«Т. А. Алексеева ИСПЫТАНИЯ, КОНТРОЛЬ И СЕРТИФИКАЦИЯ РАДИОЭЛЕКТРОННЫХ СИСТЕМ Учебно-методический комплекс для студентов радиотехнического факультета специальности 1-39 02 01 Моделирование и компьютерное проектирование ...»
Уменьшение подвижности и концентрации основных носителей, а также снижение времени жизни неосновных носителей вызывает уменьшение коэффициента передачи базового тока, рост токов утечки и напряжения насыщения биполярного транзистора, а также изменение обратного напряжения диода и емкости перехода. Изменение параметров компонентов ИС влияет на статические и динамические характеристики микросхем.
На рис. 5.3, (а) приведены данные по сравнительной устойчивости ИС различных типов к воздействию потока нейтронов.
Из рис. 5.3 (а) видно, что ТТЛ ИС сохраняют устойчивость к нейтронному облучению, в широком диапазоне от 1 - 1014 до 2 • 1015 см2. Наиболее перспективным с точки зрения устойчивости к воздействию потока нейтронов в ТТЛ-технологии является ТТЛШ-схемы, среди биполярных схем ЭСЛ схемы наиболее радиационно-стойкие. У аналоговых ИС диапазон отказов лежит в следующих пределах 1. 1012 до 1 - 10м см2.
Уменьшение подвижности и концентрации основных носителей, а также снижение времени жизни неосновных носителей, вызывает уменьшение коэффициента передачи базового тока, рост токов утечки и напряжения насыщения биполярного транзистора, а также изменение обратного напряжения диода и емкости перехода. Изменение параметров компонентов ИС влияет на статические и динамические характеристики микросхем.
На рис. 5.3, а приведены данные по сравнительной устойчивости ИС различных типов к воздействию потока нейтронов.
Из рис. 5.3, а видно, что ТТЛ ИС сохраняют устойчивость к нейтронному облучению в широком диапазоне – от 1 – 1014 до 2·1015 см2. Наиболее перспективным с точки зрения устойчивости к воздействию потока нейтронов в ТТЛ-технологии является ТТЛ ИС-схемы, среди биполярных схем ЭСЛ-схемы наиболее радиационно-стойкие. У аналоговых ИС диапазон отказов лежит в пределах от 1·1012 до 1·1014 см–2.
Непрерывное воздействие общей дозы облучения приводит к увеличению токов утечки в биполярных транзисторах, особенно рассчитанных на малые рабочие токи и с большей плотностью переходов. Токи утечки могут достигать значений, при которых происходит отказ биполярных ИС уже при уровнях радиации порядка 105 рад (Si). Цифровые ТТЛ, И2Л ЭСЛ во многих случаях нормально функционируют при дозах 107 рад (Si) (см.
рис. 5.3, б).
Рис. 5.3. Радиационная стойкость ИС, изготовляемой по различным технологиям, при воздействии потока нейтронов (а), общей дозы излучения (б) Влияние общей дозы облучения на МОП-приборы более существенно, так как в функционировании указанных схем основную роль играют поверхностные эффекты, а ионизирующее излучение приводит к увеличению заряда на поверхности кристалла. ИС с алюминиевым затвором выдерживают дозу ~ 105 рад (Si). КМОП/КНС характеризуются повышенной радиоактивной стойкостью, нечувствительностью диэлектрической подложки (сапфира) к радиации и малой площадью р-n-переходов. В настоящее время КМОП/КНС устойчивы к дозе порядка 105 107 рад (Si).
Импульсное воздействие ионизирующего излучения приводит к появлению фототока в любом обратносмещенном р-n-переходе, например, в коллекторном переходе биполярного транзистора или в р-n-переходах, используемых для изоляции стандартных биполярных ИС. Величина этого фототока зависит от мощности дозы излучения и может достигать значений, достаточных для изменения состояния логической «1» на логический «0» в цифровых ИС.
В момент импульсного воздействия в р-n-переходе образуются избыточные неосновные носители. В результате этого возникает импульс тока, который является преобладающим радиационным эффектом при данном виде ИИ.
Порог устойчивости к возбуждению ИИ зависит от технологии ИС (см. рис. 5.3, в). Для ТТЛ ИС малой и средней степени интеграции он охватывает диапазон от 107 до 109 paд/(Si). ЭСЛ-технология имеет устойчивость порядка 6 – 104 – 3·108 рад/с (Si) при длительности импульса 20 – 100 м·с.
И2Л схемы более устойчивы, чем ТТЛ ИС – 3·109 рад/с (Si).
КМОП/КНС технология наиболее устойчива к данному виду излучения – порядка 5·109 рад/с (Si). На основе проведенного сравнительного анализа и проведенных радиационных испытаний различных ИМС можно сделать следующие выводы:
1. Наиболее высокой радиационной стойкостью обладают ЭСЛсхемы, так как в данной технологии используются ВЧ транзисторы, работающие в линейном (ненасыщенном) режиме при больших рабочих токах.
Необратимые отказы при непрерывном облучении наблюдаются при потоках быстрых нейтронов свыше 1015 см2, а при облучении j-квантами – при общей дозе порядка 107 рад (Si). Диапазон уровня отказов ЭСЛ ИС при импульсном облучении лежит в пределах 1·108 – 6·109 рад/с (Si).
2. Установлено, что устойчивость ТТЛ-схем к потоку нейтронов составляет свыше 1014 см–2, а к общей дозе -излучения – от 106 до 107 рад (Si).
Обратимые отказы при импульсном облучении наблюдаются при уровнях 107 рад/с (Si).
Далее по стойкости воздействия идут И2Л и КМОП/КНС.
Диапазон устойчивости И2Л-схем широк: 1013 – 1015 см–2 по потоку нейтронов, 8·104 – 8·106 рад/с (Si) по накопленной дозе и 8 107 – 9·109 рад/с (Si) по мощности дозы -излучения.
3. Для КМОП/КНС-технологии характерны повышенная радиационная стойкость – диапазон устойчивости к воздействию потока нейтронов достигает 1015 см–2, обратимые изменения при импульсном -облучении наступают при мощности дозы свыше 5 109 рад (Si). Однако КПОМ/КНС ИС обладают сравнительно низкой устойчивостью к накопленной дозе облучения; порог устойчивости составляет 1 106 рад (Si).
Аналоговые схемы по всем трем показателям (Фn, Дj. Pj) более чувствительны к воздействию ИИ, чем цифровые ИС, что обусловлено прежде всего высоким напряжением питания (±15 В против 5B) Диапазон отказов линейных схем лежит в широких пределах: 1 1012 5 1014 см 2 по потоку нейтронов, 5 103 – 10 7 рад (Si) по общей дозе излучения и 108 рад/с (Si) по мощности дозы облучения. Одним из методов улучшения радиационной стойкости ИМС является использование для их построения элементной базы, имеющей более высокую радиационную стойкость.
