WWW.DISS.SELUK.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА
(Авторефераты, диссертации, методички, учебные программы, монографии)

 

Pages:     || 2 | 3 | 4 | 5 |   ...   | 7 |

«САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКИЙ НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ ИНФОРМАЦИОННЫХ ТЕХНОЛОГИЙ, МЕХАНИКИ И ОПТИКИ Сборник тезисов докладов конгресса молодых ученых Выпуск O Санкт-Петербург OM1P Сборник тезисов докладов ...»

-- [ Страница 1 ] --

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКИЙ НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ

УНИВЕРСИТЕТ ИНФОРМАЦИОННЫХ ТЕХНОЛОГИЙ,

МЕХАНИКИ И ОПТИКИ

Сборник

тезисов докладов

конгресса молодых

ученых

Выпуск O

Санкт-Петербург

OM1P Сборник тезисов докладов конгресса молодых ученых, Выпуск O. – СПб: НИУ ИТМО, OM1P. – P6M с.

В издании «Сборник тезисов докладов конгресса молодых ученых, Выпуск 2», публикуются работы участников, выступивших на заседаниях научных школ и секций II Всероссийского конгресса молодых ученых, который состоялся 9– 12 апреля 2013 года в Санкт-Петербургском национальном исследовательском университете информационных технологий, механики и оптики.

ISBN 978-5-7577-0433- В 2009 году Университет стал победителем многоэтапного конкурса, в результате которого определены 12 ведущих университетов России, которым присвоена категория «Национальный исследовательский университет».

Министерством образования и науки Российской Федерации была утверждена Программа развития государственного образовательного учреждения высшего профессионального образования национальный «Санкт-Петербургский исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики» на 2009–2018 годы.

Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики, Авторы,

ОПТОТЕХНИКА И ОПТИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ

УДК 548.526; 535.543.

НАСЫЩАЮЩИЕСЯ ПОГЛОТИТЕЛИ НА ОСНОВЕ ФТОРОФОСФАТНЫХ СТЕКОЛ

С КВАНТОВЫМИ ТОЧКАМИ Pbpe А.Н. Абдршин, А.В. Полякова Научный руководитель – д.х.м., профессор Е.В. Колобкова В настоящее время имеется значительный интерес к получению коротких импульсов в инфракрасном диапазоне длин волн. Пассивная модуляция добротности и синхронизация мод лазеров отвечает требованиям компактности и простоты лазеров, поскольку в этом случае достаточно просто поместить в резонатор лазера насыщающийся поглотитель, при этом не требуется какой-либо вспомогательной электроники.

Квантовые точки полупроводников IV–VI в стеклах привлекательны, как насыщающиеся поглотители ближнего и среднего ИК диапазона. Малые эффективные массы носителей заряда и высокие диэлектрические постоянные определяют большие величины радиуса экситонa Борa этих полупроводников, что позволяет получить режим сильного размерного квантования для относительно больших нанокристаллов.

Главным требованием к материалам для насыщающихся поглотителей является узкое распределение квантовых точек по размерам (R/R~10%, R – размер квантовой точки), что выражается в узком первом экситонном пике, соответствующем первому экситонному переходу, и однородному распределению квантовых точек в объеме стекла.

Стекла с квантовыми точками имеют преимущества по сравнению с другими пассивными материалами для внутрирезонаторных модуляторов добротности и синхронизаторов мод за счет существенного выигрыша в стоимости, поскольку для их изготовления можно использовать стандартные методы варки стекол.

В работе были проведены сравнения нелинейно-оптических характеристик для силикатных и фторофосфатных стекол. Были показаны преимущества и недостатки двух разработанных на сегодняшний день стеклообразных систем как при формировании квантовых точек, так и при работе в качестве насыщающихся поглотителей.

Было показано, что такие материалы обладают рядом преимуществ, по сравнению с традиционными силикатными материалами, так как температурно-временные режимы формирования квантовых точек во фторофостатных стеклах значительно более мягкие, чем для силикатных стекол, при относительной близости их температур стеклования (450–480оС для силикатных [1] и 425оС для фторофосфатных [2]). Это связано с разным ходом зависимости вязкости от температуры для указанных классов стекол. Следует отметить, что стекла с PbSe квантовыми точками могут быть использованы в более широком спектральном диапазоне, чем с PbS, вследствие отличий в значениях радиуса экситона Бора (20 нм для PbS и 46 нм для PbSe) и в ширине запрещенной зоны (ЕgPbSe=0,29 эВ и ЕgPbS=0,41 эВ при 300 К).

Литература 1. Borelly N.F., Smith D.W. Quantum confinement of PbS microcrystals in glass // J Non Cryst.

Solids. – 1994. – V. 80. – № 1. – P. 25–31.

2. Kolobkova E.V., Petrikov V.D., Lipovskii A.A. PbSe quantum dot doped phosphate glass // Electronics Letters. – 1997. – V. 33. – № 1. – P. 101–102.

УДК 536.421.

ОПРЕДЕЛЕНИЕ ОПТИМАЛЬНЫХ ПАРАМЕТРОВ СВАРКИ АНИЗОТРОПНЫХ

ОПТИЧЕСКИХ ВОЛОКОН

Научный руководитель – д.т.н., профессор И.К. Мешковский Введение. Сварка анизотропных оптических волокон широко применяется при изготовлении современных волоконно-оптических измерительных систем. Основные преимущества сварки перед альтернативными способами соединений заключаются в малых оптических потерях, компактности и высокой стабильности.

Среди анизотропных волокон наилучшими показателями сохранения поляризации обладает волокно с эллиптической напрягающей оболочкой. В силу специфичности волокна такого типа существует необходимость в определении параметров сварки, обеспечивающих минимально возможные оптические потери в месте соединения.



Цель работы – уменьшение оптических потерь при сварке анизотропных световодов с эллиптической напрягающей оболочкой.

Базовые положения исследования Процесс сварки оптических волокон состоит из ряда последовательных этапов, каждый из которых характеризуется набором параметров. Минимальные оптические потери на сварке световодов определяются оптимальной комбинацией параметров каждого этапа. В связи с этим, в первую очередь, выявляются основные параметры сварки, наиболее существенно влияющие на оптические потери.

Проводится анализ альтернативных способов минимизации оптических потерь на сварке.

Для оценки влияния тех или иных параметров сварки необходимо оценивать потери оптической мощности. С этой целью разрабатывается методика исследования.

Последовательно исследуются вклады различных параметров, и выявляется их оптимальное сочетание.

Промежуточные результаты 1. При анализе литературных источников выявлены основные параметры сварки, наиболее существенно влияющие на оптические потери.

2. Рассмотрены и проанализированы основные альтернативные способы минимизации оптических потерь на сварке.

3. Разработана методика проведения исследования.

4. Проведены все необходимые этапы исследования.

Основной результат. Была определена оптимальная комбинация параметров, обеспечивающая наименьшие оптические потери при сварке световодов с эллиптической напрягающей оболочкой. Получены типичные величины потерь для подобранного набора параметров.

УДК 520.2.

ИССЛЕДОВАНИЕ ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ МАЛОГАБАРИТНОГО ОБЪЕКТИВА

ИЗ ПОЛИМЕРНЫХ МАТЕРИАЛОВ

Научный руководитель – к.т.н., доцент Г.Э. Романова Введение. Объективы из полимерных материалов в настоящее время находят все большее применение в мобильных устройствах. Особенностью оптических схем таких систем являются небольшие габариты и ограничение на вес оптической системы, вследствие чего такая оптика должна содержать минимально возможное число линз и использовать полимерные оптические материалы.

Цель работы. Работа была посвящена расчету и исследованию трехкомпонентной компактной оптической системы из полимерных материалов и поиску оптимального положения асферических поверхностей в оптической системе такого типа, позволяющего минимизировать число несферических поверхностей в системе.

Базовые положения. Для выбора исходной системы и для дальнейшего расчета можно было воспользоваться различными подходами: использовать базы данных; расчет на основании теории аберраций третьего порядка или метод композиции. В любом случае для коррекции качества изображения необходим этап автоматизированного расчета, результаты которого зависят не только от выбора стартовой точки, но и от выбора параметров оптимизации, например, числа и типа асферических поверхностей в системе. В качестве объекта исследования рассматривался трехкомпонентный объектив, построенный по схеме «триплета», т.е. трехлинзового объектива из двух положительных линз и одной отрицательной. Параметры объектива: фокусное расстояние объектива f =4,5 мм, относительное отверстие 1:5 и поле 2=40°. Длина системы 4,45 мм, апертурная диафрагма совпадает с четвертой поверхностью.

Исследования проводились путем добавления асферических поверхностей различных порядков последовательно на каждой поверхности, а также сочетании поверхностей, и последующей оптимизации системы. Параметры оптимизации и функция качества (в том числе ограничения на конструктивные параметры) оставались неизменными для каждого варианта. Рассматривались варианты как с одной асферической поверхностью, так и с двумя.

Всего было рассчитано свыше ста пятидесяти вариантов. Для сравнительного анализа рассчитанных вариантов использовался коэффициент передачи контраста для частоты 150 л/мм (K150) для осевой точки, края поля и зоны поля.

Заключение. В работе были исследованы трехкомпонентные системы из полимерных материалов с асферическими поверхностями. Для поиска оптимального варианта расположения асферик рассчитаны системы с поверхностями, описываемыми уравнениями, содержащими, как только четные, так и четные и нечетные степени радиальной координаты.

Было получено, что наилучшие результаты из рассчитанных вариантов обеспечивает система, в которой третья поверхность описывается уравнением четной асферики.

УДК 621.9.

МАГНИТНО-АБРАЗИВНАЯ ОБРАБОТКА ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ

ОПТИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ

Научный руководитель – д.т.н., профессор Э.С. Путилин Формообразование оптических элементов с высокой точностью формы поверхности и малой шероховатостью является актуальной задачей оптической технологии. Эта задача постоянно усложняется, поскольку усложняются схемы оптических приборов, в их состав вводятся оптические элементы с нестандартной формой (цилиндрические поверхности).

Расширение рабочего спектрального диапазона использования требует применения новых материалов, прозрачных в различных областях спектра. Работа в ультрафиолетовой области спектра приводит к тому, что необходимо уменьшать шероховатость поверхности до единиц, а иногда и долей нанометра. Не всегда можно использовать стандартные методы формообразования (принудительное формообразование и притир): при обработке налетоопасных и пятнаемых стекол часто затруднен подбор состава смазочно-охлаждающих жидкостей, сложно обрабатывать цилиндрические поверхности. Поэтому анализ возможностей получения оптического элемента заданной формы с минимальной шероховатостью является актуальной задачей, для решения которой необходимо произвести решения не только технических, но и математических задач. Одним из неординарных решений вопросов формообразования является магнитно-абразивная обработка поверхности оптического элемента [1].

Магнитно-абразивный метод обработки поверхностей оптических элементов применяется в основном при финишных операциях формообразования с целью достижения оптимальных параметров поверхности, особенно шероховатости.

Обработка проводится с помощью взаимодействия между обрабатываемой поверхностью и магнитными абразивными частицами, заполняющими рабочий зазор, под действием магнитного поля.

Под действием магнитного поля, магнитные силы удерживают зерна в рабочем зазоре.

При вращении детали возникает относительное движение между обрабатываемой поверхностью детали и частицами и отсюда возникает сила трения. Зерна, находящиеся в рабочем зазоре, действуют на обрабатываемую поверхность.

В работе был исследован динамический процесс и приведены результаты расчета износа при магнитно-абразивной обработке.

Показано что, износ при магнитно-абразивной обработке зависит от: формы, зернистости зерна; формы и размера рабочего зазора; величины и градиента магнитной индукции в рабочем зазоре; формы, зернистости зерна и его плотности в рабочем зазоре;

скорости вращения детали или скорости вращения магнитного поля и времени обработки [2].

В дальнейшей работе будут рассмотрены схемы обработки с использованием трехфазного тока для получения вращающегося магнитного поля.

Литература Барон Ю.М. Магнитно-абразивная и магнитная обработка изделий и режущих инструментов. – Л.: Машиностроение, 1986. – 176 с.

2. «Magnetic Techniques for the Treatment of Materials» by Jan Svoboda [Электронный ресурс]. – Режим доступа: http://www.twirpx.com/file/568385/, своб.

УДК 535.

