тензорезисторов всегда измеряли бы сумму главных напряжений;

ПТЧЭ можно ориентировать так, чтобы они теоретически обладали исчезающе малой чувствительностью к поперечным или сдвиговым механическим воздействиям. Практически разработанные преобразователи имеют чувствительность к поперечному механическому воздействию порядка 45 дБ, что составляет 1:166 по сравнению с чувствительностью к продольному воздействию.

Именно этот последний случай имеет особое значение в измерительной технике.

Коэффициенты тензосопротивления, приведенные в таблице 2.2, зависят от ориентации, температуры и уровня легирования. Для кремния n-типа проводимости наибольшую роль играет 11, а для кремния p-типа проводимости 44 (как обладающие наибольшими значениями). Коэффициенты тензосопротивления связаны с коэффициентом тензочувствительности с помощью модуля Юнга.

Вклад в изменения сопротивления вносится напряжениями – продольными и поперченными, относительно текущей деформации:

где 1 – продольный компонент напряжения, то есть компонент напряжения, параллельный направлению текущей деформации; t – поперечный компонент напряжения, то есть компонент напряжения, перпендикулярный направлению текущей деформации; 1 – продольный тензорезистивный коэффициент; t – поперечный тензорезистивный коэффициент.

Тензорезистивные коэффициенты 1 и t для кремния (100) как функция ориентации кристалла показаны на рисунке 2.6 [18].



Похожие работы:

«Министерство образования и науки Российской Федерации Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ЛЕСОТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ имени С. М. Кирова Кафедра технологии лесопиления и сушки древесины С. И. Акишенков, кандидат технических наук, доцент В. И. Корнеев, кандидат технических наук, доцент А. М. Артеменков, кандидат технических наук, доцент ГИДРОТЕРМИЧЕСКАЯ ОБРАБОТКА И КОНСЕРВИРОВАНИЕ ДРЕВЕСИНЫ...»

«Академия наук Республики Татарстан Российская Академия наук Институт проблем экологии и недропользования АН РТ Институт проблем экологии и эволюции им. А.Н. Северцова РАН Институт экологии растений и животных УрО РАН МАТЕРИАЛЫ Третьей Всероссийской научной конференции (с международным участием) ДИНАМИКА СОВРЕМЕННЫХ ЭКОСИСТЕМ В ГОЛОЦЕНЕ 12-15 марта 2013 г., Казань, Республика Татарстан, Россия PROCEEDING The Third Russian Scientific Conference with International Participation THE DYNAMICS OF...»

«Технология обучения восприятию и пониманию содержания текста. Приемы формирования умения анализировать художественный текст с учетом авторской концепции и текст публицистического стиля с учетом его проблемной направленности. Приемы развития основ конвергентного мышления и способности к экстраполяции знаний. Проектирование учебного занятия по теме Развитие УУД при обучении восприятию и пониманию содержания художественного текста Задачи на этапе целеполагания урока и создания его конструкта. 1....»

«Международный консорциум Электронный университет Московский государственный университет экономики, статистики и информатики Евразийский открытый институт А.П. Архипов А.С. Адонин Страховое дело Учебно-методический комплекс Москва 2008 1 ББК – 368 УДК – 65.271 А – 877 Архипов А.П., Адонин А.С. СТРАХОВОЕ ДЕЛО: Учебно–методический комплекс. М.: Изд. центр ЕАОИ. 2008. 424 стр. В учебном пособии системно излагаются вопросы истории, теории, законодательной основы, понятийного аппарата, классификации,...»

«ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ НОВОТРОИЦКИЙ ФИЛИАЛ ФЕДЕРАЛЬНОГО ГОСУДАРСТВЕННОГО ОБРАЗОВАТЕЛЬНОГО УЧРЕЖДЕНИЯ ВЫСШЕГО ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ “ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ “МОСКОВСКИЙ ИНСТИТУТ СТАЛИ И СПЛАВОВ” Кафедра оборудования металлургических предприятий Рассмотрено и одобрено на заседании кафедры В.Д. Задорожный МЕТРОЛОГИЯ, СТАНДАРТИЗАЦИЯ И СЕРТИФИКАЦИЯ Методические рекомендации для выполнения курсовой работы для студентов специальности 150404 – Металлургические...»

«ДЕПАРТАМЕНТ ПО АРХИВАМ И ДЕЛОПРОИЗВОДСТВУ УДК 930.25(476)(083.132) МИНИСТЕРСТВА ЮСТИЦИИ РЕСПУБЛИКИ БЕЛАРУСЬ ББК 79.3(4Беи) О13 БЕЛОРУССКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ДОКУМЕНТОВЕДЕНИЯ И АРХИВНОГО ДЕЛА УТВЕРЖДЕНО Приказ Директора Составители: Департамента по архивам С. В. Жумарь, Е. Л. Тарасевич и делопроизводству Министерства юстиции Республики Беларусь 15.07.2011 № Обеспечение оптимальных условий хранения Обеспечение оптимальных условий хранения документов на бумаждокументов на бумажных...»