5.4. Методика проведения радиационных испытаний Принципиальной особенностью проведения радиационных испытаний РЭС на МУ является дистанционный контроль регистрируемых параметров РЭС в процессе и после облучения. При этом для обеспечения дистанционного контроля применяют специализированные измерительные линии, учитывающие специфику моделируемого радиационного воздействия.
Типовая модель организации РЭС на МУ представлена блок-схемой на рис. 5.4.
Испытания проводят следующим образом. Объект испытаний размещают в экспериментальном объеме технологического помещения (ТП), в котором располагается моделирующая установка. Биологическая защита необходима для локализации моделируемых ионизирующих излучений внутри технологического помещения и обеспечения безопасности персонала и КИА, размещающихся в измерительном помещении. Предполагаемый уровень моделируемого воздействия задают с помощью картограмм полей излучения путем выбора расстояния от объекта испытаний до выводного узла МУ.
Конкретное значение достигнутых при испытаниях уровней облучения определяют в процессе испытаний по показаниям дозиметров, тип которых зависит от моделируемого воздействия. Датчики излучения формируют электрический сигнал, характеризующий форму моделируемого воздействия. На импульсных моделирующих установках этот сигнал используется для синхронизации работы контрольно-измерительной аппаратуры и моделирующей установки, а также для определения мощностных характеристик воздействующего фактора.
Реакция РЭС по измерительной линии поступает для регистрации на измерительные входы контрольно-измерительной аппаратуры. С помощью КИА по измерительной линии также задают требуемые электрические режимы РЭС. Наличие необходимой биологической защиты технологического объема ограничивает минимальную длину измерительных линий, что особенно важно учитывать при разработке измерительных методик, которые должны обеспечивать максимальную достоверность получаемых результатов.
Рис. 5.4. Блок-схема организации дистанционных измерений при проведении МУ – моделирующая установка; ДИ – датчики излучения;
ТП – технологическое помещение; ИП – измерительное помещение;
ЭО – экспериментальный объем; КИА – контрольно-измерительная аппаратура;
БЗ – биологическая защита; СС – система синхронизации;
РЭС – радиоэлектронное ИЛ(РЭС) – измерительная линия РЭС;
Отличительной особенностью проведения испытаний на импульсных ускорителях является наличие сопутствующих электромагнитных помех достаточно высокого уровня. Поэтому необходимо использовать специальные методы защиты измерительных линий от воздействия электромагнитных наводок.
Основным регламентирующим документом, определяющим требования к радиационной стойкости изделий, являются технические условия или техническое задание на проектирование, в которых определяется принадлежность изделий к той или иной группе применения.
Принадлежность изделий к определенному классу РЭС устанавливается исходя из общности функционального назначения и конструктивнотехнологических признаков изделий, определяющих основные подходы к оценке показателей радиационной стойкости изделий в пределах данного класса. Например, существуют типовые методики испытаний биполярных транзисторов малой мощности, СВЧ-приборов, биполярных и КМОП ЦИС и др. Каждая типовая методика имеет установленный срок действия и периодически перерабатывается и дополняется в соответствии с изменением конструктивно-технологических признаков изделий, совершенствованием измерительных методик и разработкой более совершенных методов расчетно-экспериментальной оценки показателей стойкости. Типовая методика содержит следующие разделы:
- общие положения;
- описание объекта;
- перечень контролируемых параметров;
- требования по стойкости к излучениям;
- моделирующие установки;
- нормы, состав и последовательность испытаний;
- порядок определения выборки РЭС;
- методика обработки результатов;
- оценка соответствия РЭС заданным требованиям.
В разделе «Общие положения» указывают область применения типовой методики испытаний, порядок разработки, согласования, утверждения и изменения, дату введения в действие и срок действия этой методики.
В разделе «Описание объекта испытаний» дают его критическую характеристику и приводят данные его физико-топологического состава, элементного состава, конструкционных материалов и т.д.
В разделе «Перечень контролируемых параметров» должны содержаться:
- обоснование выбора каждого контролируемого параметра в качестве критериального;
- структурные схемы измерения каждого контролируемого параметра с учетом специфики дистанционных измерений. Здесь же указываются типы контрольно-измерительной аппаратуры, используемый диапазон частот, ожидаемые амплитуды измеряемых сигналов, тип и длины коммуникационных линий, волновое сопротивление, сопротивление нагрузки. Дается оценка погрешности измерения контролируемых параметров;
- порядок расчетно-экспериментальной оценки величин электрических токов и потенциалов, возникающих в процессе облучения изделия, дополнительной оснастки, коммуникационных линий, а также помех в контрольно-измерительной аппаратуре.
В разделе «Требования по стойкости к излучениям» приводятся методики расчета радиационных эффектов в различных видах РЭС исходя из требований НТД (ГОСТ, ТУ).
Приводятся методики расчета аналитических и графических зависимостей от времени и мощностей поглощаемых доз ИИ, затраченных на ионизацию и структурные повреждения в активных элементах РЭС, а также сами расчетные значения этих доз. Зависимости находят исходя из требований ТЗ(ТУ), амплитудно-временных и спектрально-энергетических характеристик полей ИИ в условиях применения, а также с учетом последовательности и комплексности воздействия ионизирующих излучений.
Для рентгеновского, электронного, протонного и других слабопроникающих излучений приводят методики расчета значений минимальной и максимальной величин поглощенных доз в активных элементах исходя из направления потока излучений, падающих на прибор, и его конструкционных особенностей.
Приводятся данные по изменению электрической прочности изделий при совместимости воздействий ионизирующих излучений и электрических напряжений.
Экспериментальное определение показателей радиационной стойкости проводят на МУ с аттестованными амплитудно-временными и спектрально энергетическими характеристиками. Состав и последовательность испытаний определяют исходя из объема требований, предъявляемых к радиационной стойкости конкретных объектов.
«Моделирующие установки» – это источники радиационных воздействий, имеющих единую физическую природу и близкие характеристики с радиационными факторами, воздействующими в реальных условиях эксплуатации.
Моделирующие установки достаточно подробно описаны в специальной литературе. Рассмотрим особенности, принцип действия и технические характеристики МУ с точки зрения организации и проведения радиационных испытаний РЭС. В соответствии с качественными различиями амплитудно-временных и спектрально-энергетических характеристик ИИ различают импульсные моделирующие установки для воспроизведения составляющих ИИ ЯВ и установки статические (для моделирования ИИ ЯЭУ и КП).
Импульсные ядерные реакторы, импульсные источники излучения и установки статического гамма-излучения используют для моделирования воздействия ИИ ЯВ на РЭС.