КИНЕТИКА ПОЛИМЕРИЗАЦИИ И ОСОБЕННОСТИ ФОРМИРОВАНИЯ

ПЕРИОДИЧЕСКИХ СТРУКТУР ПРИ ГОЛОГРАФИЧЕСКОЙ ЗАПИСИ

В ПОЛИМЕРНЫХ КОМПОЗИТАХ НА ОСНОВЕ НАНОЧАСТИЦ ZnO И piOO

к.т.н., доцент Н.Д. ВорзобоваX д.ф.-м.н., профессор И.Ю. Денисюк Фотополимеризуемые композиции, обеспечивающие модуляцию показателя преломления в процессе интерференционной литографии, в настоящее время являются быстро развивающимся классом материалов, поскольку они технологичны, обладают высокой светочувствительностью, широким диапазоном показателей преломления и низкой стоимостью. Исходя из вышесказанного, фотополимерные композиты становятся перспективными материалами для изготовления голографических дифракционных элементов [1]. Фотополимерные композиты обычно представляют собой гомогенную смесь, состоящую из различных фотоотверждаемых мономеров и фотоинициатора полимеризации. В последнее время для улучшения характеристик голографических нанокомпозитов в мономерную смесь стали вводить различные наночастицы. Голографическая запись осуществляется посредством фотоиндуцированной модуляции показателя преломления происходящей в результате периодического изменения состава и плотности при фотополимеризации мономеров и одновременной взаимной диффузией компонент при записи интерференционной картины [1].

В работе было проведено исследование влияния наночастиц ZnO и SiO2 на кинетику полимеризации и особенности формирования периодических структур при голографической записи в полимерном композите. Были разработаны прозрачные малорассеивающие нанокомпозиционные материалы, состоящие из коммерчески доступных наночастиц ZnO или SiO2 и мономеров, пригодных для голографической записи. Данный материал имеет хорошие оптические и эксплуатационные свойства [2].

Формирование структуры материала исследовалось методом атомно-силовой микроскопии. Кинетика полимеризации была исследована методом Рамановской спектроскопии.

В зависимости от состава полимерной матрицы и природы наночастиц наблюдаются значительные изменения индукционного периода, скорости полимеризации и степени конверсии. На различных нанокомпозитах была записана дифракционная решетка с периодом 2 мкм и дифракционной эффективностью 60%. После проведения АСМ исследований была установлена временная зависимость дифракционной эффективности от композиции и постобработки (равномерной засветки УФ излучением ртутной лампы и нагрева).

Литература 1. Yasuo Tomita and Naoaki Suzuki. Holographic manipulation of nanoparticle distribution morphology in nanoparticle-dispersed photopolymers // Optics Letters. – 2005. – V. 30. – № 8. – Р. 839–841.

2. Denisyuk I.Yu., Burunkova J.A., Kokenyesi S., Bulgakova V.G. and Fokina M.Iv. Optical nanocomposites based on high nanoparticles concentration and its holographic application // Nanocrystals – synthesis, characterization and applications edited by sudheer neralla. – 2012. – Сhapter 5. – Р. 81–102.

УДК 5202:535.

СВЕТОСИЛЬНЫЕ ТРЕХЗЕРКАЛЬНЫЕ ОБЪЕКТИВЫ БЕЗ ПРОМЕЖУТОЧНОГО

ИЗОБРАЖЕНИЯ С ВЫПУКЛЫМ ВТОРИЧНЫМ

И ВОГНУТЫМ ТРЕТЬИМ ЗЕРКАЛАМИ

Научный руководитель – к.т.н., доцент Г.И. Цуканова Для решения многих астрономических задач, в том числе, для глубокого обзора неба требуется светосильные крупногабаритные зеркальные системы с угловым полем не менее 3°.

Поскольку системы крупногабаритные, то решение может быть найдено, в области зеркальных систем и зеркально-линзовых систем с компенсатором в сходящимся пучке лучей.

Чисто зеркальные системы, безусловно, обладают преимуществом перед зеркальнолинзовыми системами, так как могут работать в широком спектральном диапазоне от УФ до ИК областей.

Среди зеркальных систем такую задачу могут решить: зеркальная система Шмидта или многозеркальные плананастигматы. Зеркальная система Шмидта имеет осевую длину даже с учетом введения дополнительного плоского зеркала не менее f, также остается не исправленной кривизна изображения. Что касается многозеркальных систем, то наиболее простыми из них являются – трехзеркальные. Классификация трехзеркальных систем была выполнена. В соответствии с классификацией и исследованием трехзеркальных систем без промежуточного изображения наиболее перспективными являются трехзеркальные системы с выпуклым вторичным и вогнутым третьим зеркалами.

Такого типа системы используются в проекте LSST. Зеркальный телескоп имеет диаметр главного зеркала 8,4 м, длину порядка 10 м, угловое поле 3° и относительное отверстие 1:1,25. Все зеркальные поверхности высшего порядка, имеют также трехлинзовый компенсатор вблизи плоскости изображения, у которого все поверхности асферики высшего порядка. Диаметр входного зрачка 6,5 м, следовательно, экранирование по диаметру более 0,6. Не понятно как защищена плоскость изображения от постороннего света, падающего на третье зеркало, минуя первое и второе.

В рассмотренной ранее трехзеркальной системе для организации защиты от постороннего света определяется оптимальное положение апертурной диафрагмы и устанавливается внутренняя бленда в отверстие главного зеркала и до апертурной диафрагмы – внешняя бленда у второго и первого зеркал.

Целью работы стал габаритный и аберрационный расчеты в области аберраций третьего порядка объективов без промежуточного изображения с выпуклым вторичным и вогнутым третьим зеркалами с коррекцией сферической аберрации, комы, астигматизма и кривизны изображения, а также исследование исходных систем и расчет одного из вариантов.

При расчете зеркальных систем радиусы кривизны поверхностей зеркал и расстояния между ними не являются полноценными параметрами. Они, как правило, используются для устранения кривизны изображения, приемлемых значений расстояний между зеркалами, а также удобного положения плоскости изображения и допустимого экранирования.

В работе на стадии габаритного расчета были заданы значения: 2 (связано с относительным отверстием главного зеркала); h2 (определяет экранирование системы) и 3.

Значение h3 было определено из условия устранения кривизны изображения.

Полученные значения высот hs и углов s позволили найти радиусы поверхностей зеркал, расстояния между зеркалами и положение плоскости изображения.

Однако условие устранения кривизны возможно не при любых сочетаниях 2, 3 и h2.

некоторые варианты получаются конструктивно не осуществимыми, например, расстояние между вторым и третьим зеркалами получаются или очень большие или отрицательные.

Для исправления аберраций третьего порядка (сферической аберрации, комы, астигматизма) не остается параметров кроме коэффициентов деформации зеркал. При определенном сочетании могут получиться системы со сферическим вторичным или третьим зеркалами. С точки зрения защиты от постороннего света более приемлемыми являются системы со сферическим третьим зеркалом.

Были получены формулы для определения коэффициентов деформации зеркал, с помощью полученных формул рассчитан ряд исходных систем.

Рассчитанные системы могут быть исходными для расчета неэкранированных систем.

УДК 535.

К ВОПРОСУ О ТОЧНОСТИ ИЗМЕРЕНИЙ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ

МЕТОДОМ ОКОНТУРИВАНИЯ

Научный руководитель – д.т.н., профессор В.К. Кирилловскии Для определения показателя преломления жидкостей достаточно широко используют рефрактометры различных типов, из которых наиболее популярным является рефрактометр Аббе.

На практике при измерениях показателя преломления рефрактометром Аббе за результат принимают среднее арифметическое значение нескольких измерений (например, 5– 10). Основным источником погрешности при этом служит размытость границы раздела темной и светлой частей поля.

В модернизированном рефрактометре Аббе, в котором при обработке изображения применяется метод оконтуривания, можно добиться четкого разделения темной и светлой частей поля. Это, предположительно, должно вести к снижению погрешности при наводке и, как следствие, повышению точности измерений показателя преломления.

Во всех отраслях науки и техники в последнее время широкую популярность приобрели методы имитационного моделирования (статистических испытаний). Попытаемся этими методами обосновать предположение, что используемый в модернизированном рефрактометре Аббе метод оконтуривания повышает точность измерений показателя преломления.

Сравнение точности определения показателя преломления обычным серийным рефрактометром Аббе (Прибор 1) и модернизированным (Прибор 2) было выполнено с помощью ряда модельных экспериментов по измерению показателя преломления дистиллированной воды (табличное значение показателя преломления 1,33291 при 20°С).

Прибор 1 позволяет производить измерения с погрешностью 210–4. В соответствии со статистическим правилом трех сигм (3s) можно утверждать, что 3s1=210–4, следовательно, s1=6,(6)10–5. Генерируя случайные числа по нормальному закону распределения с параметрами m=1,33291 и s1=6,(6)10–5, получим моделируемые результаты измерений.

Прибор 2 за счет использования метода оконтуривания позволяет производить измерения на порядок с более высокой точностью 3s2=210–5, поэтому для этого прибора будем генерировать случайные числа по нормальному закону распределения с параметрами m=1,33291 и s2=6,(6)10–6. Ограничимся проведением 1000 независимых модельных экспериментов для каждого прибора.

Анализ результатов показал, что Прибором 1 даже по проведении 1000 модельных экспериментов не удается достичь точности измерений до 5-ти знаков после запятой.

Достижение такой точности вообще представляется сомнительным. А для Прибора точность измерений достигает 5-ти знаков после запятой.

Для модернизированного рефрактометра Аббе период стационарности (когда среднее практически не меняет своего значения) начинается уже после проведения 200 модельных экспериментов. После 200 модельных экспериментов пять цифр после запятой перестали меняться. Таким образом, точность измерений, включая пятый знак после запятой, может быть достигнута по проведении 200 реальных (не модельных) экспериментов.

Для простого рефрактометра Аббе период стационарности практически не наступил и после проведения 1000 модельных экспериментов (среднее значение сильно колеблется относительно эталонного).

Модельный эксперимент показал, что:

1. проведение 5–10 измерений рефрактометром Аббе недостаточно для определения показателя преломления с точностью до 4-х знаков;

2. модернизированный рефрактометр Аббе на основе метода оконтуривания позволяет повысить точность измерений показателя преломления, исключив погрешность наведения.

УДК 535.

СИНТЕЗ ОБЪЕКТИВА ДЛЯ ИНДИКАЦИИ ИНФОРМАЦИИ НА ОСНОВЕ

ДВУХКОМПОНЕНТНОЙ СХЕМЫ

Научный руководитель – к.т.н., доцент А.В. Бахолдин Вступление. Современные системы индикации позволяют оператору видеть всю необходимую информацию в поле своего зрения, не отвлекаясь от выполняемой задачи. В авиации, например, широко используются индикаторы на лобовом стекле и нашлемные системы индикации. Данные устройства необходимы при выполнении сложных задач, таких как ведение боя или посадка самолета, когда нет возможности отвлечься от наблюдения закабинного пространства и обязательна мгновенная реакция. В настоящее время виртуальные дисплеи анонсируются для применения в медицине, космонавтике, автомобилестроении, индустрии развлечений и в повседневной жизни.

Целью работы был синтез оптической системы объектива для индикации информации.

Базовые положения исследования. В системах индикации информации используются матричные источники, и для обеспечения надлежащего качества их работы необходимо организовывать телецентрический ход лучей в пространстве генератора символов. Для выполнения этой задачи применяются объективы с вынесенным зрачком, помещенным в заднюю фокальную плоскость.

Систему с вынесенным выходным зрачком удобнее рассчитывать в обратном ходе лучей, поэтому представляем объектив в виде двухкомпонентной оптической схемы с вынесенным входным зрачком. Чаще всего возникает необходимость обеспечить значительный вынос зрачка, при этом сохранив компактные габаритные размеры системы.

Поэтому в качестве начальных параметров для расчета выбираем удаление зрачка от совмещенных главных плоскостей первого компонента и расстояние от плоскости зрачка до плоскости изображения.

В процессе работы были выведены зависимости, которые позволяют, зная начальные параметры, определить фокусные расстояния обоих компонентов, расстояние между их совмещенными главными плоскостями и задний отрезок системы. Для удобства последующего анализа, полученные результаты были представлены в графическом виде.

Проведенные исследования позволили классифицировать два возможных типа систем – «короткую» и «длинную», а также выделить несколько вариантов композиции оптических схем.