«Министерство образования и науки Российской Федерации Отделение среднего профессионального образования филиала Федерального государственного бюджетного образовательного учреждения высшего профессионального образования Уфимский государственный авиационный технический университет в г.Кумертау Авиационный технический колледж Методические указания по оформления текстовой и графической части расчетно - графических, курсовых, дипломных работ Специальности 140448 Техническая эксплуатация и...»

«МИНОБРНАУКИ РОССИИ Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования РОССИЙСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ГУМАНИТАРНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ (РГГУ) ИНСТИТУТ ФИЛОЛОГИИ И ИСТОРИИ ИСТОРИКО-ФИЛОЛОГИЧЕСКИЙ ФАКУЛЬТЕТ Кафедра славистики и центральноевропейских исследований ИСТОРИЯ И ДИАЛЕКТОЛОГИЯ ОСНОВНОГО ЯЗЫКА (ПОЛЬСКИЙ ЯЗЫК) Рабочая программа курса для бакалавриата по направлению 032700 – Филология Москва 2013 1 ИСТОРИЯ И ДИАЛЕКТОЛОГИЯ ОСНОВНОГО ЯЗЫКА (ПОЛЬСКИЙ...»

«Ярославская областная универсальная научная библиотека имени Н. А. Некрасова Научно-методический отдел Профессиональная мотивация персонала ЯОУНБ имени Н. А. Некрасова Материалы исследования Ярославль, 2013 ББК 88,566,3 П84 составитель: В. П. Зубакина, главный библиотекарь Научно-методического отдела редактор: А. В. Журавлева, зав. Информационно-библиографическим отделом ответственный за выпуск: Н. В. Абросимова, заместитель директора по научной работе Профессиональная мотивация персонала ЯОУНБ...»

«Федеральное государственное общеобразовательное учреждение высшего профессионального образования Московский государственный агроинженерный университет имени В.П. Горячкина В.Ш. Магадеев Методические указания по курсовому и дипломному проектированию Расчет тепловой схемы и выбор основного оборудования промышленноотопительных котельных Москва 2007 2 Рецензенты: Доктор технических наук, заведующий лабораторией ОАО Всероссийский технический институт Ю.П. Енякин Доктор технических наук, профессор...»

«Министерство образования Российской Федерации Санкт-Петербургский государственный горный университет Хибинский технический колледж А.И. Назаров ЭЛЕКТРООБОРУДОВАНИЕ И ЭЛЕКТРОСНАЖЕНИЕ КАРЬЕРОВ МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ по выполнению курсовой работы по дисциплине Электрооборудование и электроснабжение карьеров для студентов специальности 140613 Кировск 2011 2 РАССМОТРЕНО УТВЕРЖДАЮ на заседании ЦК ГЭМ Зам. директора ХТК “”2010 г. по УМР Председатель ЦК ГЭМ _В. А. Ганичева Е.В. Саяпина “”2010 г...»

«Министерство образования и науки, молодежи и спорта Украины Севастопольский национальный технический университет ТЕМАТИКА КОНТРОЛЬНЫХ РАБОТ И МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ ПО ИХ ВЫПОЛНЕНИЮ по дисциплине Политэкономия для студентов экономических специальностей всех форм обучения Севастополь 2012 Create PDF files without this message by purchasing novaPDF printer (http://www.novapdf.com) Create PDF files without this message by purchasing novaPDF printer (http://www.novapdf.com) УДК 665.3. Тематика...»

«ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ Волгоградский государственный технический университет Кафедра Сопротивление материалов Методические указания к лабораторной работе T 3 1 ух ху ху x ух 1 3 T РПК Политехник Волгоград 2008 УДК 539. 3 Исследование плоского напряжённого состояния: метод. указ. к лабораторной работе / Сост.: В. П. Багмутов, А. А. Белов, О. В. Кондратьев – ВолгГТУ. – Волгоград, 2008. – 16 с. Описана методика определения главных нормальных напряжений и положения главных площадок...»

«Дополнительное образование детей Москвы от А до Я. 2013. Т. 2. № 3. http://додмск. рф Всероссийский педагогический фестиваль Берега детства Уважаемые читатели! Мы представляем Вашему вниманию новый раздел, посвященный педагогическому фестивалю Берега детства (Московский межрегиональный открытый Фестиваль педагогических идей и решений в дополнительном образовании детей). В 2012/13 уч. г. фестиваль был проведен уже во второй раз. В процессе проведения Фестиваля был организован обмен мнениями по...»

«МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования ШУЙСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ПЕДАГОГИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ Кафедра теории и методики физической культуры и спорта УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКИЙ КОМПЛЕКС по дисциплине ФИЗИОЛОГИЯ ФИЗИЧЕСКОГО ВОСПИТАНИЯ И СПОРТА для специальности 050720.65 - Физическая культура со специализацией Физическое воспитание в дошкольных учреждениях Составитель: Воробушкова М.В., доктор медицинских наук,...»