По своим предельным параметрам МУ позволяют получать в импульсе в небольших объемах потоки нейтронов спектра деления до 1014 – 1015 нейтр·см–2 за время 10–4 – 10–3 с, мощности дозы гаммаизлучения – до 1011 – 1012 рад с–1 при длительности 10–8 – 10–9 с.
Раздел «Нормы, состав и последовательность испытаний» определяет методику испытаний исходя из требований к стойкости, задаваемых в ТЗ (ТУ), характеристик ИИ, выбранных для испытаний МУ, а также в зависимости от типа РЭС.
Если не оговорено в ТЗ (ТУ), то количество выборок должно соответствовать составу испытаний.
Для оценки стойкости РЭС приводят методики обработки результатов, позволяющие рассчитать необходимые параметры по результатам измерений, методики прогнозирования и методики обработки результатов для определения вероятного изменения критериальных параметров в условиях применения. Состав этих методик определяет разработчик изделия по согласованию с заказчиком, исходя из целей испытаний.
В разделе «Оценка соответствия РЭС заданным требованиям» оценивается стойкость РЭС к воздействию ионизирующих излучений. По результатам проведения испытаний изделие считается соответствующим этим требованиям, если во время и после воздействия излучений параметры всех РЭС выборки находятся в пределах норм, установленных в ТЗ (ТУ) для всех рабочих режимов и во всем рабочем диапазоне температур.
Глава 6. ОЦЕНКА ПОКАЗАТЕЛЕЙ НАДЕЖНОСТИ РЭС Надежность – свойство объектов сохранять во времени в установленных пределах значения всех параметров, характеризующих способность выполнять требуемые функции в заданных режимах и условиях применения, технического обслуживания, ремонтов, хранения и транспортирования.
Система – объект, представляющий собой совокупность элементов, взаимодействующих в процессе выполнения определенного круга задач и взаимосвязанных функционально.
Элемент системы – объект, представляющий собой простейшую часть системы, отдельные части которого не представляют самостоятельного интереса в рамках конкретного рассмотрения.
Безотказность – свойство объекта непрерывно сохранять работоспособность в течение некоторого времени или некоторой наработки. Это свойство распространяется как на период использования объекта по назначению, так и на период хранения и транспортировки.
Долговечность – свойство объекта сохранять работоспособность до наступления предельного состояния с необходимыми перерывами для технического обслуживания и ремонтов.
Ремонтопригодность – свойство объекта, заключающееся в его приспособленности к предупреждению и обнаружению отказов и повреждений, к восстановлению работоспособности и исправности в процессе технического обслуживания и ремонта.
Сохраняемость – свойство объекта сохранять значения показателей безотказности, долговечности и ремонтопригодности в течение и после хранения и (или) транспортирования.
Работоспособное состояние – состояние объекта, при котором значение всех параметров, характеризующих способность выполнять заданные функции, соответствуют требованиям нормативно-технической и (или) конструкторской документации.
Неработоспособное состояние – состояние объекта, при котором значение хотя бы одного параметра, характеризующего способность выполнять заданные функции, не соответствует требованиям нормативнотехнической и (или) конструкторской документации.
Предельное состояние – состояние объекта, при котором его дальнейшее применение по назначению недопустимо, либо восстановление его работоспособного состояния невозможно или нецелесообразно. Признаки (критерии) предельного состояния устанавливаются нормативнотехнической и (или) конструкторской документацией.
Отказ – событие, заключающееся в нарушении работоспособного состояния объекта. Признак или совокупность признаков неработоспособного состояния объекта устанавливается в нормативно-технической и (или) конструкторской документации.
Восстанавливаемый объект – объект, работоспособность которого в случае возникновения отказа подлежит восстановлению в рассматриваемых условиях.
Невосстанавливаемый объект – объект, работоспособность которого в случае возникновения отказа не подлежит восстановлению в рассматриваемых условиях. Например, радиоаппаратура на непилотируемом спутнике связи относится к невосстанавливаемой – в случае отказа она не может быть заменена. Эта же радиоаппаратура на пилотируемой космической станции относится к восстанавливаемой – отказавшие блоки могут быть заменены исправными (резервными).
Показатель надежности – техническая характеристика, количественным образом определяющая одно или несколько свойств надежности объекта. Показатель надежности может иметь размерность (например, среднее время наработки до отказа в часах) или не иметь ее (например, вероятность отказа). Наработка – продолжительность или объем работы объекта. Объект может работать непрерывно или с перерывами. В последнем случае учитывается суммарная наработка. Наработка может измеряться в единицах времени, единицах выработки (кубометрах, гектарах, тоннах), циклах и других единицах. В частности, при испытаниях РЭС различают суточную, декадную, месячную наработку, наработку до первого отказа, наработку между отказами и т.д.
Технический ресурс – наработка объекта от начала его эксплуатации до достижения предельного состояния. Технический ресурс может включать в себя средние и капитальные ремонты, число которых указывается в нормативно-технической или конструкторской документации.
Срок службы – календарная продолжительность эксплуатации объекта от ее начала или возобновления после среднего или капитального ремонта до наступления предельного состояния.
Срок сохраняемости – календарная продолжительности хранения и (или) транспортирования объекта в заданных условиях, в течение и после которой сохраняются значения установленных показателей в заданных пределах.
Отказы по характеру проявления подразделяются на внезапные и постепенные. Признаком внезапного отказа служит скачкообразное изменение одного или нескольких определяющих параметров объекта, а постепенный отказ – медленное, постепенное изменение параметров. Постепенные отказы возникают в результате процессов старения и износа, развития скрытого повреждения, интенсивного воздействия внешних факторов. При внезапных отказах количественные изменения параметров перерастают в скачкообразное их изменение.
Классификация отказов приведена в табл. 6.1.
1. Характер изменения контролируемого объ- Внезапный екта до момента возникновения отказа Постепенный 2. Возможность последующего использова- Полный 4. Устойчивость работоспособности 5. Наличие внешних проявлений отказа Очевидный (явный) 6. Причина возникновения отказа:
7. Природа (происхождение) отказа Естественный Отказы подразделяются также на независимые и зависимые.
Независимый отказ элемента – отказ элемента объекта, не обусловленный отказами других элементов объекта.
Зависимый отказ элемента – отказ элемента объекта, обусловленный отказами элементов объекта.
Конструкционный отказ – отказ, возникающий вследствие ошибок, допущенных при конструировании объекта, или несовершенства примененных разработчиками методов конструирования.
Производственный отказ – отказ, возникающий вследствие нарушения или несовершенства технологического процесса изготовления объекта или комплектующих изделий.
Эксплуатационный отказ – отказ, возникающий вследствие нарушения установленных правил эксплуатации или вследствие влияния непредусмотренных внешних воздействий.
Под показателями надежности понимаются количественные характеристики одного или нескольких свойств, составляющих надежность РЭС.