Выбор подходящей оптической схемы производился, опираясь на общие требования к системе, а также возможность реализации данной схемы на практике. Необходимо обеспечить не только большой вынос входного зрачка, но и задний отрезок, достаточный для размещения дополнительных элементов, таких как призмы, поляризаторы и т.д.

Относительное отверстие всего объектива, при заданном диаметре входного зрачка и фокусном расстоянии всей системы, будет постоянно, вне зависимости от параметров отдельных компонентов оптической схемы. Поэтому имеет смысл выбирать компоненты таким образом, чтобы уменьшить их относительные отверстия.

В дальнейшем, используя результаты габаритного расчета, был произведен расчет конструктивных параметров.

Выведены зависимости, благодаря которым, при заданном удалении входного зрачка от совмещенных главных плоскостей первого компонента и расстоянии от плоскости зрачка до плоскости изображения, можно определить параметры двухкомпонентной схемы.

Рассмотрены два типа систем объектива с вынесенным зрачком.

Произведен анализ вариантов композиции оптических схем объектива для индикации информации.

Выбраны оптимальные варианты начальной схемы объектива для последующего расчета.

В качестве примера представлены этапы расчета объектива для индикации информации.

Основной результат. Произведен этап синтеза объектива для индикации информации.

УДК 778.38; 535.317.

ВЛИЯНИЕ ИЗМЕНЕНИЯ ВЛАЖНОСТИ НА ПАРАМЕТРЫ ОБЪЕМНЫХ

ПОЛИМЕРНЫХ РЕГИСТРИРУЮЩИХ СРЕД

Научный руководитель – к.ф.-м.н., ст.н.с., доцент О.В. Андреева Для получения объемных голограмм используют различные регистрирующие среды:

полимерные среды привлекают большое внимание, хотя не обладают такими высокими физико-механическими свойствами, как кристаллы или силикатные стекла, но процесс их изготовления является более дешевым и доступным. Следует отметить, что, в отличие от силикатных стекол полимерные среды обладают свойством поглощать влагу, что приводит к изменению толщины полимерного образца и его среднего показателя преломления. Эти изменения, в свою очередь, приводят к изменению параметров зарегистрированной голограммы и нестабильности характеристик голограммных оптических элементов при изменении влажности окружающей среды.

Объектом исследования в данной работе были образцы полимерной регистрирующей среды «Диффен» толщиной (1–2) мм, используемые для получения объемных голограмм.

Такие голограммы представляют большой интерес с точки зрения практического применения при создании высокоселективных оптических элементов и систем сверхплотного хранения информации. В работе был исследован процесс набора влаги полимерными образцами различного синтеза при увеличении влажности окружающей среды и процесс потери влаги при уменьшении влажности. Изменение поглощенной или выделенной образцом влаги контролировалось путем измерения веса образца. Проведенные измерения позволили определить зависимость изменения веса каждого исследуемого образца при его выдерживании в атмосфере повышенной или пониженной влажности.

Было показано, что полимерные образцы, помещенные в замкнутый объем с относительной влажностью более 90%, увеличиваются в весе на величину до 1,5% в течение нескольких суток, при этом первые 2–3 часа набора влаги увеличение веса происходит наиболее быстро. В процессе проведения работы было обнаружено, что набор влаги образцами, синтезированными в различных условиях, происходит достаточно типично:

образцы одинаковой толщины, выдержанные в атмосфере повышенной влажности в течение трех суток, изменили свой вес на (1,0–1,2)%.

Впервые в работе было проведено сравнение микротвердости полимерных образцов при различном состоянии их влажности, которая определяется влажностью окружающей среды. Микротвердость образцов определялась методом Виккерса на приборе ПМТ-3 по размеру диагонали отпечатка алмазной пирамидки, вдавливаемой в поверхность образца.

Было обнаружено, что микротвердость образцов, измеренная при влажности окружающего воздуха (50–60)%, уменьшается при наборе влаги образцом, причем это изменение тем меньше, чем выше исходная микротвердость образца. Экспериментальные результаты, полученные для образцов материала «Диффен» впервые, будут использованы для оптимизации условий экспериментальной работы с полимерными образцами при получении объемных голограмм и их использовании.

УДК 635.

ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЕ ПОКРЫТИЯ ДЛЯ ВАКУУМНОЙ АСФЕРИЗАЦИИ

Научный руководитель – д.т.н., профессор Э.С. Путилин В работе были рассмотрены интерференционные покрытия для вакуумной асферизации. Основное требование, предъявляемое к таким покрытиям, заключается в постоянстве энергетического коэффициента отражения (пропускания) при изменении толщин одного или нескольких слоев по поверхности оптического элемента [1, 2]. Этим требованиям удовлетворяют фазо-компенсирующие покрытия. Фазо-компенсирующие покрытия – это такие покрытия, у которых с изменением оптической толщины одного или нескольких слоев, значение энергетического коэффициента отражения (пропускания), в одной или интервале длин волн, остается постоянным, а изменяется фаза отраженного или прошедшего излучения.

Эти покрытия могут использоваться не только для задач вакуумной асферизации, но и для формирования волнового фронта в интерферометрах Фабри-Перо или лазерных резонаторах.

Рассмотрены три вида систем:

1. состоящих из четвертьволновых слоев, на которые сверху нанесен слой с меняющейся толщиной (градиентный);

2. содержащих также только один градиентный слой, находящийся между двумя системами, состоящими из нескольких четвертьволновых слоев: (n1 n 2 ) (n )(n 3 n 4 ), (n1 n 2 ) n1 (n )(n 3 n 4 ), (n1 n 2 )k n1 (n )(n3 n 4 )l n3, (n1 n 2 )k (n )(n 3 n 4 )l n3, где k, l – любое целое положительное число;

3. образованных многослойными четвертьволновыми системами с чередующимися градиентными слоями.

В работе были определены значения показателей преломления градиентных слоев в зависимости от показателей преломления и числа четвертьволновых слоев, обрамляющих градиентный слой или находящихся под ним. Кроме этого определены амплитудные и энергетические коэффициенты отражения (пропускания) систем, а так же рассмотрены изменения разности фаз между падающим и отражающим излучением; разности фаз между падающим и прошедшим излучением в зависимости от оптической толщины градиентного слоя; формирование волнового фронта отраженного и проходящего излучения с помощью таких систем.

Литература Губанова Л.А. Градиентные интерференционные системы: автореферат дис. … доктора технических наук: 05.11.07. – СПб: СПбГУ ИТМО, 2008. – 46 с.

Путилин Э.С. Оптические покрытия. – СПб: СПбГУ ИТМО, 2010. – 227 с.

УДК 681.7.

АБЕРРАЦИОННЫЕ СВОЙСТВА КИНОФОРМНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ

Научный руководитель – д.т.н., профессор А.П. Грамматин Для решения задачи спектральной оптической когерентной микроскопии и создания микроскопа со спектральным «погружением», необходимо исследовать и рассчитать объектив с заведомо неисправленным хроматизмом положения в воздухе равным 0,6 мм и в среде – 1 мм. Оптический материал такого объектива должен обладать коэффициентом дисперсии равным 20.

В первую очередь была проверена возможность использования стекол и кристаллов в качестве элементов оптической системы. Для заданного спектрального диапазона (1,1– 1,3 мкм) значение чисел Аббе у стекол >400, у кристаллов >350. Значит, для получения необходимого значения хроматизма положения может потребоваться большое количество линз с большой оптической силой.

Поэтому было решено использовать киноформный элемент в качестве силового компонента объектива. Киноформный элемент представляет собой фазовую круговую дифракционную решетку с переменным шагом. Ранее киноформ использовался в качестве компенсатора вторичного спектра оптических систем. Были изготовлены опытные образцы объектива микроскопа и фотографического объектива. Относительная оптическая сила киноформной линзы в этих случаях не превышала 0,17. Коэффициент дисперсии киноформа определяется отношением спектрального диапазона к основной длине волны, что в заданном спектральном диапазоне длин волн и фокусным расстоянием 16 мм обеспечивает хроматизм положения в воздухе – 1 мм и в среде – 1,5 мм.

Установлено, что киноформный элемент позволяет идеально исправлять волновую сферическую аберрацию, но значение отклонения от изопланатизма при высоком значении числовой апертуры слишком велико. Следовательно, использовать один киноформ в качестве объектива нельзя. Для исправления изопланатизма можно использовать компенсаторы, например компенсатор Чуриловского.

С помощью компьютерного моделирования была получена формула, связывающая первый параметрический коэффициент с фокусным расстоянием. Также исследована зависимость второго и третьего параметрического коэффициента киноформа со значением волновой сферической аберрацией четвертого и шестого порядков соответственно. Кроме того, исследована связь между оптической силой киноформа и сферохроматической аберрацией.

УДК 535.

АБЕРРАЦИОННЫЕ СВОЙСТВА ТОНКОЙ ЛИНЗЫ

В ШИРОКИХ И УЗКИХ ПУЧКАХ ЛУЧЕЙ

Научный руководитель – д.т.н., профессор В.А. Зверев Принципиально задача построения изображения предмета решается с помощью одной тонкой линзы. При этом величина сферической аберрации, комы и астигматизма изображения определяется оптической силой и формой (прогибом) линзы, поперечным увеличением изображения (положением предмета относительно линзы) и положением входного зрачка. Для достижения требуемого качества изображения оптическую систему объектива, состоящую из одной тонкой линзы, приходится дополнять, как минимум, еще одной линзой. В общем случае это приводит к изменению положения предмета, изображаемого исходной линзой, к изменению оптической силы и прогиба линзы и, как следствие, к изменению требуемого положения входного зрачка. Поэтому изучение аберрационных свойств тонкой линзы можно рассматривать как необходимое условие грамотной композиции оптических систем.

При расположении тонкой линзы в широких пучках лучей, возможно, найти такие значения поперечного увеличения, при которых в изображении, образованном тонкой линзой, отсутствуют первичные аберрации: сферическая аберрация и кома.

Важным частным случаем применения тонкой линзы в воздухе является случай, когда поперечное увеличение равно нулю, т.е. случай, когда предмет расположен на бесконечно большом расстоянии от линзы.

Если система состоит из k-линз, то значение параметра, определяющего кому, не зависит от числа линз в системе. Т.е. при апланатической коррекции первичных аберраций показатель преломления материала линз должен быть заметно больше, чем при стигматической.

При расположении тонкой линзы в узких пучках лучей, значение аберраций зависит от положения входного зрачка. Кривизна поверхности изображения, образованного тонкой линзой, определяется ее оптической силой и показателем преломления материала линзы. При однозначном положении входного зрачка, при котором в изображении, образованном тонкой линзой, отсутствует первичный астигматизм, при том же положении зрачка отсутствует и первичная кома.

При композиции оптических систем важно знать не только положение входного зрачка тонкой линзы при анастигматической коррекции аберраций, но и характер изменения астигматизма при изменении положения зрачка.

Поэтому знание аберрационных свойств тонкой линзы, выбранной в качестве базовой, позволяет грамотно дополнять ее требуемыми коррекционными элементами.

УДК 535.

МОНОХРОМАТИЧЕСКИЕ ОБЪЕКТИВЫ ДЛЯ СИСТЕМ КОГЕРЕНТНОЙ

МИКРОСКОПИИ

Научный руководитель – д.т.н., профессор Л.Н. Андреев Краткое вступление, постановка проблемы. Для проведения ряда исследований в области спектральной оптической когерентной микроскопии возникает необходимость создания монохроматических объективов, применяемых с различными лазерами.

Основным требованием, предъявляемым к этим объективам, является: обеспечение дифракционного качества изображения для дискретных длин волн лазеров в пределах спектральной области без фокусировки объектива (перемещения вдоль оптической оси).

Глубина сканирования среды вдоль оптической оси определяется величиной хроматизма положения объектива.

Цель работы. Рассмотреть методику расчета монохроматических объективов для ближней ИК области спектра.

Базовые положения исследования. При расчете был использован модульный принцип проектирования. Сущность методики заключается в том, что оптическая система объектива синтезируется из элементов (оптических модулей) с известными коррекционными свойствами. У монохроматических объективов коррекции подлежат следующие аберрации:

сферическая аберрация, кома, астигматизм и кривизна поверхности. Для удовлетворения этих требований оптическая схема должна состоять не менее чем из двух компонентов противоположного знака оптической силы, разделенных воздушным промежутком конечной величины.