«УЧРЕЖДЕНИЕ ОБРАЗОВАНИЯ ФЕДЕРАЦИИ ПРОФСОЮЗОВ БЕЛАРУСИ МЕЖДУНАРОДНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ МИТСО УТВЕРЖДЕНО Приказ ректора университета 20.03.2014 № 98 МЕТОДИЧЕСКИЕ РЕКОМЕНДАЦИИ ПО ПОДГОТОВКЕ, ОФОРМЛЕНИЮ И ЗАЩИТЕ КУРСОВЫХ И ДИПЛОМНЫХ РАБОТ, МАГИСТЕРСКИХ ДИССЕРТАЦИЙ Минск 2014 СОСТАВИТЕЛЬ: зав. кафедрой адвокатуры, канд.юрид.наук, доцент И.А. Маньковский РАССМОТРЕНЫ И РЕКОМЕНДОВАНЫ К УТВЕРЖДЕНИЮ: кафедрой международного права (протокол № 8 от 27.02.2014) заведующий кафедрой А.Л. Козик кафедрой адвокатуры...»

«ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ И НАУКЕ ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНСТВО ПО ЗДРАВООХРАНЕНИЮ И СОЦИАЛЬНОМУ РАЗВИТИЮ ГОУ ВПО АМУРСКАЯ ГОСУДАРСТВЕННАЯ МЕДИЦИНСКАЯ АКАДЕМИЯ БЛАГОВЕЩЕНСКИЙ ФИЛИАЛ НОУ ВПО МОСКОВСКАЯ АКАДЕМИЯ ПРЕДПРИНИМАТЕЛЬСТВА ПРИ ПРАВИТЕЛЬСТВЕ Г. МОСКВЫ КОВАЛЕНКО А.И., ПИСКУН А.И., ТИМОШЕНКО Т.В. МОРАЛЬ И ПРАВО В МЕДИЦИНЕ Учебное пособие г. Благовещенск 2007 г. УДК 614. Коваленко А.И., Пискун А.И., Тимошенко Т.В. Мораль и право в медицине: Учебное пособие – Благовещенск, 2007. Рецензенты:...»

«Указатель литературы, поступившей в библиотеку Муромского института в 2004 году Библиотека МИ Муром 2005 г. ОГЛАВЛЕНИЕ ОГЛАВЛЕНИЕ ОБРАЗОВАНИЕ. СОЦИАЛЬНАЯ РАБОТА ИСТОРИЯ. КУЛЬТУРОЛОГИЯ. ПОЛИТИЧЕСКИЕ НАУКИ. СОЦИОЛОГИЯ. ФИЛОСОФСКИЕ НАУКИ. ПСИХОЛОГИЯ. 5 ЭКОНОМИКА. ЭКОНОМИЧЕСКИЕ НАУКИ. ОРГАНИЗАЦИОННОЕ ПРОИЗВОДСТВО И ПЛАНИРОВАНИЕ. ТЕХНИКА БЕЗОПАСНОСТИ ГОСУДАРСТОВО И ПРАВО. ЯЗЫКОЗНАНИЕ ЕСТЕСТВОЗНАВНИЕ. МАТЕМАТИКА. ФИЗИКА. ХИМИЯ. БИОЛОГИЯ. МЕДИЦИНА. ЗДОРОВЬЕ АВТОМАТИКА. КИБЕРНЕТИКА. ИНФОРМАТИКА....»

«ДЕПАРТАМЕНТ ОБРАЗОВАНИЯ ГОРОДА МОСКВЫ Государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования города Москвы МОСКОВСКИЙ ГОРОДСКОЙ ПЕДАГОГИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ ПРОГРАММА ВСТУПИТЕЛЬНЫХ ИСПЫТАНИЙ ГЕОГРАФИЯ Москва 2014 г. Содержание 1. Форма проведения вступительного испытания 2. Правила проведения вступительного испытания 3. Программа 3.1. Организационно-методические указания 3.2. Требования к владению материалом 3.3. Основные понятия и особенности 3.4. Содержание и...»

«Федеральное агентство по образованию Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования ГОРНО-АЛТАЙСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ Кафедра анатомии, физиологии человека и животных АНАТОМИЯ И МОРФОЛОГИЯ ЧЕЛОВЕКА Учебно-методический комплекс Для студентов, обучающихся по специальности 050102 Биология квалификация учитель биологии Горно-Алтайск РИО Горно-Алтайского госуниверситета 2008 Печатается по решению методического совета Горно-Алтайского государственного...»




























 
2014 www.av.disus.ru - «Бесплатная электронная библиотека - Авторефераты, Диссертации, Монографии, Программы»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.