Показатели называются единичными, если они характеризуют какое-либо одно свойство надежности, и комплексными, если они относятся к нескольким свойствам надежности.
На испытания обычно отбираются несколько однотипных РЭС, фиксируются их отказы и время наработки до появления отказа. В зависимости от функций, выполняемых РЭС, они подразделяются на невосстанавливаемые и восстанавливаемые. Как правило, процесс восстановления РЭС характерен для сложных и многофункциональных систем. При этом для показателей надежности используются две формы представления:
вероятностная и статистическая. Вероятностная форма применяется при аналитических оценках надежности, а статистическая – при экспериментальных исследованиях или испытаниях.
Рассмотрим наиболее часто применяемые при испытаниях показатели надежности РЭС.
1. Вероятность безотказной работы РЭС в интервале времени от 0 до tср.определяется следующими параметрами:
а) вероятностное определение где Т1 – случайная наработка РЭС до первого отказа; F(tcp) – распределение времени до первого отказа.
Таким образом, P(tсp) – вероятность того, что объект проработает безотказно в течение заданного времени, начав работать в момент времени t = 0.
б) статистическое определение где N(Tср) – количество работоспособных РЭС к моменту времени Тср;
N(0) – количество РЭС, поставленных на испытание в момент t = 0; п(Тср) – число РЭС, отказавших к моменту времени t0.
2. Вероятность отказа объекта в интервале времени от 0 до tсp определяется как дополнительная к вероятности безотказной работы, т.е.
Сумма вероятностей безотказной работы и появления отказа, как противоположных событий, равна единице:
3. Плотность распределения отказов:
а) вероятностное определение т.е. f(t) – плотность вероятности того, что время работы РЭС до отказа окажется меньше t.
б) статическое определение где f (t ) – отношение числа отказов в интервале времени (t, t + t) к произведению количества исправных РЭС в начальный момент времени t = на длительность промежутка времени t.
4. Интенсивность отказов РЭС в момент времени t:
а) вероятностное определение где (t) – условная плотность вероятности отказа РЭС к моменту времени t при условии, что до этого момента отказ РЭС не произошел;
б) статистическое определение где (t ) – отношение числа отказов за промежуток времени (t, t + t) к произведению количества исправных РЭС в момент времени t = 0 на длительность промежутка времени t.
5. Средняя наработка РЭС до отказа:
а) вероятностное определение В выражении (6.10) величина T ср является математическим ожиданием (средним значением) наработки до отказа;
б) статистическое определение Значение Tср чаще записывается в форме где ti = Тi – случайное время наработки до i-того отказа; N = N(0) – количество РЭС, поставленных на испытание в момент времени t = 0.
Из рассмотренных количественных показателей надежности для невосстанавливаемых РЭС наиболее важным является интенсивность отказов (t). Многочисленными исследованиями установлены три основные зависимости интенсивности отказов от наработки технических устройств (рис. 6.1).
Для устройств первой группы с функцией интенсивности (t) (см. рис. 6.1, а) характерны относительно короткий период I приработки, на котором (t) либо убывает, либо нарастает (пунктирные линии), и основной период II нормальной эксплуатации РЭС, в течение которого интенсивность отказов не зависит от наработки и остается постоянной вплоть до выработки назначенного ресурса.
Для устройств второй группы (см. рис. 6.1, б) типично закономерное ухудшение их параметров по наработке и практически линейное возрастание интенсивности отказов.
Рис. 6.1. Зависимость интенсивности отказов от наработки На кривой интенсивности (t) третьего вида (см. рис. 6.1, в) можно выделить три участка – период приработки I, период нормальной эксплуатации II с (t) = const и период III с возрастанием интенсивности отказов по причине износа и старения РЭС. Для РЭС с (t) видов б и в предусматривается проведение профилактических работ и ремонтов с целью поддержания высокого уровня их надежности в течение всего срока службы (ресурса). Межремонтный ресурс для устройств с интенсивностью отказов вида в обычно назначается до наступления процессов износа и старения.
Для стационарных потоков отказов, когда (t) = = const, приведенные выше соотношения (6.1) – (6.12) упрощаются.
Они принимают вид Для анализа постепенных отказов с учетом явлений износа и старения используется гипотеза о нормальном распределении наработки до отказа. Тогда плотность вероятности постепенных отказов выражается как где TП и – математическое ожидание и среднее квадратическое отклонеt TП ние наработки до постепенного отказа; Ф( ) – нормированная функция Лапласа.
Соответственно интенсивность постепенных отказов Выражения (6.18) – (6.20) используются в данном случае для описания и расчета характеристик надежности РЭС с кривой интенсивности (t) = R + П(t), где R – постоянная по наработке интенсивность внезапных отказов, a П(t) – интенсивность постепенных отказов.
С учетом (6.20) будем иметь:
На рис. 6.2 показан вид зависимостей вероятности безотказной работы от наработки для устройств, имеющих интенсивности отказов, приведенные на рис. 6.1.
Рис. 6.2. Зависимости вероятности безотказной работы от наработки До сих пор речь шла о вероятностных показателях надежности РЭС.
По статистическим данным, полученным в процессе эксплуатации или испытания РЭС, можно вычислить где R0 – число поставленных на испытание РЭС; R(t) – число работоспособных РЭС; n(t) – число отказавших РЭС за время наработки t;
R0 = R(t) + n(t).
Вопросы оценки показателей надежности РЭС по статистическим данным будут рассмотрены ниже.
Для восстанавливаемых объектов приведем только дополнительные показатели надежности.
Все показатели надежности для невосстанавливаемых РЭС, в случае необходимости, могут быть применены для оценки безотказности и восстанавливаемых РЭС.
Испытания на надежность восстанавливаемых РЭС могут быть рассмотрены в следующей последовательности.
В начальный момент времени изделие РЭС поступает на испытание и работает до отказа.
При отказе происходит полное восстановление изделия, и оно вновь работает до отказа, и т.д. Как правило, РЭС восстанавливаются агрегатным методом, т.е. заменой отказавшего изделия на исправное (или заменой отдельных деталей или сборочных единиц).
События отказов восстанавливаемых однотипных РЭС образуют поток однородных событий. В свою очередь, события восстановления (замены) РЭС также образуют поток однородных событий восстановления.
При рассмотрении надежности восстанавливаемых изделий РЭС в смысле их безотказности время восстановления не учитывается, поэтому можно считать события отказа и восстановления совпадающими.
В качестве характеристик потока отказов восстанавливаемых радиоустройств обычно используются:
– ведущая функция потока, равная математическому ожиданию числа отказов восстанавливаемых РЭС в интервале наработки:
где Рn (t) – вероятность появления равно n отказов в интервале t;
– интенсивность потока отказов где n(t + t ), n(t ) – соответственно математические ожидания чисел отказов в интервалах (t + t) и (0, t);
– параметр потока отказов, представляющий собой плотность вероятности возникновения отказа восстанавливаемого изделия РЭС в рассматриваемый момент времени, где P0 (t, t + t ) – вероятность того, что в интервале (t, t + t ) отказов не будет.