Первый компонент – плосковыпуклая линза из оптического материала с показателем преломления n=1,6–1,65, выпуклая поверхность, которой выполнена асферической. В такой линзе путем интерполяции величин n и e2 возможна коррекция сферической аберрации и комы. Второй компонент – апланатический мениск. С целью повышения числовой апертуры объектива и улучшения коррекции аберраций в первый компонент вводится апланатический мениск (один или несколько).

Для обеспечения необходимой величины хроматической аберрации положения перед объективом располагается афокальная гиперхроматическая линза («хроматизатор»), склеенная из линз, у которых показатели преломления для средней длины волны близки, а средние дисперсии различны. Так как гиперхроматическая линза расположена в параллельном ходе лучей, она не вносит монохроматических аберраций. Путем интерполяции радиусов «хроматической» поверхности добиваются нужного значения хроматической аберрации положения.

При расчете объективов с небольшим полем порядка 1–2° оптическая схема состоит из плосковыпуклой линзу с асферической поверхностью второго порядка и гиперхроматической линзы.

Промежуточные результаты. По предложенной методике был произведен расчет монохроматических объективов с увеличенным хроматизмом положения. Для иллюстрации были приведены оптические схемы и остаточные аберрации объективов.

Основной результат. Показана эффективность применения модульного проектирования монохроматических объективов с увеличенным хроматизмом положения.

Рассчитанные объективы позволяют проводить сканирование исследуемого объекта вдоль оптической оси без перефокусировки в пределах спектральной области. Объективы имеют практически дифракционное качество изображения в пределах указанной спектральной области.

УДК 681.

ИССЛЕДОВАНИЕ ОСНОВНЫХ СХЕМ ФОРМИРОВАНИЯ СТЕРЕОИЗОБРАЖЕНИЯ

К.В. Ежова, М.П. Комарова, Д.В. Храбрый, А.А. Бурцева, М.А. Семенова Научный руководитель – д.т.н., профессор В.А. Зверев Современные компьютерные технологии все чаще требуют обращения к вопросам моделирования стереоизображений. Именно использование стереоизображений позволяет получить наиболее полную и информативную 3D-картину исследуемого объекта, так как основным преимуществом 3D-изображения перед 2D является наглядность и возможность изучения большего количества деталей.

Как известно, для формирования 3D-изображений необходимо получить стереоизображения (стереопары), представляющие собой изображения, сформированные для наблюдения левым и правым глазом, как при наблюдении реальной картины окружающего мира.

К настоящему времени сформировались два основных способа создания стереопар.

Первый способ заключается в использовании двух камер (фотоаппаратов), оптические оси которых располагаются параллельно друг относительно друга, второй – оптические оси которых располагаются под определенным углом друг к другу. Так же съемку можно производить одной камерой, поворачивая ее на тот же заданный угол вокруг объекта съемки.

Однако, возможен вариант формирования изображений стереопары на основе одного кадра, путем сдвига кадра на одинаковое расстояние для всех объектов по всей площади такое изображение получило название «псевдо-стереоизображение». В более сложных случаях, возможно прогрессивное вычисление взаимного смещения изображений стереопары в зависимости от наблюдаемой перспективы и других параметров стереосъемки.

В работе были рассмотрены основные параметры съемки стереоизображений, приведены основные соотношения между параметрами установки для стереосъемки, в зависимости от типа съемки, сделаны выводы о возможности формирования, так называемого, псевдо-стереоизображения. В качестве основных параметров установки формирования стереоизображения были выделены следующие: стереобаза; угловая стереобаза; фокусное расстояние объектива; угол обзора; угловое разрешение зрения; радиус стереовосприятия; размер объекта; расстояние до объекта (минимальное, максимальное);

расстояние между объектами.

Дополнительными параметрами можно считать параметры дисплея, на который в результате будет выведено изображение с возможностью просмотра его без дополнительных устройств, например, специальных очков. Такими параметрами будут являться: толщина растра; радиус кривизны растра; период растра; показатель преломления материала; угол охвата растра.

В дальнейшем планируется разработка программного комплекса для расчета параметров съемки стереопар для формирования стереоизображения, в придельных случаях, при невозможности съемки стереопар, для расчета параметров формирования псевдостереоизображения.

УДК 004.

ИССЛЕДОВАНИЕ АЛГОРИТМОВ ПЕРВИЧНОЙ ОБРАБОТКИ ИЗОБРАЖЕНИЙ

К.В. Ежова, Д.В. Храбрый, М.П. Комарова, А.А. Бурцева Научный руководитель – д.т.н., профессор В.А. Зверев Современная фото- и видеотехника имеет встроенные процессоры, что позволяет применять компьютерные методы для улучшения качества изображения.

В работе был представлен обзор методов алгоритмов первичной обработки изображений. К первичной обработке изображений принято относить изменение яркости и контрастности изображения, применение алгоритмов гамма-коррекции изображения, избавления от смаза на изображении, двоения и дисторсии изображения, дефокусировки изображения и недостаточной глубины резкости.

Алгоритмы первичной обработки изображения используются для исправления искажений на изображении до переноса этих изображений на запоминающее устройство в фото- и видеотехнике.

Изменение яркости, контраста или проведение гамма-коррекции изображения основывается на попиксельном изменении интенсивности изображения в соответствии с выбранным законом коррекции.

Алгоритмическая компенсация геометрических искажений обычно выполняется методом обратного проецирования пикселов скорректированного изображения на исходное.

Для компенсации дефокусировки, астигматизма и смаза возможно использование цифровых методов восстановления изображений. В этом случае делается попытка реконструировать или восстановить изображение, которое была искажено, используя априорную информацию о явлении, которое вызвало ухудшение изображения. Поэтому методы восстановления основаны на моделировании процессов искажения и применении обратных процедур для воссоздания исходного изображения, таких как использование алгоритмов обратной фильтрации и фильтрации Виннера.

Главным назначением разработки является опробование алгоритмов первичной обработки изображения для дальнейшего возможного использования в программном обеспечении фото- и видеотехнике.

В дальнейшем планируется разработка программного комплекса для первичной обработки изображения.

УДК 535.317.

СИСТЕМАТИЗАЦИЯ И ИССЛЕДОВАНИЕ КОЛИЧЕСТВЕННЫХ

ТЕНЕВЫХ МЕТОДОВ

Научный руководитель – д.т.н., профессор В.К. Кирилловский Краткое вступление, постановка проблемы. В 1856 году Леон Фуко предложил метод визуализации деформаций волнового фронта в зрачке оптической системы, названный теневым методом. В предложенном методе высокая чувствительность сочетается с чрезвычайной простотой выполнения и наглядностью.

Теневой метод Фуко используется для исследований деформаций волнового фронта, связанных с аберрациями оптических систем и ошибками оптических поверхностей.

Данный метод широко используется в процессе обработки оптических поверхностей, особенно крупногабаритных, и позволяет устранять ошибки оптических поверхностей и вести обработку в правильном направлении для достижения их высокого качества. Однако традиционный теневой метод не дает возможности осуществлять количественные оптические измерения ошибок и получать топограмму волнового фронта для последующей обработки с целью расчета характеристик качества оптического изображения, таких как функция рассеяния точки (ФРТ), частотно-контрастная характеристика (ЧКХ), функция концентрации энергии (ФКЭ).

Для устранения этой проблемы была выполнена разработка и исследования, основанные на трансформации изображения теневой картины в изображение системы полос, аналогичных интерферограмме сдвига для контролируемой поверхности.

Цель работы. Систематизация существующих количественных теневых методов и разработанного количественного теневого метода на основе использования метода изофотометрии, который позволяет получить карту деформаций исследуемого волнового фронта, таблицы коэффициентов Цернике, а также характеристики качества оптических систем, такие как ФРТ, функция рассеяния линии и ЧКХ и ФКЭ в пятне рассеяния.

Базовые положения исследования. Первой попыткой количественного применения теневых методов стал способ теневого измерения топограммы поверхности по зонам, предложенный Ж. Ричи. Для контроля зеркальных параболических поверхностей был предложен экран, освещающий только три зоны: центральную (параксиальную), краевую (периферийную) и зону между ними – промежуточную, которые соответствуют краям и центру каустики. Устанавливая каждый из моментов затемнения указанных зон, можно точно определить положение краев и центра каустики.

Д.Д. Максутов усовершенствовал метод ножа Фуко, заменив точечный источник света (примененный Фуко) узкой щелью, а нож – узким прямолинейным экраном в виде нити.

Основным преимуществом метода нити Д.Д. Максутова по сравнению с методом зонального ножа является его способность ограничивать на контролируемом участке экранирующее действие вплоть до очень узкой области. Более того, дифракционные эффекты здесь симметричны по отношению к кольцевым зонам. Места пересечения нормалей с оптической осью можно измерить значительно точнее и оценить отклонения экспериментальных значений пересечений от теоретических (получить значения аберраций нормалей).

В. Ронки уделил большое внимание в своих трудах методу решеток. Метод Ронки является одним из простейших и наиболее удачных способов оценки измерения аберраций оптических систем. Метод теневых решеток состоит в исследовании волны света, прошедшей через оптическую систему, при помощи дифракционной решетки. Дифракция играет важную роль в наблюдаемом явлении, однако окончательным результатом является возникновение интерференционной картины. Такие схемы контроля иногда называют «интерферометрами с решеткой».

Промежуточные результаты. Интерес представляет количественный теневой метод Фуко–Филбера, который относится к фотометрическим телевизионным методам.

Суть метода заключается в том, что с помощью фотоэлектрического анализа интерференционной картины осуществляется отображение аберраций волнового фронта в виде электрических сигналов и мгновенное отображение наглядной формы его профиля на экране электронного осциллографа. Недостатки метода – ограниченная область применения.

Метод не позволяет получить карту деформаций волнового фронта, не дает возможности определять характер преобладающих на данной поверхности аберраций и ошибок обработки.

Существующий метод ножа Фуко передает деформации волнового фронта как полутоновую картину, позволяющую наглядно отображать деформации волнового фронта и по ним качественно определять характер преобладающих на данной поверхности аберраций.

В данной работе было найдено, что благодаря использованию в компьютере метода и программы изофотометрии возможно произвести трансформацию двух теневых картин Фуко, полученных с поворотом ножа на 90°, в две картины полос, аналогичные интерферограммам Ронки. Компьютерная обработка пары картин полос при помощи программы «Tiger», разработанной на кафедре ПиКО НИУ ИТМО, позволяет получать топограмму волнового фронта для последующей обработки с целью расчета характеристик качества оптического изображения, таких как ФРТ, ЧКХ и ФКЭ в пятне рассеяния.

Основные результаты. Для количественной расшифровки теневой картины была использована программа изофотометрии, основанная на регистрации серии фотоснимков пятна рассеяния с переменным временем экспозиции на одном и тоже фотоприемнике.

Программа изофотометрии трансформирует плавную функцию распределения освещенности в каждой теневой картине ножа Фуко в систему изофот, аналогичную системе полос Ронки.

Использование программы «Tiger» для обработки и анализа исследуемых картин дает возможность получить количественную информацию об ошибках волнового фронта, а также возможность расчета характеристик качества изображения.

Таким образом, предлагаемый метод, впервые для теневых методов, позволяет посредством количественной расшифровки тенеграммы ножа Фуко получать полную карту волнового фронта поверхности или оптической системы, получать таблицы коэффициентов Цернике и рассчитывать на основании этих данных основные характеристики качества изображения: ФРТ, ЧКХ, ФКЭ в пятне рассеяния.

УДК 004.021, 53.084.2, 681.7.06/.07, 681.2.082.5.001.

ИССЛЕДОВАНИЕ ВОПРОСОВ АВТОМАТИЗАЦИИ ПРОЕКТИРОВАНИЯ

ЭЛЕМЕНТОВ КРЕПЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ

Научный руководитель – к.т.н., доцент Н.Д. Толстоба Важнейшие проблемы, решение которых определяет уровень ускорения научнотехнического прогресса общества это увеличение производительности труда разработчиков изделий, сокращение сроков проектирования. Развитие систем автоматизированного проектирования (САПР) стремительно разрешает эти проблемы за счет создания и внедрения таких систем на производство.

В настоящее время созданы и применяются в основном средства и методы, обеспечивающие автоматизацию проектирования оптических систем. В рамках этого автоматизируется расчет необходимых характеристик оптической системы, аберрационный расчет оптической системы, расчет допусков на конструктивные элементы оптической системы, и другие характеристики для формирования технического задания на конструирование и изготовление прибора. Дальнейший расчет конструкции прибора, в частности расчет параметров элементов крепления оптической системы выполняет конструктор. На этапе конструирования возможно применение автоматизации для повышения качества и производительности.

Цель работы – разработка метода автоматизации расчета конструктивных параметров элемента крепления круглого оптического элемента.

При исследовании методов автоматизации проектирования оптических систем в трудах С.А. Родионова предлагается алгоритм САПР. Суть алгоритма заключается в комплексном выполнении основных операций математического моделирования: анализ, синтез и оптимизация математической модели. Согласно алгоритму производится расчет оптической системы по обратной задаче: формируется первоначальная структура оптической системы, а по известной модели ведется расчет первичных параметров. Однако крайне редко удается получить оптимальные значения параметров. Связано это с тем, что при синтезе используется эвристический алгоритм перебора значений. Поэтому после синтеза необходимо применять оптимизацию расчетов, цель которых является циклическое изменение значений параметров для достижения наилучших значений искомых характеристик.

В рамках исследования вопросов автоматизации назначения допусков на элементы крепления оптических деталей выявлена зависимость конструктивных параметров оправы линзы и допусков формы и расположения. Для анализа зависимости допусков линзы и оправы, и как следствие для определения оптимальных значений конструктивных параметров оправы предложено все значения свести в матрицу. Расчет значений матрицы проводится по методу синтеза. Зная параметры оптической системы, а именно конструктивные параметры отдельных компонентов и допуски центрирования сферических поверхностей моделируется конструкция с назначенными допусками. Согласно выявленной зависимости допусков и конструкции оправы производится расчет значений конструктивных параметров искомой оправы. Используя матрицу значений оптического узла проводится оптимизация параметров.

Разработан программный модуль, который производит расчет значений конструктивных параметров оправы, с применением описанного метода. Модуль применим для расчета узла, в котором линза крепится с помощью резьбового кольца. Проведена апробация метода, которая показала, что таким методом возможно определить оптимальные параметры элемента крепления круглой оптической детали.

УДК 5202:535.

ИССЛЕДОВАНИЕ ХРОМАТИЗМА УВЕЛИЧЕНИЯ В ДВУХКОМПОНЕНТНЫХ

СИСТЕМАХ С КОНЕЧНЫМ ПРОМЕЖУТКОМ МЕЖДУ НИМИ

С.Е. Иванов (ОАО «Гирооптика»), К.Д. Бутылкина (Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики оптики) Научный руководитель – к.т.н., доцент Г.И. Цуканова (Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных Коррекция хроматических аберраций в оптических системах строится на различии изменения показателя преломления оптических материалов от длины волны. В двухкомпонентном объективе для коррекции хроматизма увеличения достаточно скомпенсировать хроматическое изменение оптической силы одного оптического компонента с помощью изменения оптической силы другого оптического компонента. Исследование хроматизма увеличения, а также решение задачи ахроматизации были проведены в работах Г.Г. Слюсарева, В.Н. Чуриловского и других авторов [2, 4, 5], в которых используются сложные формулы и выражения. На практике, когда необходимо задать начальную оптическую систему для дальнейшей работы с заведомо устраненным хроматизмом увеличения, достаточно сложно воспользоваться этими исследованиями. В этом случае нужен достаточно простой способ расчета первоначальной оптической схемы. Целью данной работы была разработка такого способа расчета оптической системы с разнесенными компонентами, свободной от хроматизма увеличения.

В результате выводов и преобразований было получено квадратное уравнение относительно оптической силы первого компонента, Ф10.

где коэффициенты a, b и c зависят от общей оптической силы разрабатываемой системы, расстояния между компонентами системы и показателей преломления оптических материалов, используемых в оптической системе.

Уравнение имеет два решения. Вычислив каждый из корней, получим оптические силы двух компонентов для системы свободной от хроматизма увеличения. Оптическая система будет напоминать расклеенную склейку.

В одном из решений получим систему с высоким значением оптических сил компонентов. В реальной системе это отразиться на значениях радиусов оптических поверхностей, они будут очень крутыми. Создание таких систем возможно только с очень малым относительным отверстием, порядка 1:20.

Во втором решении значения оптических сил компонентов будут значительно меньше.

Это позволяет создавать системы с более высоким значением относительного отверстия.

Таким образом, был получен достаточно простой алгоритм для определения оптических сил компонентов для создания оптической системы с заданным значением оптической силы и свободной от хроматизма увеличения.

В результате исследования этого алгоритма было получено, что не для всех значений расстояния между компонентами есть действительные значения оптических сил компонентов. Существуют интервалы значений расстояния между компонентами, при которых возможна ахроматизация.

Также было установлено, что отношение оптических сил компонентов при всех значениях расстояний между компонентами, при которых возможно устранение хроматизма увеличения, носит линейный характер, т.е. с ростом расстояний между компонентами линейно увеличиваются значения их оптических сил.

Таким образом, при создании оптической системы с разнесенными компонентами, свободной от хроматизма увеличения, достаточно задаться оптическими материалами компонентов и фокусным расстоянием всей оптической системы, после чего становиться возможным, провести анализ на возможность создания такой системы и определить оптические силы ее компонентов.

Ландсберг Г.С. Оптика. Учеб. пособие: для вузов. – 6-е изд., стереот. – М.: ФИЗМАТЛИТ, Слюсарев Г.Г. Методы расчета оптических систем. Изд. 2-е, доп. и перераб. – Л.:

Машиностроение, 1969. – 672 с.

Стафеев С.К., Боярский К.К., Башнина Г.Л. Основы оптики: учебное пособие. – Изд.:

Питер, 2006. – 336 с.

Чуриловский В.Н. Теория хроматизма и аберраций третьего порядка. – Л.:

Машиностроение, 1968. – 312 с.

5. Malacara D., Malacara Z. Handbook of Optical Design. 2-nd edition. – New York., 2004. – УДК 535.421; 778.

ГОЛОГРАФИЧЕСКИЕ КОЛЛИМАТОРНЫЕ ПРИЦЕЛЫ: СРАВНИТЕЛЬНЫЙ

АНАЛИЗ ПРИНЦИПИАЛЬНЫХ СХЕМ. ВЫВОД УСЛОВИЯ АХРОМАТИЗАЦИИ.

РАЗРАБОТКА СХЕМЫ ГОЛОГРАФИЧЕСКОГО КОЛЛИМАТОРНОГО ПРИЦЕЛА

Научный руководитель – д.т.н., профессор С.Н. Корешев Голографический прицел – это электронно-оптическое устройство, которое является разновидностью коллиматорного прицела. Особенность такого прицела состоит в том, что в его принципиальную схему входит голографическое изображение прицельной марки, которая становится видимой, если голограмму осветить восстанавливающим излучением источника света, входящего в состав прицела. Голографические прицелы позволяют прицеливаться и производить выстрелы при обоих открытых глазах, они, как и оптические электронные прицелы, формируют изображение прицельной точки и выбранного типа прицельной марки.

Из достоинств голографических коллиматорных прицелов можно выделить высокую надежность, невозможность физической блокировки пучка лучей лазерного излучения, восстанавливающего голограмму, работоспособность в условиях повышенных температур и влажности, скрытность функционирования, удобство сопряжения с приборами ночного видения, крепящимися на оружии, либо на шлеме бойца, наличие двадцатиступенчатой настройки степени яркости голографического изображения, а также то, что информация, необходимая для реконструкции изображения прицельной марки записана в каждой частице выходного окна прицела. Из недостатков стоит выделить сложность изготовления голограммных оптических элементов и более высокую стоимость по сравнению с оптическими прицелами.

Целью работы был анализ имеющихся принципиальных оптических схем голографических коллиматорных прицелов, выявление достоинств и недостатков каждой из них; вывод условия ахроматизации для голограммного оптического элемента и дифракционной ахроматизирующей решетки; описание принципиально новой схемы прицела.

В ходе работы было проанализировано пять различных оптических схем голографических коллиматорных прицелов, ни в одном из патентов не было выведено условие ахроматизации, которое является первоочередной задачей при создании оптической схемы голографического прицела, каждая из схем обладает недостатками. Поэтому возникла необходимость создания новой схемы голографического коллиматорного прицела на основе схемы с отражательной дифракционной решеткой, сферическим зеркалом и голографическими оптическими элементами, устранив недостатки прототипа.

Заключение. Таким образом, в работе сделан сравнительный анализ голографических коллиматорных прицелов, выведено условие ахроматизации и представлена новая схема голографического коллиматорного прицела.

УДК 531.7.082.5:535.

ИССЛЕДОВАНИЕ ВОЗМОЖНОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ ДИСТАНЦИИ

ДИФРАКЦИОННЫМ МЕТОДОМ

Научный руководитель – к.т.н., доцент А.Н. Иванов Постановка проблемы. Сегодня требуются малогабаритные, бесконтактные и дешевые измерители с высокой точностью измерения для позиционирования деталей при их обработке и последующей сборке. Используемые сегодня для этих целей энкодеры, триангуляционные измерители, лазерные импульсные и фазовые дальномеры и интерферометры не могут одновременно удовлетворять всем этим требованиям. Анализ измерительных методов показал, что таким требованиям в значительной степени удовлетворяют дифракционные методы контроля, которые требуется модифицировать таким образом, чтобы они стали пригодны для контроля дистанции до объекта.

Цель работы. Разработка абсолютного дифракционного метода измерения расстояния до объекта в диапазоне до 10 м с относительной погрешностью не более 0,01%.

Базовые положения исследования - Критический анализ существующих методов контроля положения объекта.

- Анализ основных погрешностей дифракционных измерителей.

- Создание схемы исключающей влияние ошибки ширины щели.

- Создание математической модели измерителя.

- Проведение эксперимента.

- Анализ возможности использования точек инверсии фазы для построения схем измерения дистанции.

- Построение математической модели метода, использующего совмещение плоскости развернутой щели с линиями инверсии фазы дифракционной картины.

- Сравнение результатов математического моделирования с экспериментальными данными.

- Оценка точностных характеристик метода, анализ возможных методов обработки данных.

Промежуточные результаты. Был произведен обзор и анализ известных дифракционных методов контроля положения объекта. Были выявлены их основные недостатки и предложена схема с подвижной дифракционной маркой (щелью), исключающей влияние ошибки ширины щели.

Точностной анализ данной схемы показал, что основной вклад в погрешность измерения дистанции вносят ошибки определения координат характерных точек (минимумов) регистрируемой дифракционной картины.

Основной результат. Предложен метод регистрации дифракционной картины, уменьшающий ошибку определения ее параметров, суть которого заключается во введении в схему второй щели развернутой относительно первой. Таким образом, на приемнике образуются поперечные интерференционные полосы, погрешность определения периода которых не превышает Т/Т=0,01%. Создана математическая модель, описывающая преобразование световых полей в разработанной схеме, которая хорошо согласуется с результатами практического эксперимента.

Вывод. Исследования показали возможность создания дифракционного измерителя удовлетворяющего сформулированным требованиям, а также перспективы развития данного метода измерения дистанции.

УДК 535.

ОПТОТЕХНИКА АПЛАНАТИЧЕСКОГО МЕНИСКА

Научный руководитель – д.т.н., профессор В.А. Зверев Оптические системы с исправленными сферической аберрацией и комой принято называть апланатическими. В частности это определение применяется и к отдельно взятой поверхности. В зависимости от условия положения предмета и изображения апланатические поверхности делятся на три вида.

Апланатическим мениском будем называть мениск, поверхности которого являются апланатическими поверхностями одного из видов и имеют кривизну одного знака. Мениск, образованный апланатическими поверхностями второго вида, находит применение для компенсации остаточного астигматизма и кривизны поверхности изображения. Мениск, образованный апланатическими поверхностями первого и второго вида, находит применение для компенсации остаточной кривизны и астигматизма изображения.

Как правило, непременным элементом оптических систем осветительных устройств микроскопов и микрообъективов средней и высокой числовой апертуры является апланатический мениск, образованный апланатическими поверхностями второго и первого вида. При этом радиус кривизны первой поверхности равен его переднему и заднему отрезкам.

В образованном апланатическом мениске наблюдаются достаточно большие значения астигматических отрезков, и, как следствие, наличие кривизны поверхности изображения Петцваля. Вполне очевидно исследовать свойства апланатических поверхностей для улучшения качества оптических систем.