Наработка на отказ, равная отношению наработки t восстанавливаемых изделий РЭС к математическому ожиданию числа их отказов в течение этой наработки n(t + t ) :
Отличие параметра µ(t) от интенсивности (t) потока отказов состоит в следующем: если рассматривать малый интервал наработки (t, t + dt), то µ(t)dt примерно равно вероятности появления ровно одного отказа в этом интервале, (t)dt – вероятность появления хотя бы одного отказа.
При испытаниях полагают, что отказы восстанавливаемых РЭС образуют ординарные пуассоновские потоки, для которых µ(t) = (t) и справедливы соотношения Следует заметить, что при постоянной интенсивности отказов ( = const) наработка на отказ равна наработке до отказа РЭС, т.е.
Выше были приведены единичные показатели надежности. Примером комплексного показателя надежности может служить коэффициент готовности где T0 – наработка на отказ; ТВ – среднее время восстановления.
Из формулы (6.32) следует, что коэффициент готовности характеризует одновременно два свойства надежности – безотказность и ремонтопригодность.
6.6. Специальные показатели надежности РЭС С появлением РЭС, имеющих в своем составе цифровые вычислительные устройства, в практических расчетах надежности стали применяться специальные показатели, основными из которых являются:
- вероятность А(а, t) заданной суммарной наработки а за фиксированное календарное время t;
- вероятность B(b, t) наличия интервала безотказной работы, большего заданной величины b, за фиксированное календарное время t;
- вероятность C*(c, t) отсутствия интервала простоя, большего допустимой величины с, за фиксированное суммарное время простоя t.
Рассмотрим более подробно содержание перечисленных специальных показателей надежности РЭС.
1. Вероятность заданной суммарной наработки а за фиксированное календарное время t:
а) вероятностное определение где а – заданный уровень суммарной наработки; S(f) – суммарная наработка за время t.
б) статистическое определение где N(0) – общее число устройств; Si(t) – суммарная наработка i-того устройства за время t;
Показатели A(a,t) и A(a, t ) используются при оценке надежности систем, которые имеют перерывы в работе и могут включаться в любой момент времени t.
2. Вероятность наличия интервала безотказной работы, большего заданной величины b, за фиксированное календарное время t:
а) вероятностное определение где b – заданная величина интервала; t – фиксированное календарное время; – квантор «существует»; Тi – интервал безотказной работы; B(b, t) – вероятность того, что за время t проявится хотя бы один интервал безотказной работы Ti, больший заданной величины b.
б) статистическое определение где {T,h)i – реализация последовательности интервалов безотказной работы и простоя для i-того устройства за время t; {T, h}i = 1, если за время t в {T, h}i существует хотя бы один интервал Ti, больший b, в противном случае {T, h}i = 0.
Показатели (6.33) – (6.36) используются для оценки надежности РЭС, в которых после сбоя или отказа возможно повторное выполнение прежней программы.
2. Вероятность отсутствия интервала простоя, большего допустимой величины с, за фиксированное суммарное время простоя t:
а) вероятностное определение где hi – интервал простоя (включая часть незавершенного последнего интервала h*); SB(t) – суммарное время простоя; С*(с, t) – вероятность того, что за суммарное время простоя не появится ни одного интервала простоя hi (включая часть незавершенного последнего интервала h*), большего заданной величины С ( – квантор «для всех»).
б) статистическое определение где {h} – реализация последовательности интервалов безотказного простоя для i-того изделия РЭС за суммарное время простоя t.
Запись [{hi}]с в выражении (6.38) означает: [{hi}]с = 1, если за время t в {hi} не существует ни одного интервала простоя i (включая часть незавершенного интервала), большего С, в противном случае [{hi}]с = 0.
Проще говоря, C*(c,t) – это доля общего числа РЭС, у которых в реализации времени простоя за суммарное время простоя t не окажется ни одного интервала простоя (включая часть незавершенного простоя интервала h*), большего заданной величины.
6.7. Оценка надежности РЭС вероятностными методами Оценка показателей надежности (безотказности) вероятностными методами производится как на этапе проектирования, так и в процессах испытаний и эксплуатации РЭС. При оценке надежности сложных невосстанавливаемых РЭС предполагается, что интенсивности отказов составляющих ее элементов известны, а сама РЭС разделяется на такие элементы, отказы которых можно считать независимыми.
Соединение элементов системы называется последовательным (в смысле надежности), если отказ хотя бы одного из них приводит к отказу всей системы. Вероятность безотказной работы системы с последовательным соединением т элементов равна где Рк, к (и) относится к k-тому элементу РЭС, а вероятность отказа системы Интенсивность отказов РЭС с последовательным соединением элементов определяется суммой Средняя наработка до отказа РЭС По (6.39) – (6.42) можно оценить показатели РЭС при любых функциях интенсивности отказов. В частности, при к = const; k = 1, 2, 3,..., т Последовательное соединение элементов на структурной схеме надежности (рис. 6.3) называется также основным. Из анализа (6.39) – (6.42) следует, что чем больше элементов последовательно соединено в РЭС, тем ниже ее показатели надежности.
Рис. 6.3. Последовательное соединение элементов Если, например, надежность РЭС должна быть равна Pc(t) = 0,9, а она состоит из 10 элементов, то надежность (в смысле вероятности безотказной работы) каждого элемента должна быть не менее 0,99. Однако если в РЭС 1000 элементов, надежность каждого из них уже должна иметь величину 0,9999.
При параллельном соединении элементов (рис. 6.4) отказ РЭС происходит только тогда, когда отказывают все элементы. Вероятность отказа РЭС при параллельном соединении элементов равна произведению вероятностей отказов отдельных элементов:
Из анализа (6.46) следует, что с увеличением числа параллельно соединенных элементов вероятность безотказной работы системы повышается. Поэтому системы с параллельным соединением сборочных единиц, блоков и т.д. называются резервированными, а величина m – 1 считается кратностью резервирования.
Обычно параллельно соединенные элементы являются одинаковыми по конструкции. Если принять 1 = 2 = m = = const, то с учетом (6.14) – (6.16) формулу (6.46) можно преобразовать к виду Функция плотности вероятности наработки до отказа По аналогии с (6.48) продифференцируем (6.47) и получим Отсюда интенсивность отказов системы Средняя наработка до отказа системы в этом случае будет равна т.е. величина Т1с возрастает с увеличением кратности резервирования m – 1.
На рис. 6.5, 6.6 показаны структурные схемы надежности с различными видами резервирования. При расчете схем с общим резервированием (см. рис. 6.5, а) вначале используется формула для последовательного соединения элементов, а затем – параллельного. Для структурных схем, приведенных на рис. 6.5, б, наоборот, вначале подсчитывается вероятность безотказной работы для участков с параллельным соединением элементов, а затем – для последовательного соединения участков.