В апланатическом мениске возьмем радиус кривизны первой поверхности постоянным, концентричным осевой точки входного зрачка, а радиус кривизны второй поверхности апланатическим. С увеличением толщины мениска, радиус кривизны второй поверхности также будет изменяться.

Исследуем аберрационные свойства мениска с изменением толщины. При увеличении толщины мениска величина астигматизма остается практически неизменной, но заметно уменьшаются значения величины меридиональных и саггитальных отрезков. Таким образом, варьируя толщиной мениска, можно повлиять на Пецвалеву кривизну.

Если взять радиусы кривизны мениска 2–4 мм, соответственно и толщина мениска будет 10 мм, и в таком случае линза приобретает вполне эргономичную форму для применения в практике. Далее, продолжая исследования, можно представить мениск как склейку с разными показателями преломления для исправления хроматических составляющих.

Числовая апертура апланатической поверхности в том случае, когда она разделяет воздух со стеклом, ограничена геометрическими соотношениями. Действительно, угол апертурного луча с осью после преломления не может превышать 90°. Апертурные лучи, идущие под углами большими, чем 90° не пересекают апланатическую поверхность.

На границе раздела двух сред падающий световой поток частично отражается (френелево отражение) и частично проходит из первой среды во вторую. При выбранном значении показателя преломления n = ni можно построить зависимость коэффициента пропускания от угла падения = ( ni, ). В таком случае можно заметить, что при угле падения 90° свет не проходит вообще.

При изменении угла падения s изменяется и величина составляющих коэффициента пропускания прошедшего через границу раздела светового потока, а, следовательно, и возникающая при этом частичная поляризация света. Построив график зависимости поляризации света от угла падения P = P( ni, ) при выбранных значениях показателя преломления, можем увидеть, что при угле 90° свет не проходит полностью, частично отражается, а частично уходит на засветку, с которой необходимо бороться. В этом случае получается, что в проходящем свете нельзя использовать систему апланатического мениска с высокой апертурой.

УДК 535.

ОПТИМИЗАЦИЯ ПАРАМЕТРОВ ОДНОЛИНЗОВОГО ПЛАНАСТИГМАТА

Научный руководитель – д.т.н., профессор В.А. Зверев Еще М.М. Русинов в работе [1], заметил, что уничтожение аберраций третьего порядка само по себе еще не является гарантией равенства нулю или хотя бы малости реальных аберраций. Однако, обращаясь к использованию несферических поверхностей в оптических системах, можно заметить, что замена сферической поверхности несферической поверхностью второго порядка, обладающей тем же самым радиусом кривизны в вершине, что и исходная сферическая поверхность, не вызывала изменения фокусного расстояния оптической системы, а создавала лишь изменения коэффициентов аберраций третьего порядка. При этом профиль поверхности претерпевал изменения, характеризующееся величинами четвертого порядка.

Примером такой системы может быть однолинзовый объектив типа «плананастигмат», посчитанный с одной асферической поверхностью второго порядка, представленный в работе [2].

В равной степени представляется возможным производить изменения профиля несферической поверхности более высокого порядка, сохраняя неизменными величины коэффициентов аберраций третьего порядка. Такие изменения профиля поверхности влияют лишь на аберрации высших порядков, позволяя их изменять по нашему усмотрению, в том числе приравнивать их нулю. Это позволяет уничтожать остаточные аберрации высших порядков за счет введения деформации сферических поверхностей высшего порядка, что приводит к весьма незначительным отступлениям от сфер на самом краю поверхности к так называемой «асферизации» поверхностей.

Таким образом, основной целью работы была разработка методики расчета коэффициентов высшего порядка для введения в оптическую систему несферических поверхностей высшего порядка. Проанализировать их влияние на аберрации третьего порядка и на качество оптической системы в целом.

Был рассмотрен пучок лучей, выходящий из осевой точки предмета и проходящий через последнюю сферическую поверхность оптической системы. Если заменить эту сферическую поверхность несферической поверхностью, то можно в общем случае добиться пересечения всех лучей пучка в пространстве изображений с оптической осью в любой заданной точке. Тогда, принимая определенные условия и преобразуя необходимые выражения, приходим к формуле, которая выражает точное параметрическое уравнение несферической поверхности.

Далее аналогичным способом можно посчитать две несферические поверхности в оптической системе, позволяющими не только получить осевой астигматизм изображении точки, но и обеспечить условие синусов.

Русинов М.М. Несферические поверхности в оптике. Расчет, изготовление и контроль. – Изд.: Либроком, 2010. – 296 с.

Анитропов Р.В., Васильев В.Н., Зверев В.А., Лившиц И.Л., Сергеев М.Б., Unchung Cho.

Упрощение оптической схемы приемного объектива в цифровых камерах за счет аппаратной и программной компенсации его аберраций // Информационно-управляющие системы – 2011. – № 1(50). – С. 57–61.

УДК 681.7.

МОДЕЛИРОВАНИЕ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКОЙ УСТАНОВКИ ДЛЯ ЗАПИСИ

ВОЛОКОННЫХ БРЭГГОВСКИХ РЕШЕТОК

К.А. Коннов, А.И. Грибаев, С.В. Варжель, А.В. Куликов, Н.К. Кулаченков Научный руководитель – д.т.н., профессор И.К. Мешковский Краткое вступление, постановка проблемы. Распределенные по длине световодов решетки Брэгга позволяют создавать измерительные системы, выгодно отличающиеся от традиционных комплексов аналогичного назначения стоимостью и технологичностью производства. Успешное создание таких массивов волоконных брэгговских решеток (ВБР) может быть реализовано только при записи решеток непосредственно в процессе вытяжки оптического волокна (ОВ).

Используемая, в настоящее время, схема записи ВБР методом фазовой маски (ФМ), представленная в работе [1], хотя и является наиболее простой для реализации, не требует высокоточной юстировки элементов, как в интерферометрических схемах или прицезионной трансляции ОВ относительно сфокусированного лазерного пучка как в случае пошагового метода записи решеток, однако не позволяет перестраивать длину волны брэгговского резонанса решетки без смены ФМ. Наряду с этим, использование данной схемы предполагает необходимость контакта ФМ и ОВ, что препятствует использованию данного метода при записи массивов решеток в процессе вытяжки волоконных световодов.

При записи ВБР на установке, реализованной на основе интерферометра Тальбота, исключаются вышеупомянутые недостатки. Изменение периода решетки производится путем поворота зеркал, сводящих интерферирующие пучки под соответствующим углом, а за счет отсутствия в данной схеме оптических элементов вблизи волокна появляется возможность ее установки на башне для вытяжки ОВ. Ввиду преимуществ интерферометрического метода записи ВБР, следует провести испытания данной схемы для ее дальнейшего использования при создании массивов решеток в процессе вытяжки ОВ.

Предварительно необходимо создать трехмерную модель интерферометрической установки записи ВБР, провести расчет ее параметров и подбор необходимого оборудования.

Цель работы. Произвести подбор необходимого оборудования и расчет взаимного расположения элементов установки. Создание трехмерной модели интерферометрической схемы записи ВБР из коммерчески доступных компонентов.

Базовые положения исследования. Моделирование интерферометрической схемы записи ВБР.

Промежуточные результаты. Произведен подбор необходимого коммерчески доступного оборудования для создаваемой схемы. Рассчитаны основные параметры лабораторной установки.

Основной результат. В ходе работы была создана трехмерная модель интерферометрической схемы записи ВБР.

Литература Варжель С.В., Куликов А.В., Стригалев В.Е., Мешковский И.К. Запись брэгговских решеток в двулучепреломляющем оптическом волокне одиночным 20-нс импульсом эксимерного лазера // Оптический журнал. – 2012. – Т. 79. – № 4. – С. 85–88.

УДК 621.535.

АНТИБЛИКОВЫЕ ПОКРЫТИЯ НА МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЯХ

Научный руководитель – д.т.н., профессор Л.А. Губанова При современной тенденции перехода к интегральным оптическим устройствам особое значение приобретает выяснение слабо изученных явлений в тонкослойных структурах.

Задачи, касающиеся уменьшения коэффициента отражения от металлических поверхностей, ранее были мало изучены, отдавались предпочтения ставшими «классическими» методами, например, методу нанесения четвертьволновых диэлектрических слоев. Развитие новых технологий, разработка более сложных конструкций, появление более точных методов контроля оптических характеристик позволили создавать очень тонкие слои, которые смогут вносить свой вклад в выходные характеристики будущих многослойных покрытий.

Металлодиэлектрические системы могут использоваться в качестве пропускающих и отражающих фильтров, защитного покрытия для оптических волноводов от различных помех и «ложных сигналов», покрытий, повышающих эффективность солнечных батарей и преобразователей.

Основной целью работы было снижение коэффициента отражения на границе раздела двух сред – металл-воздух. Чтобы прийти к решению, необходимо было выбрать, учитывая особенности, структуру антибликовых покрытий (т.е. материалы слоев, их толщины, количество и чередование слоев), а также проанализировать спектральные характеристики коэффициента отражения рассчитанных антибликовых покрытий.

В работе были рассмотрены два способа поиска минимального коэффициента отражения на поверхности различных металлов – это аналитический и графический способ.

Аналитический способ подразумевает поиск зависимости оптических постоянных металлов от параметров антибликового покрытия. Таким образом, рассматривались основные конструкции покрытий на металлической подложке: металл/диэлектрик;

диэлектрик/металл/диэлектрик; многократно повторяющаяся ячейка диэлектрик/металл/диэлектрик. Расчет производился с помощью матричного метода расчета интерференционных покрытий.

Сложности с аналитическим способом, который предполагает нахождение условий создания минимального коэффициента отражения от металлической поверхности, связаны с дисперсией показателя преломления металла. Уравнения, которые необходимо решить, содержат большое количество неизвестных, тригонометрических, мнимых или в большой степени значений. Можно подобрать по некоторым условиям определенные толщины слоев, применить диэлектрики с высокими и низкими показателями преломления, распространенные металлы, т.е. попробовать графическим способом решить поставленную задачу. Были рассмотрены различные покрытия, содержащие диэлектрики оксид гафния, оксид циркония, оксид алюминия, кварц; металлы (алюминий, титан, никель, хром), нанесенные на различные металлы (алюминий, никель, титан, хром) в вариантах покрытий из двух одинаковых диэлектриков и металла между ними и двух разных диэлектриков и металла между ними. Подобные трехслойные покрытия разделяются без изменения общей геометрической толщины на разное количество подсистем (наиболее результативное количество L=15). Для алюминия наиболее эффективным антибликовым покрытием является многократно повторяющаяся ячейка из (HfO2/Cr/HfO2)15, для титана лучшим оказалось покрытие (ZrO2/Ti/Al2O3)15, для никеля – (HfO2/Cr/HfO2)15, для хрома – (ZrO2/Cr/ZrO2)15. В среднем покрытие из оксида гафния/хрома/оксида гафния на алюминиевой подложке обеспечивает коэффициент отражения в области длин волн 300–1000 нм 14,9%; покрытие из оксида циркония/титана/оксида алюминия на титановой подложке обеспечивает коэффициент отражения в области длин волн 300–1000 нм 12,3%; покрытие из оксида гафния/хрома/оксида гафния на никелевой подложке обеспечивает коэффициент отражения в области длин волн 300–1000 нм 14,2%; покрытие из оксида циркония/хрома/оксида циркония на хромовой подложке обеспечивает коэффициент отражения в области длин волн 300– 1000 нм 14,95%.

При выполнении работы были разработаны структуры интерференционных покрытий, обеспечивающих снижение коэффициента отражения в интервале длин волн 300–1000 нм:

- для алюминия в 6,06 раз;

- для титана в 3,68 раз;

- для никеля в 3,89 раз;

- для хрома в 3,54 раз.

Выполненная работа представляет ценность с точки зрения энергосбережения и может быть использована при изготовлении элементов солнечных батарей и систем, обеспечивающих нагрев воды с использованием солнечной энергии.

Литература Хасс Г., Франкомб М., Гофман Р. Физика тонких пленок. – М: Мир, 1978. – 359 с.

Путилин Э.С. Оптические покрытия. – СПб: СПбГУ ИТМО, 2010. – 227 с.

УДК 771.36:612.

ПРИМЕНЕНИЕ ЖИДКИХ КРИСТАЛЛОВ ДЛЯ ЭКСПРЕССНОГО

ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГРУППЫ КРОВИ

(Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных д.т.н., профессор М.Г. Томилин (Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий механики и оптики), И.В. Исакова (Бюро судебно-медицинской экспертизы Санкт-Петербурга) Определение принадлежности образца крови к одной из четырех групп является стандартной операцией в современной медицине. Методы, применяемые на практике при производстве судебно-биологических экспертиз вещественных доказательств, отличаются трудоемкостью и протяженностью во времени, а их использование в практике судебномедицинской экспертизы бывает осложнено малым количеством исходного вещества.

Существующие методы основаны на иммунологических реакциях с различными сыворотками и реагентами. Изготовление сывороток требует обязательного лицензирования и является дорогостоящим процессом с использованием сложного оборудования. Подготовка образцов трудоемка и требует длительного времени.

Целью работы была адаптация и применение метода визуализации структуры с помощью жидких кристаллов (ЖК) для экспрессного определения группы крови.

Наибольшей чувствительностью к воздействию внешних полей обладают нематические жидкие кристаллы (НЖК), не имеющие, в отличие от холестерических (закрученных) и смектических (слоистых) ЖК, надмолекулярной структуры. Деформации слоя НЖК под воздействием физических полей на поверхности объекта могут происходить локально и протекать в реальном времени. Предпосылкой для визуализации распределения полей на поверхности объектов является исходная упорядоченность молекул НЖК, которая может быть локально нарушена полями поверхности или дефектами структуры, деформирующими слой. Возникшие деформации регистрируются в поляризованном свете на просвет или отражение. Идея применения слоев НЖК в поляризационной микроскопии состоит в том, что при их деформации они выполняют функцию оптической реплики с большой величиной оптической анизотропии, осуществляющей фазовую задержку проходящего света.

В результате работы была экспериментально подтверждена возможность применения метода для определения групп крови. В сравнении с существующими методами, предложенный метод визуализации структуры с помощью ЖК обладает рядом преимуществ:

является экспрессным, более экономичным и требует меньшего количества исходного вещества. Перспектива развития метода состоит в использовании методов оптической обработки изображений получаемых структур для повышения достоверности результатов.

УДК 681.784.

РАЗРАБОТКА ОПТИЧЕСКОЙ СХЕМЫ АВТОРЕФРАКТОМЕТРА

А.Ю. Курасов (Сибирская государственная геодезическая академия) Научный руководитель – д.т.н., профессор Т.Н. Хацевич (Сибирская государственная геодезическая академия) На протяжении последних веков среднестатистический человек испытывает все более усиливающуюся нагрузку на зрение, потоки информации растут с каждым годом. Кроме того, современная экологическая обстановка, питание, стиль жизни и прочие факторы подобного рода неблагоприятно влияют как на здоровье человека в целом, так и на глазной аппарат в частности. Естественным следствием этих процессов становится все увеличивающийся процент людей, имеющих приобретенные проблемы со зрением, требующих их коррекции. С другой стороны, все большее количество людей в качестве средств повышения остроты зрения предпочитают выбирать контактную коррекцию или же лазерную эксимер-операцию.

Вышесказанное объясняет возросшую потребность современной медицины и оптометрии в приборах, предназначенных для объективного измерения параметров глаза, в частности, аметропии, объективное измерение которой в настоящее время производится авторефрактометрами.

В нашей стране можно выделить две основные проблемы, связанные с данной группой приборов:

1. отсутствие моделей отечественной разработки и производства. Все имеющиеся в настоящий момент на территории нашей страны авторефрактометры импортного изготовления;

2. высокая цена авторефрактометров, не позволяющая в пределах нынешнего российского финансирования области здравоохранения массово оснащать офтальмологические кабинеты приборами данной ценовой категории [1].

На основании вышесказанного можно сделать прогнозное предположение, что разработка отечественных моделей авторефрактометров и налаживание их производства позволит не только сделать несколько шагов в развитии отечественного медицинского оптического приборостроения, но и снизить цену на них [2]. На основании этого предположения в рамках дипломного проектирования был начат процесс разработки авторефрактометра.

авторефрактометров были выделены значения пределов измерения основных характеристик:

сферическая рефракция в большинстве моделей измеряется в диапазоне от минус 20 до 25 дптр, а цилиндрическая рефракция – в диапазоне ±7 дптр.

Поскольку характеристики всех современных приборов являются коммерческой тайной фирм-производителей, то какая-либо технически достоверная информация об устройстве современных авторефрактометров в открытых источниках отсутствует. Потому принципиальная схема построения авторефрактометра была разработана с чистого листа, проведен ее габаритный, аберрационный и точностной расчеты.

В процессе точностного расчета было выяснено, что наиболее значимая частичная погрешность измерения аметропии вызывается погрешностью размещения испытуемого глаза относительно номинального положения. В рамках разрабатываемой оптической схемы данную погрешность предполагалось нивелировать за счет увеличения числа измерений. При дальнейшей работе над оптической схемой предполагается ее модернизация с целью достижения требуемой точности при единичном измерении аметропии.

По результатам разработки оптической схемы был выполнен оптический выпуск и комплект оптических чертежей. Оптическая схема разработанного авторефрактометра позволяет проводить объективное измерение сферической рефракции в диапазоне от минус 25 до плюс 20 дптр, цилиндрической рефракции – в диапазоне ±7 дптр. Погрешность измерения в диапазоне от 0 до ±15 дптр не превышает ±0,25 дптр, а в диапазоне свыше ±15 дптр – не превышает ±0,5 дптр.

Литература Мирошников М.М. Судьбы оптики и государственного оптического института (ГОИ) в России // Оптический журнал. – 2012. – №5 (79). – С. 77–91.

Курасов А.Ю. Объективные методы измерения аметропии глаза: краткий обзор и перспективы // LX студенческая научная конференция. Сборник тезисов докладов. – Новосибирск: СГГА. – 2012. – в печати.

УДК 681.4.

К РАЗРАБОТКЕ МЕТОДИКИ СТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА КОНСТРУКЦИЙ

ЛИНЗОВО-ЗЕРКАЛЬНЫХ СИСТЕМ ОПТИЧЕСКИХ ПРИБОРОВ

Одной из типовых задач юстировки оптических приборов (ОП), вызывающих, пожалуй, наибольшие трудности, является задача центрирования линзовых компонентов оптической системы, разделенных плоскими зеркалами или призмами, выполняющими в ней компоновочные функции. Причина этого заключаются в том, что линзовые компоненты в данном случае лишаются преимуществ базирования, какие дает так называемая «насыпная»

конструкция, легко обеспечивающая их надлежащее центрирование.

В рассматриваемом случае базирование компонентов оптической системы с точки зрения их центрирования характеризуется неопределенностью, выражаемой уравнениями размерных цепей со многими неизвестными, как, например, показано в работе [1].

Достижение центрированности оптической системы требует устранения неопределенности базирования ее компонентов. Этого добиваются целым комплексом мер, предпринимаемых еще на этапе конструирования прибора: заданием необходимых баз деталей и сборочных единиц (в том числе оптических); установлением требуемых допусков на размеры, форму и взаимное расположение базовых поверхностей, определяющих центрирование схемных элементов, наконец, предусмотрением компенсации в виде юстировочных подвижек или пригонок. При этом конструкция должна быть адаптирована к намечаемой методике юстировки с ее средствами контроля.

Выполнение перечисленного комплекса аналитических работ при отсутствии общей методики решения задач, возникающих при юстировке ОП, даже для опытных конструкторов и технологов представляет собой задачу весьма непростую [2]. Для решения нетривиальных задач проектирования и юстировки узлов ОП, содержащих плоские зеркала и призмы, разделяющие линзовые компоненты оптической системы, необходима методика структурного анализа линзово-зеркальных систем (ЛЗС). В задачи такой методики входило бы:

- установление баз и требований взаимного расположения базовых поверхностей (баз), определяющих центрирование схемных элементов оптической системы, а также выполнение требований внешнего базирования конструкции юстируемого узла, вытекающих из условий связи данного узла с другими узлами изделия;

- выявление отсутствия требуемых юстировочных подвижек у центрируемых линзовых компонентов, а также зеркал (или призм);

- определение последовательности операций юстировки.

При этом методика структурного анализа должна отвечать следующим требованиям:

1. учитывать виды относительных движений (подвижек) линзовых компонентов, а также юстировочные подвижки зеркал (или призм);

2. учитывать свойства зеркально-призменных систем (ЗПС), их инвариантность и действенные подвижки;

3. выявлять как недостающие, так и избыточные подвижки схемных элементов;

4. учитывать характер базирования линзовых компонентов и ЗПС;

5. учитывать требования внешнего базирования сборочных единиц (СЕ) – межузловые связи.

Методика структурного анализа разрабатывается на основе следующих положений.

1. Каждый центрируемый компонент оптической системы рассматривается как твердое тело, обладающее шестью степенями свободы перемещения относительно неподвижного корпуса (базовой детали), если на эти перемещения не наложены ограничения.

2. Разъюстировка центрируемого линзового компонента рассматривается как совокупность малых отклонений – сдвигов и наклонов его вдоль и вокруг осей прямоугольной системы координат XYZ, связанной с базовым компонентом системы или базовыми элементами конструкции. В общем случае разъюстировка характеризуется шестью составляющими:

сдвигами – DC, DU, DZ и наклонами – jC, jU, jZ.

3. Взаимную деюстировку двух линзовых компонентов системы, разделенных ЗПС, рассматривают при выпрямленном ходе лучей. Для этого один из компонентов системы выбирают в качестве базового и связывают с ним систему координатных осей XYZ, а другой компонент изображают в ЗПС (в прямом или обратном ходе лучей) и оценивают составляющие деюстировки DC, DU, DZ, jC, jU, jZ, вызванные не только погрешностями базирования этого линзового компонента, но и погрешностями установки ЗПС, изображающей этот компонент.

4. Юстировочные подвижки зеркал и призм рассматривают в системе координатных осей, связанных с плоскостью базирования этих узлов. Если же для юстировки зеркал конструкцией предусмотрены регулировочные устройства, то подвижки таких зеркал рассматривают в основной системе координатных осей Х0Y0Z0, ось Z0 которой направлена по нормали к отражающей плоскости зеркала, а ось X0 – перпендикулярно плоскости падения осевого луча.

Для решения основных задач структурного анализа – установления баз и требований взаимного расположения базирующих поверхностей, а также определения юстировочных подвижек – нужно, прежде всего, установить общее число подвижек центрируемых линзовых компонентов и ЗПС, а также соответствие их устраняемым погрешностям юстировки. Это удобно сделать с помощью специально разработанной структурной таблицы. Состоит таблица из четырех частей. В первой ее части приводится схема и структурные параметры анализируемой конструкции. В последней же части таблицы приводится оптимальная последовательность устранения всех составляющих деюстировки оптических элементов.

Полное описание таблицы и ее вид были представлены в докладе. Структурный анализ с помощью такой таблицы становится понятным и доступным в процессе решения конкретных примеров. Один из таких примеров был приведен в докладе.

Таким образом, были разработаны основные положения методики структурного анализа конструкций ЛЗС оптических приборов, призванной облегчить и упростить разработку, как самой конструкции, так и методики юстировки типового узла ОП.

Литература Бурбаев А.М. Отработка технологичности конструкций оптических приборов. Учебное пособие. – СПб: СПбГУ ИТМО, 2004. – 95 с.

Погарев Г.В. Юстировка оптических приборов. – Л.: Машиностроение, 1982. – 237 с.

УДК 007, 535.

О ВОЗМОЖНОЙ СВЯЗИ ХАРАКТЕРИСТИК ЭЛЕМЕНТОВ ОПТИЧЕСКОЙ

НЕЙРОННОЙ СЕТИ С ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНЫМИ СВОЙСТВАМИ СИСТЕМЫ

ПРИ ФОРМИРОВАНИИ ПОНЯТИЙ

Научный руководитель – к.т.н., ст.н.с., доцент А.В. Павлов Голографическая парадигма – одно из направлений в искусственном интеллекте, акцентирующее внимание на образной форме мышления. В рамках данной парадигмы в работе [1] предложен подход к реализации индуктивного вывода. Индуктивный вывод играет ключевую роль в научном познании как метод расширения теории и формирования понятий.