Для схемы на рис. 6.5, б будем иметь Более сложным является смешанное резервирование (см. рис. 6.6, а).
Для оценки надежности такой системы используется каноническое уравнение а) с общим резервированием; б) с раздельным резервированием а) со смешанным резервированием; б) с резервированием замещением Равенство (6.53) охватывает все 2m возможных состояний системы из т элементов, образующих полную группу состояний. Например, полагая, что в схеме на рис. 6.6, а все элементы равнонадежны (1 = 2 =…= 1 = ), получим Будем считать, что система работоспособна, если сохраняется хотя бы одна цепь из исправных элементов, связывающих вход и выход системы.
Отказ системы произойдет, если откажут все элементы. Вероятность такого события равна q5. Отказ любых четырех элементов с вероятностью 5pq4, а также отказы трех элементов в комбинациях 123, 124, 125, 451, 452, 453, 135, 234 (вероятность 8p2q3) и двух в комбинациях 12, 45 (вероятность 2p3q2) приводят к нарушению работоспособности системы. Таким образом, вероятность отказа системы можно оценить с помощью уравнения а вероятность безотказной работы На практике находит применение приближенный способ оценки надежности РЭС по среднегрупповым интенсивностям отказов элементов.
По этому способу подсчитывается количество mi однотипных элементов, имеющихся в системе (однотипных транзисторов, конденсаторов, диодов, резисторов и т.д.). По справочникам определяется значение i интенсивности отказов элементов, а интенсивность отказов системы оценивается путем сложения суммарных интенсивностей отказов всех групп однотипных элементов, входящих в систему:
где К – число групп однотипных элементов.
В оценке показателей надежности РЭС принимаются во внимание режимы их работы и воздействие на них различных физических факторов (температуры, вибрации, давления). На рис. 6.7 приведены для примера такие зависимости для транзисторов, диодов и трансформаторов, где 0 – интенсивность отказов элементов по справочным данным.
В общем случае табличные значения интенсивности отказов, полученные для нормальных условий (15 °С, 760 мм рт. ст.), принято умножать на эксплуатационный коэффициент > 1 и считать = 0. Значения коэффициентов устанавливаются с учетом опыта эксплуатации или путем специально поставленных испытаний.
Отметим некоторые особенности оценки надежности электрических схем РЭС, где возможны отказы элементов двух типов – обрыв цепи или короткое замыкание. Каноническое уравнение надежности для электрической схемы, состоящей из т элементов, имеет вид где Рк – вероятность безотказной работы k-того элемента; qk ( кз ), qk (0) – вероятности короткого замыкания и обрыва k-того элемента.
Методику оценки надежности системы с учетом возможных обрывов и коротких замыканий рассмотрим на примере простой схемы, приведенной на рис 6.8, для которой можно записать равенство Рис. 6.7. Зависимость интенсивности отказов от температуры:
Число возможных состояний по приведенной формуле равно 34 = 81, из них одно с вероятностью р4 соответствует работоспособному состоянию всех четырех элементов, а остальные – различным комбинациям обрывов и коротких замыканий элементов. Анализ схемы на рис. 6.8 показывает, что в 39 случаях из 81 система сохраняет работоспособность, а вероятность безотказной работы определяется суммой Рис. 6.8. Структурные схемы надежности: а) по обрыву; б) по короткому замыканию Здесь, например величине 4p2q2кз отвечают короткие замыкания элементов комбинациях 12, 34, 14, 32 при двух других исправных элементах.
Заметим, что структурные схемы надежности, показанные на рис. 6.8, отдельно по обрыву и по короткому замыканию различны.
6.8. Способы повышения надежности РЭС Можно сформулировать следующие пути обеспечения высокой надежности РЭС:
- применение современных изделий электронной техники с таким сочетанием их характеристик, которое обеспечивает стабильную и безотказную работу РЭС;
- использование в ряде случаев облегченных режимов работы комплектующих изделий (например, перевод на 50 %-ную нагрузку диодов, транзисторов, конденсаторов и других комплектующих изделий электронной техники уменьшает интенсивность их отказов в 2 – 5 раз), наличие значительных запасов прочности в деталях и сборочных единицах;
- резервирование наиболее ответственных блоков и устройств РЭС;
- применение специальных схем и средств защиты РЭС от перегрузочных режимов.
Одним из эффективных способов повышения надежности выпускаемых комплектующих изделий электронной техники являются технологические тренировки. Технологической тренировкой называется испытание готовых изделий под повышенной нагрузкой с целью отбраковки из их числа потенциально ненадежных. Величину нагрузки выбирают такой, чтобы в процессе тренировки вызвать отказ у потенциально ненадежных изделий, не повреждая при этом годных. Отказавшие изделия изымаются, а выдержавшие испытания признаются годными к эксплуатации.
Технологические тренировки стараются проводить в период приработки (см. рис. 6.1) изделий. При тренировке изделий большое значение имеет выбор вида нагрузки. Например, для полупроводниковых приборов и интегральных схем наибольший интерес при отбраковке потенциально ненадежных изделий представляют электрическая и термическая нагрузки.
Исследования показывают [11], что тренировки под электрической нагрузкой для полупроводниковых приборов более предпочтительны, чем их испытания под термической нагрузкой – работа полупроводниковых приборов и микросхем под электрической нагрузкой позволяет выявлять отказы, которые обычно нельзя обнаружить при термических нагрузках.
Известны, например, причины отказов вследствие рассеяния мощности внутри прибора и возникновения градиента температуры между р-n переходом и корпусом прибора. При испытаниях под электрической нагрузкой возникают электрические поля, которые ускоряют миграцию ионов различных загрязнений к р-n переходу.
Иногда при тренировке микросхем и полупроводниковых приборов целесообразно применять комбинацию электрической и термической нагрузок, так как при приложенном напряжении могут возникать инверсные каналы, а повышенная температура будет ускорять отказ, в этом случае – за счет увеличения скорости носителей.
Резервирование представляет собой способ повышения надежности РЭС введением избыточности. Структурное резервирование предусматривает использование дополнительных, избыточных элементов структуры объекта, таких же по конструкции, как основные элементы. Эти избыточные элементы обеспечивают работоспособность РЭС в случае отказа основных элементов. По способу включения выделяют резервирование постоянное, при котором резервированные элементы участвуют в функционировании РЭС наравне с остальными, и резервирование замещением, при котором функции основного элемента передаются резервному только после отказа основного элемента.