Подход [1] основан на использовании схемы голографии Фурье (ГФ), как двухслойной нейронной сети с двунаправленными связями. Информация системе представляется изображениями – аналогами паттернов внутренней репрезентации (ПВР). Образ – ПВР, имеющий преимущественно сенсорное происхождение, понятие – ПВР, сформированный нейронной сетью на основе обработки образов сенсорной природы.

В рамках подхода схема ГФ при реализации индуктивного вывода рассмотрена как открытая кольцевая автоколебательная система. В работах [2, 3], показано, что в системе конкурируют два фактора: дифракция на голограмме и нелинейное обращение волнового фронта в корреляционной плоскости как нелинейное итерирующее отображение (НИО).



Pages:     || 2 | 3 | 4 | 5 |   ...   | 7 |


Похожие работы:

«МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования АЛТАЙСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ УТВЕРЖДАЮ Директор МИЭМИС _(_) _ 20_ г. РАБОЧАЯ ПРОГРАММА УЧЕБНОЙ ДИСЦИПЛИНЫ ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ СОЗДАНИЯ ИНФОРМАЦИОННОГО ОБЩЕСТВА Уровень основной образовательной программы: Бакалавриат Направление(я) подготовки (специальность), код 230700 Прикладная информатика Профиль (и) Прикладная информатика в экономике Курс, семестр:...»

«Пояснительная записка Программа выполняет две основные функции: информационно-методическую и организационно-планирующую. На основании примерных программ Минобразования РФ, содержащих требования к минимальному объему содержания учебного материала по биологии в 9 классах, в нем реализуется базисный уровень. В ней сохранены все разделы и темы, изучаемые в средней общеобразовательной школе, однако содержание каждого блока упрощено в соответствии с возрастными особенностями учащихся и с учётом...»

«ТАВРИЧЕСКИЙ НАЦИОНАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ имени В.И. ВЕРНАДСКОГО Утверждаю Председатель Приемной комиссии Н.В. Багров 2014 году ПРОГРАММА ВСТУПИТЕЛЬНОГО ЭКЗАМЕНА для получения образовательно квалификационного уровня бакалавр по направлению подготовки химия Утверждено приемной комиссией Таврического национального университета (протокол № 3 от 14 апреля 2014 года) Симферополь в 2014 г. 1. ОБЩАЯ ХИМИЯ Основные химические понятия. Вещество. Знать понятия: вещество, физическое тело, материал, простое...»

«Конспект учебного занятия с использованием ЦОР Город: Магнитогорск ОУ: МОУ СОШ № 66 Учитель: Королева Дания Гибадрахмановна Класс: 6 Тема учебного занятия : Вышивка крестиком. Продолжительность учебного занятия: 90 мин. Тип учебного занятия: комбинированный Цели учебного занятия: 1.Образовательные: · Дать представления о видах вышивки · Научить учащихся выполнять вышивку простым крестом. 2. Развивающие: · Развивать внимание, память, творческие способности учащихся. · Расширять кругозор,...»

«МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования Северный (Арктический) федеральный университет имени М.В. Ломоносова УТВЕРЖДАЮ Первый проректор по учебной работе Л.Н. Шестаков 17 июня 2012 г. Основная образовательная программа высшего профессионального образования Направление подготовки 250100.68 Лесное дело Магистерская программа: Лесоустройство и мониторинг лесов Квалификация...»

«МИНОБРНАУКИ РОССИИ ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ ВОРОНЕЖСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ (ФГБОУ ВПО ВГУ) УТВЕРЖДАЮ Заведующий кафедрой Финансового права (Сенцова М. В.) 02.09.2013 г. РАБОЧАЯ ПРОГРАММА УЧЕБНОЙ ДИСЦИПЛИНЫ Б2.В.ДВ.2.2 ПРАВОВОЕ РЕГУЛИРОВАНИЕ НАЛОГОВОЙ ОТЧЕТНОСТИ 1. Шифр и наименование направления подготовки/специальности: 030900 Юриспруденция 2. Профиль подготовки/специализации: государственное право 3....»

«муниципальное автономное общеобразовательное учреждение Средняя общеобразовательная школа №1 Рассмотрена и рекомендован а УТВЕРЖДЕНА к утверждению на заседании приказом директора школы педагогического совета № 115- О/Д от 16.09.2013 протокол № 1 от 30.08.2013 г. И. П. Казначеева. Основная образовательная программа основного и среднего общего образования МАОУ СОШ № 1 на 2013—2014 учебный год муниципальное автономное общеобразовательное учреждение Средняя общеобразовательная школа №1 Содержание...»

«МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ ФГБОУ ВПО Ульяновская государственная сельскохозяйственная академия им. П.А. Столыпина РАБОЧАЯ ПРОГРАММА ДИСЦИПЛИНЫ ФИЗИКА (наименование дисциплины (модуля) Специальность: 120701 Землеустройство, 110809 Механизация сельского хозяйства, 111801 Ветеринария, 100119 Флористика Уровень подготовки - базовый уровень (бакалавр, магистр, дипломированный специалист) Форма обучения _очная_ (очная, очно-заочная, и др.) г. Ульяновск СОДЕРЖАНИЕ 1. Паспорт...»

«Концепция Самострахование, как механизм достижения общих целей граждан РФ и государства 1. Общие цели Для граждан РФ: достичь долголетия, социального благополучия, обеспечить детям становление их Личностей. Для государства: сформировать человеческий капитал – мощный ресурс развития, повышения производительности труда, сплоченности народов РФ на базе единой цели, единого научного Миропонимания. 2. Механизмы достижения целей 2.1. Граждане обеспечивают долголетие своей жизни пониманием: – что...»

«Полибина Ксения Евгеньевна АРХИТЕКТУРНЫЕ И ИНЖЕНЕРНО-КОНСТРУКТИВНЫЕ АСПЕКТЫ МУЗЕЕФИКАЦИИ ПАМЯТНИКОВ ИСТОРИКО-КУЛЬТУРНОГО НАСЛЕДИЯ Направление 27300.68 – Архитектура, магистерская программа Форма и конструкции в архитектуре Автореферат диссертации на соискание академической степени магистра архитектуры Ростов-на-Дону 2011 Работа выполнена на кафедре истории архитектуры и архитектурной реставрации в...»

«МИНИСТЕРСТВО СЕЛЬСКОГО ХОЗЯЙСТВА РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ ФГОУ ВПО УЛЬЯНОВСКАЯ ГОСУДАРСТВЕННАЯ СЕЛЬСКОХОЗЯЙСТВЕННАЯ АКАДЕМИЯ АГРОНОМИЧЕСКИЙ ФАКУЛЬТЕТ Кафедра растениеводства РАБОЧАЯ ПРОГРАММА ПО ДИСЦИПЛИНЕ “ Технология производства продукции растениеводства” по специальности 080502 – Экономика и управление на предприятии АПК (ССО) Ульяновск – 2008 МИНИСТЕРСТВО СЕЛЬСКОГО ХОЗЯЙСТВА РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ ФГОУ ВПО УЛЬЯНОВСКАЯ ГОСУДАРСТВЕННАЯ СЕЛЬСКОХОЗЯЙСТВЕННАЯ АКАДЕМИЯ АГРОНОМИЧЕСКИЙ ФАКУЛЬТЕТ Кафедра...»

«УПРАВЛЕНЧЕСКОЕ ДОКУМЕНТОВЕДЕНИЕ Программу составили: д р пед. наук, проф. Юрий Николаевич Столяров, Людмила Николаевна Зайцева Требования к обязательному минимуму содержания дисциплины Код по Название курса и дидактическое Трудоёмкость ГОС содержание по ГОС ВПО ВПО ОПД. 28 часов Управленческое документоведение В.02 Дидактическое содержание: документаци онное обеспечение управления [логичес кое продолжение общепрофессиональной дисциплины Документология] Докумен тивная деятельность....»

«Утверждена Приказом Министерства образования и науки Российской Федерации от 3 сентября 2009 г. N 323 (в ред. Приказа Минобрнауки РФ от 07.06.2010 N 588) СПРАВКА о наличии учебной, учебно-методической литературы и иных библиотечно-информационных ресурсов и средств обеспечения образовательного процесса, необходимых для реализации заявленных к лицензированию образовательных программ Раздел 2. Обеспечение образовательного процесса учебной и учебно-методической литературой по заявленным к...»

«Министерство сельского хозяйства Российской Федерации Федеральное государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Кубанский государственный аграрный университет РАБОЧАЯ ПРОГРАММА по дисциплине С3.В.ДВ.2 Офтальмология (индекс и наименование дисциплины) Специальность 111801.65 Ветеринария Квалификация (степень) выпускника Ветеринарный врач Факультет Ветеринарной медицины Кафедра-разработчик Кафедра анатомии, ветеринарного акушерства и хирургии Ведущий Ст....»

«Draft for Discussion Only Туркменистан Национальная Рамочная Программа подготовлена Рабочей группой КБО ООН Туркменистана 30 декабря 2005 Сокращения и аббревиатуры ССК Совет сельскохозяйственного комплекса АБР Азиатский Банк Развития ЦАС Центрально-азиатские страны CEP Каспийская экологическая программа КДВ коллекторно-дренажные воды CIDA Канадское Агентство Международного Развития СНГ Содружество Независимых Государств КРОЗ комплексная реконструкция орошаемых земель ФАО Организация ООН по...»

«МИНИСТЕРСТВО СЕЛЬСКОГО ХОЗЯЙСТВА РФ ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ ОРЛОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ АГРАРНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ УТВЕРЖДАЮ Проректор по УР _2011 г. Рабочая программа дисциплины (модуля) Агрохимия Направление подготовки Агроэкология Профиль подготовки — 110102 Агроэкология Квалификация (степень) бакалавр Форма обучения очная Орел 2011 год Составитель Наконечный А.Г., канд.с.-х.н, ст преподаватель кафедры земледелия 15 июня 2011г....»

«Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук (КНЦ СО РАН) Кафедра иностранных языков УТВЕРЖДАЮ Зам. председателя КНЦ СО РАН д-р тех. наук, проф. Москвичев В.В. 2012 г. Утверждена на заседании Президиума КНЦ СО РАН 25.01.2012г., Протокол №1. ПРОГРАММА ВСТУПИТЕЛЬНОГО ЭКЗАМЕНА В АСПИРАНТУРУ ПО ИНОСТРАННОМУ ЯЗЫКУ для поступающих в аспирантуру по специальностям: 01.04.01 (приборы и методы экспериментальной физики);...»

«1 СОДЕРЖАНИЕ 1. Общие положения 1.1. Основная образовательная программа (ООП) магистратуры (магистерская программа) 1.2. Нормативные документы для разработки магистерской программы 1.3. Общая характеристика магистерской программы 1.4 Требования к уровню подготовки, необходимому для освоения магистерской программы 2. Характеристика профессиональной деятельности выпускника магистерской программы 2.1. Область профессиональной деятельности выпускника 2.2. Объекты профессиональной деятельности...»

«Зарегистрировано в Минюсте России 28 января 2014 г. N 31137 МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ ПРИКАЗ от 19 ноября 2013 г. N 1259 ОБ УТВЕРЖДЕНИИ ПОРЯДКА ОРГАНИЗАЦИИ И ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЙ ДЕЯТЕЛЬНОСТИ ПО ОБРАЗОВАТЕЛЬНЫМ ПРОГРАММАМ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ ПРОГРАММАМ ПОДГОТОВКИ НАУЧНО-ПЕДАГОГИЧЕСКИХ КАДРОВ В АСПИРАНТУРЕ (АДЪЮНКТУРЕ) В соответствии с частью 11 статьи 13 Федерального закона от 29 декабря 2012 г. N 273-ФЗ Об образовании в Российской Федерации (Собрание...»

«БЕЛОРУССКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ УТВЕРЖДАЮ 4 Ректор БГУ / еико 13 г Учебная программа вступительного экзамена в магистратуру для специальности 1-31 80 03 Математика 2013 2 СОСТАВИТЕЛИ: В.Г. Кротов, зав. кафедрой теории функций, доктор физ.-мат. наук, профессор; Я.В. Радьшо, зав, кафедрой функционального анализа, доктор физ.-мат. наук, профессор, член-корреспондент НА}{ Беларуси; В.И. Громак, зав. кафедрой дифференциальных уравнений и системного анализа, доктор физ.-мат. наук, профессор;...»






 
2014 www.av.disus.ru - «Бесплатная электронная библиотека - Авторефераты, Диссертации, Монографии, Программы»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.