По схеме включения различают общее резервирование, когда резервируются РЭС в целом, и раздельное резервирование, при котором резервируются отдельные элементы или их группы. Резервирование может быть также смешанным. По режиму работы резерв может быть нагруженным, т.е. работающим в том же режиме, что и основной элемент, ненагруженным, т.е. не включенным под нагрузку, и облегченным, когда резервный элемент находится в менее нагруженном режиме, чем основной.
Рассмотрим показатели надежности РЭС с резервированием. Выше были приведены формулы вероятности безотказной работы для РЭС с постоянно нагруженным общим (см. рис. 6.5, а) и раздельным резервированием (см. рис. 6.5, б). Оценим эффективность раздельного резервирования из отношения вероятностей отказа нерезервированной системы (основного соединения), когда qс = 1 – Р0(t), и резервированной с интенсивностью отказа qср = 1 – Рср(t):
где P(t) = Pij(t), см. (6.52); Pcp(t) – вероятность безотказной работы системы с раздельным резервированием.
Эффективность общего резервирования где Pco (t ) = 1 1 Pij (t ) – вероятность безотказной работы системы при общем резервировании. По аналогии с (6.57) здесь также P(t) = Pij(t).
Оба способа резервирования дают существенное увеличение вероятности безотказной работы. Для их сопоставления возьмем отношение При q < 0,l (что на практике часто имеет место) (1 – q) 1 – q.
Тогда h rm–1.
Таким образом, при равном количестве элементов эффективность раздельного резервирования в rm–1 раз больше, чем общего резервирования.
Если требуется обеспечить заданную надежность резервированной системы Рс.зад, то при раздельном резервировании она достигается при меньшем количестве резервных элементов.
6.9. Надежность системы с резервированием замещением При резервировании замещением отключение отказавшего элемента и подключение резервного осуществляется с помощью переключателей П (см. рис. 6.6, б).
При нагруженном резерве общая надежность системы с резервированием замещением из-за отказов переключателей будет ниже, чем при постоянно включенном резерве. Поэтому способ резервирования замещением целесообразен только при ненагруженном или облегченном резервах.
Рассмотрим случай ненагруженного резерва, полагая, что до момента включения он исправен с вероятностью единица. Основной элемент, проработав случайное время t1, отказывает и заменяется первым резервным элементом, работающим случайное время t2, и т.д. Проработав время tm, отказывает последний m-ный элемент, а с ним и вся резервированная система с общим временем наработки Случайные величины ti (i = l, 2,..., т) являются независимыми, и поэтому распределение случайной величины t представляет собой распределение суммы m независимых случайных величин.
В частности, при m = 2 t = t1 + t2 и функция плотности распределения вероятностей находится по соотношению где f0(t), fD(t) – функции плотности вероятности случайной наработки до отказа соответственно основного и резервного элементов со своими переключателями.
Будем полагать, что распределение наработки до отказа элементов с переключателями – экспоненциальное с одинаковыми интенсивностями.
Последовательно применяя (6.62) для т = 3, затем т = 4 и т.д., для кратности резервирования (m – 1) получим Проинтегрируем (6.63) по dt и найдем вероятность отказа резервированной системы Например, при дублировании, когда т = 2, Средняя наработка до отказа системы находится усреднением (6.60):
Сравнивая среднюю наработку до отказа системы при резервировании замещением (6.66) и при постоянном резервировании (6.51) по их отношению, равному можно убедится в том, что резервирование замещением при безотказных переключателях (* = ) эффективнее постоянного при любых значениях интенсивности отказов основного и резервного элементов.
Например, при кратности резервирования т – 1 = 3 отношение Тс/Т1с = 1,92.
С учетом надежности переключателей, приняв в системе с резервированием замещением * = + п, резервирование замещением будет эффективнее при соблюдении неравенства На рис. 6.9 показаны кривые вероятностей безотказной работы при двух видах резервирования (резервирование замещением и постоянное) и при отсутствии резервирования. Из сравнения этих кривых видно, что система 1 с резервированием замещением имеет бльшую вероятность безотказной работы по сравнению с системами 2 и 3.
Рис. 6.9. Вероятность безотказной работы: 1 – резервирование замещением;
2 – постоянное резервирование; 3 – без резервирования 6.10. Методы определения точечных и интервальных оценок Точечные методы оценки показателей надежности Методы точечных оценок надежности условно подразделяются на две группы:
- аналитические (методы моментов, квантилей, максимального правдоподобия и др);
- графические (построение гистограммы, интегральной функции безотказной работы РЭС и т.п.).
Достоверную оценку показателей надежности РЭС по результатам испытания можно получить лишь на основе анализа большого объема статистических данных. На практике всегда приходится иметь дело с ограниченными статистическими данными, которые по существу являются величинами случайными. Приближенное, случайное значение показателя надежности, получаемое в процессе испытания (эксперимента), принято называть оценкой этого показателя. Оценка должна выбираться с таким расчетом, чтобы даже при сравнительно небольшом объеме статистических данных ошибка от замены точного (вероятностного) значения показателя надежности его оценкой была по возможности малой.
Формальными признаками качества точечных оценок служат состоятельность, несмещенность и эффективность. Известно, что оценка называется состоятельной, если при увеличении числа опытов N она сходится по вероятности к показателю надежности а. В качестве примера можно указать на среднее время наработки до отказа, равное Действительно, с увеличением числа испытаний N оценка TC сходится по вероятности к Тср.
Оценка называется несмещенной, если она удовлетворяет условию отсутствия систематических ошибок, когда математическое ожидание М[] равно искомому показателю a, т.е M[] = a.
Из равенства (6.68) следует, что оценка Тср является также и несмещенной, т.к.
Эффективной называется оценка, обладающая по сравнению с другими несмещенными оценками наименьшей дисперсией, т.е.
Параметр а характеризуется в процессе испытания одним числом, и поэтому оценка а называется точечной.
Метод моментов основан на том, что если число отказов достаточно велико, то в силу закона больших чисел значения статистических моментов близки к теоретическим. Идея метода моментов состоит в том, что моменты распределения, зависящие от результатов испытания, приравниваются к эмпирическим (опытным) моментам. Взяв число моментов равным числу оцениваемых параметров, получаем необходимое число уравнений.
Статистическим моментом k-того порядка называется величина где ti – наработка i-того устройства до отказа; п – объем выборки.
Оценки параметров типовых распределений, полученные методом моментов, приведены в табл. 6.2.
Метод моментов достаточно прост в реализации, однако получаемые при этом оценки неэффективны и могут использоваться лишь при объемах выборки n 30.
Нормальное Логарифмически нормальное В табл. 6.2 приняты обозначения:
T – первый выборочный момент;
S2 – выборочная дисперсия;
– выборочное среднее для логарифмических распределений;
2 – выборочная дисперсия для логарифмических распределений.
Метод квантилей основан на том, что квантили теоретического распределения приравниваются к статистическим квантилям. При этом используется столько статистических квантилей и, соответственно, уравнений, сколько параметров необходимо оценить.
Оценки параметров типовых распределений, полученные методом квантилей, имеют вид:
экспоненциальное нормальное где t1, t2 – квантили статистической функции распределения; F1, F2 – значения статистической функции распределения, соответствующие квантилям t1 и t2; Ф–1(F1), Ф–1(F2) – квантили функций стандартного нормального распределения, соответствующие уровням F1 и F2.
Для использования метода квантилей требуется знание параметров статистической функции распределения. Кроме того, оценки, получаемые методом квантилей, обладают значительной дисперсией.
Метод максимального правдоподобия является универсальным и наиболее мощным с точки зрения эффективности оценок. Идея метода заключается в том, что для фиксированного результата испытания составляется функция отношения правдоподобия где f ( x1, x2,… xn / R1 ), f ( x1, x2,… xn / R0 ) – условные плотности распределения выборки х1, х2, хп соответствующие уровням надежности R1 и R0.
Уровень надежности считается приемлемым, когда где RH – некоторая нормативная величина надежности, партия устройств отклоняется, как не прошедшая испытания на надежность.
Аналогично при точечной оценке надежности партия устройств принимается, и бракуется, если В качестве искомых точечных оценок в случаях (6.78) и (6.79) берутся значения параметров, максимизирующие функцию правдоподобия.
Графические методы определения точечных оценок надежности по результатам испытаний связаны с известными процедурами статистической обработки:
- построением вариационного ряда, гистограммы и функции интенсивности отказов;
- оценкой параметров статистической функции распределения и их точечных значений;
- оценкой согласия статистического распределения с выбранным теоретическим по количественному критерию.
Интервальные методы оценки показателей надежности Точечная оценка обладает существенным недостатком в том смысле, что она сама представляет собой лишь частное значение случайной величины. Поэтому, кроме точечной оценки, желательно найти такой интервал оценок, который с достаточно высокой вероятностью «накрывал» бы искомый показатель надежности.
Для определения точности оценок в математической статистике используются понятия доверительных интервалов и доверительных вероятностей, назначение которых можно объяснить следующим образом.
Потребуем, чтобы с достаточно высокой вероятностью (например, 0,9; 0,95) отклонение оценки от ее точного (но неизвестного) значения a не превосходило некоторой заданной положительной величины :
Условие (7.81) означает вероятность того, что случайный интервал ( – ; + ) содержит в себе достоверный, т.е. точный, но неизвестный показатель а, равна.
Вероятность называется доверительной вероятностью, интервал ( – ; + ) = I – доверительным интервалом, а его границы ( – : + ) – доверительными границами.
Таким образом, если по результатам испытания (опыту эксплуатации) ограниченного числа РЭС определена оценка а показателя надежности и найдено значение I при заданной величине, то по полученным данным можно утверждать, что с доверительной вероятностью точное значение неизвестного показателя надежности а заключено между доверительными границами – и +, т.е. находится в нутрии интервала I.
Очевидно, что с увеличением количества испытываемых РЭС при той же доверительной вероятности доверительный интервал I будет сужаться, а доверительные границы – ; + – сближаться. Точность оценок при этом повышается.
При решении практических задач отыскания доверительных интервалов при заданной величине необходимо знать закон распределения случайной оценки а (напомним, что а – величина неслучайная). Если бы закон распределения a был известен, то задача нахождения и I решалась бы достаточно просто, достаточно было бы при заданной найти такое значение, которое удовлетворяет условию (6.80), а затем вычислить I.
Так, например, при симметричной функции плотности распределения f(x) случайной величины х = a – уравнение для определения имеет вид При несимметричном распределении требуется, чтобы вероятности попадания а в диапазон значений слева и справа от доверительного интервала были одинаковы и составляли Тогда выражение (6.81) можно представить двумя уравнениями:
где a1 = a ; a2 = a + – соответственно нижняя и верхняя границы доверительного интервала.
Можно взять также другую пару уравнений:
Затруднение, однако, состоит в том, что закон распределения оценки, как уже упоминалось, зависит от закона распределения событий отказов и, следовательно, от его неизвестных параметров, в том числе и параметра (показателя) а. Для выхода из такого положения применяется приближенный способ, состоящий в том, что в получаемых на основе (6.81) аналитических значениях для I неизвестные параметры а заменяют их точечными оценками *. Такой способ приемлем лишь при достаточно большом статистическом материале, когда число испытываемых на надежность РЭС составляет 30 – 40 единиц и более.
Чтобы устранить указанные трудности, на практике применяют специальный прием. Он основан на том, что в неравенствах вида (6.80), (6.81) переходят от случайной величины к некоторой функции от, но такой, что закон ее распределения не зависит от неизвестного параметра а, а зависит от числа испытаний и от вида закона распределения событий отказов.
Как было показано ранее, законы распределения (экспоненциальный, нормальный и др.) для событий отказа РЭС в настоящее время хорошо исследованы, что дает возможность применения точных методов оценки доверительных интервалов в практических задачах.
Пусть за суммарное время t однотипных РЭС произошло n отказов.
Тогда среднее время наработки на один отказ будет равно Величина Т0 случайная. При другом аналогичном испытании п отказов может появиться при иной суммарной наработке. Поток отказов РЭС в процессе испытания можно считать простейшим пуассоновским потоком.
Тогда вероятность появления k отказов за время t в соответствии с законом Пуассона Вероятность появления n и более отказов В выражениях (6.84), (6.85) T0 = – достоверное (точное) значение среднего времени наработки на один отказ; – параметр потока отказов.
Это величины неслучайные.
Вероятность (6.85) представляет собой интегральную функцию распределения случайной наработки t/T0 до появления n отказов. Введем новую переменную 2 = 2t/T0 и запишем (6.85) в виде Как видно из (6.86), функция 2 (хи-квадрант) зависит только от числа отказов n и не зависит от величины Т0.
Дифференцируя (6.86) по dx2, получим функцию плотности распределения случайной величины х2 = 2t /T0:
Функция (6.87) отвечает известному в теории вероятностей так называемому x2-распределению с 2n степенями свободы. Кривая x2-распределения приведена на рис. 6.10.
Теперь рассмотрим порядок определения доверительного интервала x 2 – верхнюю границу доверительного интервала (см. рис. 6.10).
Таким образом, с вероятностью величина х2 находится в пределах или с учетом принятого обозначения х = 2t /T В правой и левой частях (6.91) записана соответственно верхняя и нижняя границы доверительного интервала для точного показателя надежности T0, которые находятся по полученным в результате испытания РЭС значениям суммарной наработки t и числу отказов n.
Имея в виду, что P(t ) = e, с учетом (6.91) можно получить довеT рительный интервал для вероятности безотказной работы РЭС в течение времени t:
где Так как = 1/Т0, то нетрудно найти доверительный интервал для интенсивности отказов